HNWDL-8000溫升三相大電流發(fā)生器 青島華能專業(yè)定制 電纜熱循環(huán)裝置 生產(chǎn)廠家

又稱：大電流溫升試驗(yàn)設(shè)備，大電流溫升試驗(yàn)系統(tǒng)，大電流溫升試驗(yàn)裝置

功能簡介：

     HNWDL-10000溫升三相大電流發(fā)生器主要用于母線槽，開關(guān)，開關(guān)柜和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。

功能特點(diǎn)：

1）內(nèi)置高配置工控機(jī)，采用可編程控制器西門子S730PLC作為中心處理器，對(duì)交流信號(hào)進(jìn)行實(shí)時(shí)掃描,實(shí)現(xiàn)監(jiān)測和閉環(huán)控制，并設(shè)計(jì)設(shè)置管理，只有獲得相應(yīng)操作權(quán)限的人員，才能進(jìn)行某些功能的操作。一直以來，工程師關(guān)注的一個(gè)重點(diǎn)就是波形的穩(wěn)定性。然而在對(duì)波形的長時(shí)間監(jiān)控中，突發(fā)的數(shù)據(jù)干擾往往難以捕捉，就成為了許多工程師的心頭之患。本文介紹幾種實(shí)用功能，協(xié)助工程師們快速異常數(shù)據(jù)的位置。查看波形是電子測量儀器常用的一個(gè)功能。為了確保波形是否穩(wěn)定運(yùn)行，工程師們往往需要對(duì)觀測信號(hào)進(jìn)行長時(shí)間的采樣檢測，本文介紹ZDL6示波記錄儀常用的3種波形異常檢測功能，可以通過這3種功能迅速到異常數(shù)據(jù)的發(fā)生位置，大大提高測試效率。

2）進(jìn)口PC機(jī)15英寸真彩大液晶觸摸工業(yè)平板電腦操作，采用支持現(xiàn)場總線技術(shù)的智能型傳感器，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳送的全數(shù)字化，顯示操作單元選用了觸摸式彩色液晶顯示屏，全中文菜單，界面清晰直觀，操作簡單方便。測試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控制，式操作，快捷、簡單、方便

3）本儀器測試方法有全自動(dòng)測試與手動(dòng)測試兩種方法，只需設(shè)置簡單的試驗(yàn)電流與時(shí)間即可。帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng)，配有4個(gè)USB口，輕松U盤、打印機(jī)等多種設(shè)備。并以通過鼠標(biāo)接口直接操作。提供RS232和RS485兩種通訊接口選擇，可與后臺(tái)計(jì)算機(jī)連接，通過RS232接口可以直接與電腦PC機(jī)通訊，可以打印曲線，提供電腦通訊軟件；實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)和溫度曲線打??；Simplelink傳感器控制器是的16位處理單元(CPU)核心，在活動(dòng)模式、待機(jī)模式和啟動(dòng)耗能階段均只消耗極低功率。如圖2所示，該傳感器控制器包括模擬和數(shù)字外圍設(shè)備，它們專為實(shí)現(xiàn)超低功率而進(jìn)行了優(yōu)化。利用這些外圍設(shè)備和2MHz時(shí)鐘模式，使得該控制器非常適合感應(yīng)式測量應(yīng)用，從而實(shí)現(xiàn)超低功率：，基于感應(yīng)式測量原則，可以在100Hz時(shí)達(dá)到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情，請(qǐng)參閱流量表應(yīng)用示例，閱讀“采用CC13x2R無線MCU的單芯片流量表解決方案。

4）只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測試、電流和步長，省去手動(dòng)調(diào)壓、人工記錄、描繪曲線等煩瑣勞動(dòng)，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率也可工作結(jié)束后把數(shù)據(jù)讀到電腦上查看即可。

5）有超過限定值自動(dòng)報(bào)功能具有可靠的過熱、過流、過壓及短路自我保護(hù)功能。交流調(diào)壓裝置保護(hù)應(yīng)采用微機(jī)自動(dòng)保護(hù)控制和機(jī)械微動(dòng)限位開關(guān)雙重保護(hù)，確保恒流電源正常工作，提高產(chǎn)品的**性、可靠性。

Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經(jīng)把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上，用于修復(fù)部分此類問題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控制器。CPU仍然是主要的處理器件，附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見于成本敏感性產(chǎn)品中，但也在低級(jí)任務(wù)中用作小型協(xié)處理器，以減輕主處理器的負(fù)擔(dān)，從而提升效率。另一方面FPGA也正在朝著類似的目標(biāo)前進(jìn)，雖然是從另一個(gè)方向。賽靈思和Altera多年來一直在添加軟硬核處理器以創(chuàng)建片上系統(tǒng)。

主要技術(shù)指標(biāo)：電流值由客戶根據(jù)需要確定

型號(hào)		HNWDL-8000A
大輸出電流		交流單相8000A  3組
電路方式		電動(dòng)柱式調(diào)壓器
交流輸入	相線	3Φ4W +G
	電壓	380V±10%，50Hz±2%三相四線
	輸入電流	834A
輸出	相線	1Φ2W +G
	開路電壓	0-20V自動(dòng)轉(zhuǎn)換
	電流	AC  0-8000A連續(xù)可調(diào)   準(zhǔn)度：0.5
	穩(wěn)流準(zhǔn)度	輸出電流≤±0.2%
	輸出端子	接線端子
	保護(hù)	電子電路快速偵測過電壓、過電流、過高溫自動(dòng)跳脫保護(hù)及告裝置 非測試狀態(tài)電壓為零，電流為零

青島華能專業(yè)定制 電纜熱循環(huán)裝置 生產(chǎn)廠家半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。