半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。
HN380B水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)絕緣電阻測(cè)試儀

水內(nèi)冷絕緣電阻測(cè)試儀HN380 2500v手持式變壓器變比組別測(cè)試儀產(chǎn)品用途
   水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)絕緣電阻測(cè)試儀 于水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)的測(cè)量試驗(yàn)，也可用于試驗(yàn)室或現(xiàn)場(chǎng)做絕緣測(cè)試試驗(yàn)。輸出電流大于75mA。輸出電壓5000V。內(nèi)含微電流測(cè)量系統(tǒng) 、數(shù)字升壓系統(tǒng) 。用一條高壓線和一條信號(hào)線連接試品即可測(cè)量。測(cè)量自動(dòng)進(jìn)行，結(jié)果由大屏幕液晶顯示，并將結(jié)果進(jìn)行存儲(chǔ)。

內(nèi)冷發(fā)電機(jī)絕緣電阻測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù)
    準(zhǔn)確度： ±10%
    測(cè)量范圍：0.1M～200GΩ
    試驗(yàn)電壓：2500V ;5000V  
    短路電流：≧25mA
    測(cè)量時(shí)間：1分鐘～10分鐘（與測(cè)量方式有關(guān)）
    電    源：180～270VAC  ,50Hz/60Hz±1% (市電或發(fā)電機(jī)供電)
    工作環(huán)境：溫度-10～40℃，相對(duì)濕度20～80％磁耦器件可提供5000Vrms/min及6000V/10sec的電壓隔離保護(hù)，多種型號(hào)的磁耦帶有±15KV的ESD保護(hù)。長(zhǎng)壽命。采用芯片級(jí)變壓器技術(shù)傳輸信號(hào)，消除光耦傳輸時(shí)的器件損耗。器件內(nèi)部基本不存在損耗，正常工作條件下至少達(dá)到50年工作壽命。低功耗。磁耦基于芯片級(jí)變壓器傳輸原理，信號(hào)傳輸時(shí)幾乎不存在能量損耗，因此能以極低的功耗實(shí)現(xiàn)高度的數(shù)據(jù)隔離。相同速率下，其功耗僅為光耦的1/10~1/6。電源隔離信號(hào)通道做隔離后，建議電源通道也做隔離，可直接采用帶隔離的DC-DC隔離模塊實(shí)現(xiàn)，如下圖所示。

HN380B水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)絕緣電阻測(cè)試儀于水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)的測(cè)量試驗(yàn)，同時(shí)也可用于試驗(yàn)室或現(xiàn)場(chǎng)做絕緣測(cè)試試驗(yàn)。輸出電流大于45mA。可達(dá)75mA。輸出電壓2500V和5000V兩檔。內(nèi)含高精度微電流測(cè)量系統(tǒng)、數(shù)字升壓系統(tǒng)。只需要用一條高壓線和一條信號(hào)線連接試品即可測(cè)量。測(cè)量自動(dòng)進(jìn)行，結(jié)果由大屏幕液晶顯示，并將結(jié)果進(jìn)行存儲(chǔ)。

一、主要特點(diǎn)

1． 采用32位微控制器控制，全中文操作界面，操作方便。

2． 適用于測(cè)量水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)的絕緣電阻、吸收比（R60s/R15s）和極化指數(shù)（R10min/R1min）的測(cè)試。自動(dòng)計(jì)算吸收比和極化指數(shù)，可自動(dòng)顯示R15s、R60s、R10min、收比（R60s/R15s）和極化指數(shù)（R10min/R1min）,并自動(dòng)儲(chǔ)存15秒、1分鐘、10分鐘的數(shù)據(jù)便于。全天科技大功率直流電子負(fù)載具有恒電流、恒電壓、恒功率、恒電阻、恒阻抗、動(dòng)態(tài)電流、動(dòng)態(tài)電阻、掃頻功能和List工作模式，可回讀出電壓、電流和功率參數(shù)，具有短路測(cè)試功能，具有過(guò)電流、過(guò)功率、過(guò)電壓、過(guò)溫度保護(hù)功能和反接告警功能，可通過(guò)外部仿真輸出接口檢測(cè)當(dāng)前電子負(fù)載的電壓和電流(0~10V)，具有標(biāo)配RS232/RS485/USB的通訊接口及選配LANGPIB的通訊接口，還具有多臺(tái)電子負(fù)載并機(jī)操作的接口。

3． 輸出電流大，短路電流大于45mA。輸出電壓2500V和5000V兩檔，可測(cè)高達(dá)2萬(wàn)兆的絕緣電阻。不需對(duì)水極化電勢(shì)進(jìn)行補(bǔ)償調(diào)節(jié)。（備選）

4． 高壓發(fā)生模塊采用全封閉技術(shù)，內(nèi)部有保護(hù)電阻，**可靠。

5． 抗干擾能力強(qiáng)，能滿足超高壓變電站現(xiàn)場(chǎng)操作。

6． 測(cè)試完畢自動(dòng)放電，并實(shí)時(shí)監(jiān)控放電過(guò)程。

功能及特點(diǎn)二．

 技術(shù)條件及指標(biāo)
1． 電源電壓：AC220 ± 10%
2． 輸出電壓：DC2500V /5000V± 10% 選配項(xiàng)
3． 量 程：0.0000Ω ~ 1000GΩ
4． 環(huán)境溫度：-10℃ ~ +40℃
5． 環(huán)境濕度：≤75%RH控制命令先由工控機(jī)批量發(fā)送到CAN接口卡并本地保存，CAN卡再按照?qǐng)?bào)文順序及配置好的發(fā)送規(guī)則周期性發(fā)送在，這樣可以保證時(shí)間精度在1ms以內(nèi)。USBCAN-8E-U的該功能可以在提供的函數(shù)庫(kù)中直接調(diào)用，如。（時(shí)間是1ms，KVASER數(shù)據(jù)為100us）調(diào)用底層定時(shí)發(fā)送豐富的二次開(kāi)發(fā)支持脫機(jī)發(fā)送是降低測(cè)試成本的重要手段。一般來(lái)說(shuō)，老化測(cè)試總是大規(guī)模、批量型進(jìn)行，這也就意味著一個(gè)老化實(shí)驗(yàn)室要配備足夠量的工控機(jī)。
6． 測(cè)量精度：0Ω ~ 2000MΩ 10%
              2000MΩ ~ 1000GΩ 10%
7． 電壓紋波：測(cè)試電壓紋波含量不大于3%
9． 測(cè)量方式：實(shí)時(shí)測(cè)量，開(kāi)始每秒鐘進(jìn)行一次測(cè)量顯示；自動(dòng)計(jì)算吸收比、極化指數(shù)。
10. 顯示方式：128X64位液晶顯示被測(cè)電阻值、吸收比、極 化指數(shù)。自動(dòng)顯示測(cè)試時(shí)間。
11.．絕緣電阻：儀表本體與交流電源初級(jí)引線之間的絕緣電阻1000MΩ
12. 負(fù)載能力：