HNWDL-8000溫升三相大電流發(fā)生器 青島華能專業(yè)定制 斷路器溫升測試儀 原理用途

又稱：大電流溫升試驗設備，大電流溫升試驗系統(tǒng)，大電流溫升試驗裝置

功能簡介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發(fā)生器主要用于母線槽，開關，開關柜和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。

功能特點：

1）內(nèi)置高配置工控機，采用可編程控制器西門子S730PLC作為中心處理器，對交流信號進行實時掃描,實現(xiàn)監(jiān)測和閉環(huán)控制，并設計設置管理，只有獲得相應操作權限的人員，才能進行某些功能的操作。光纖直流傳感器大部分都是應用于大電流低電壓的工作場合，直流電流測量中使用的光纖電流傳感器分為無源型和有源型，前者多基于法拉第磁光效應，其本身的光學系統(tǒng)隨環(huán)境因素而變，影響整個系統(tǒng)精度和穩(wěn)定性；后者采用傳統(tǒng)的傳感原理測量電流，光纖在高、低壓側間傳輸信號，系統(tǒng)結構相對簡單，可靠性高。目前，我國直流輸電發(fā)展很快，母線上使用的直流電流傳感器均為有源型霍爾電流傳感器。直流光纖電流傳感器主要應用在有色金屬、一部分的化工等的工業(yè)化生產(chǎn)過程中，其次是高速鐵路及地鐵、艦船等方面也有大量的應用。

2）進口PC機15英寸真彩大液晶觸摸工業(yè)平板電腦操作，采用支持現(xiàn)場總線技術的智能型傳感器，實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳送的全數(shù)字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界面清晰直觀，操作簡單方便。測試無需外接任何輔助設備，全自動控制，式操作，快捷、簡單、方便

3）本儀器測試方法有全自動測試與手動測試兩種方法，只需設置簡單的試驗電流與時間即可。帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng)，配有4個USB口，輕松U盤、打印機等多種設備。并以通過鼠標接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與后臺計算機連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實現(xiàn)數(shù)據(jù)和溫度曲線打印；為了幫助您更智能地進行測試，LabVIEWNXG現(xiàn)在提供了一些工作流程，可以在正確的時間顯示正確的信息，從而提供更多的背景信息和幫助。以一個常見的任務為例：設置和驗證多個儀器。在LabVIEWNXG中，您可以通過一個統(tǒng)一的視圖，立即發(fā)現(xiàn)、可視化、配置和記錄儀器。如果機器上尚未安裝相應的驅(qū)動程序，LabVIEWNXG將為您提供引導，使您在不離開軟件環(huán)境的情況下查找并安裝驅(qū)動程序。安裝完驅(qū)動程序后，您可以查看文檔、示例和NI軟面板，以驗證您的設置并快速開始次測量。

4）只需設置好目標電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設定測試、電流和步長，省去手動調(diào)壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動，減小勞動強度，提高工作效率也可工作結束后把數(shù)據(jù)讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動報功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護功能。交流調(diào)壓裝置保護應采用微機自動保護控制和機械微動限位開關雙重保護，確保恒流電源正常工作，提高產(chǎn)品的**性、可靠性。

下面我們就來了解一下這兩個電路的基本知識。模擬電路與數(shù)字電路的定義及特點：模擬電路(電子電路)模擬信號處理模擬信號的電子電路。“模擬”二字主要指電壓(或電流)對于真實信號成比例的再現(xiàn)。其主要特點是：函數(shù)的取值為無限多個;當圖像信息和聲音信息改變時，信號的波形也改變，即模擬信號待傳播的信息包含在它的波形之中(信息變化規(guī)律直接反映在模擬信號的幅度、頻率和相位的變化上)。初級模擬電路主要解決兩個大的方面：1放大、2信號源。

主要技術指標：電流值由客戶根據(jù)需要確定

型號		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動柱式調(diào)壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動轉換
	電流	AC  0-8000A連續(xù)可調(diào)   準度：0.5
	穩(wěn)流準度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護	電子電路快速偵測過電壓、過電流、過高溫自動跳脫保護及告裝置 非測試狀態(tài)電壓為零，電流為零

青島華能專業(yè)定制 斷路器溫升測試儀 原理用途使用組合透鏡系統(tǒng)對物體成像，實現(xiàn)加電時液晶透鏡區(qū)域清晰，具有大視場、局部高分辨率的效果。本文通過實驗測量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對于成像質(zhì)量的影響。研究方向：液晶透鏡成像系統(tǒng)測試目的：展示成像系統(tǒng)對于局部區(qū)域的清晰成像效果，測量不同位置、不同光圈下成像系統(tǒng)的MTF，其對于成像質(zhì)量的影響。測試設備:相機、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡系統(tǒng)放大器型號:AigtekATA-242實驗過程：1.實驗室制備液晶透鏡，并通過干涉法獲取波前信息，得到zernike系數(shù)，得到液晶透鏡的性能參數(shù)，以選擇合適的驅(qū)動電壓；組裝成像系統(tǒng)，對不同區(qū)域的物體進行成像實驗；使用ISO12233板對成像系統(tǒng)進行對焦測試，測試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。