按照存儲(chǔ)芯片MicroSD卡供電要求的范圍：2.7V-3.6V；不允許超出此范圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會(huì)有比較大的風(fēng)險(xiǎn)，甚至?xí)?duì)卡片的正常工作帶來(lái)影響。需要考慮的是示波器的設(shè)置，究竟是否需要進(jìn)行20MHZ的帶寬限制？詳細(xì)的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測(cè)試“高頻開(kāi)關(guān)電源”噪聲IPAD剛引出來(lái)的那個(gè)端口可以當(dāng)做電源的源端，而通過(guò)后端的外圍模塊后在末端進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，電源通過(guò)了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應(yīng)該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限制，實(shí)際上是將原本屬于模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進(jìn)行了對(duì)比測(cè)試進(jìn)行驗(yàn)證：步，我先驗(yàn)證IPAD的供電端在工作時(shí)的輸出，如下圖：通過(guò)直接驗(yàn)證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過(guò)測(cè)試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測(cè)量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測(cè)量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問(wèn)題，接下來(lái)，我們直接在通過(guò)整個(gè)模塊后在MicroSD卡的供電腳SDVCC對(duì)電行測(cè)量，如下圖：當(dāng)我們?cè)趫D片上的點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候，發(fā)現(xiàn)在高頻開(kāi)關(guān)電源上有相當(dāng)大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)范要求的范圍，值達(dá)到了3.814V，峰峰值達(dá)854mV；但當(dāng)我們將示波器設(shè)置為20MHZ帶寬的時(shí)候，高頻開(kāi)關(guān)電源變的非常好，完全在供電要求的范圍內(nèi)；正如在本文開(kāi)頭描述的，在本次高頻開(kāi)關(guān)電源測(cè)試過(guò)程中，已經(jīng)不是高頻開(kāi)關(guān)電源紋波測(cè)量，而應(yīng)該是噪聲。
HN7030A變壓器絕緣油介質(zhì)損耗測(cè)試儀

用于絕緣油等液體絕緣介質(zhì)的介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測(cè)量，內(nèi)部集成了介損油杯、溫控儀、溫度傳感器、介損測(cè)試電橋、交流試驗(yàn)電源、標(biāo)準(zhǔn)電容器、高阻計(jì)、直流高壓源等主要部件。，該儀器應(yīng)用先進(jìn)的測(cè)控技術(shù),全自動(dòng)完成升溫、控溫、高速數(shù)據(jù)采樣、運(yùn)算、顯示、打印及存儲(chǔ)等過(guò)程.

技術(shù)指標(biāo)

測(cè) 量 范 圍： 電容量       5pF～200pF
              相對(duì)電容率   1.000～30.000
              介質(zhì)損耗因數(shù) 0.00001～100
直流電阻率    2.5 MΩm～20 TΩm
測(cè) 量 準(zhǔn) 度： 電容量       ±(1%讀數(shù)+0.5pF)
              相對(duì)電容率   ±1%讀數(shù)
              介質(zhì)損耗因數(shù) ±(1%讀數(shù)+0.0001)
              直流電阻率   ±10%讀數(shù)
分  辨   率： 電容量       0.01pF
              相對(duì)電容率   0.001
              介質(zhì)損耗因數(shù) 0.00001
測(cè)  溫 范 圍： 0～125℃
溫度測(cè)量誤差： ±0.5℃
交流實(shí)驗(yàn)電壓： 500～2200V  連續(xù)可調(diào)，頻率50Hz
直流試驗(yàn)電壓： 0～500V     連續(xù)可調(diào)HN7030型 油體積電阻率測(cè)試儀 變壓器變比測(cè)試儀 操作說(shuō)明溫度測(cè)量的掃描速度為每秒5，1，15或者25次可選，掃描角度為6°，可以根據(jù)測(cè)量鋼板有寬度來(lái)確定安裝高度及儀表選型。防塵、防水的鑄鋁外殼即使在惡劣的環(huán)境下也可以長(zhǎng)期可靠的工作。如所示：（：掃描式測(cè)溫儀安裝效果示意圖）掃描式測(cè)溫儀可以測(cè)量不同寬度的鋼板，為了保證6°的掃描角度可以覆蓋，完成所需寬度內(nèi)的測(cè)量，得到有效的測(cè)量數(shù)據(jù)。測(cè)溫儀的安裝高度就會(huì)有不同的要求，如下表1所示，列出了測(cè)量不同寬度鋼板的溫度時(shí)，測(cè)溫儀的安裝高度。

感謝您選擇了絕緣油介質(zhì)損耗及體積電阻率測(cè)試儀！為方便您盡早盡快地熟練操作本儀器，我們特隨機(jī)配備了內(nèi)容詳實(shí)的操作手冊(cè)，從中您可以獲取有關(guān)產(chǎn)品介紹、使用方法、儀器性能以及**注意事項(xiàng)等諸多方面的信息。

在次使用儀器之前，請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)閱讀本操作手冊(cè)，并按本手冊(cè)對(duì)儀器進(jìn)行操作和維護(hù)，這會(huì)有助于您更好的使用該產(chǎn)品，并且可以延長(zhǎng)該儀器的使用壽命。

在編寫本手冊(cè)時(shí)，雖然我們本著科學(xué)和嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膽B(tài)度進(jìn)行了工作，并認(rèn)為本手冊(cè)中所提供的信息是正確和可靠的。然而，智者千慮必有一失，本手冊(cè)也難免會(huì)有錯(cuò)誤和疏漏之處。如果您發(fā)現(xiàn)了手冊(cè)中的錯(cuò)誤，請(qǐng)務(wù)必于百忙之中抽時(shí)間，盡快設(shè)法告知我們，并煩請(qǐng)監(jiān)督我們迅速改正錯(cuò)誤！本公司全體職員將不勝感激！紋波是電源的核心指標(biāo)，但如何準(zhǔn)確測(cè)量紋波確實(shí)一個(gè)被廣泛忽略的問(wèn)題。也許您認(rèn)為不就是示波器交流耦合，然后把點(diǎn)在電源上嘛？事實(shí)遠(yuǎn)非如此，本文為您呈現(xiàn)紋波測(cè)試的正確方式。的選擇在十幾年前，很多公司的電源測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)中都有明確的規(guī)定，要求使用1:1進(jìn)行測(cè)量。因?yàn)檫@種不會(huì)損失示波器的測(cè)量檔位，比如示波器原來(lái)檔位是2mv/div，使用1:1就仍然可以通過(guò)這個(gè)檔位測(cè)量紋波，即可以準(zhǔn)確測(cè)量出10mv以內(nèi)的紋波。

本公司保留對(duì)儀器使用功能進(jìn)行改進(jìn)的權(quán)力，如發(fā)現(xiàn)儀器在使用過(guò)程中其功能與操作手冊(cè)介紹的不一致，請(qǐng)以儀器的實(shí)際功能為準(zhǔn)。我們希望本儀器能使您的工作變得輕松、愉快，愿您在繁忙的工作之中體會(huì)到辦公自動(dòng)化的輕松而美好的感覺(jué)！布局助手甚至可以幫助我們?cè)陉P(guān)閉框架時(shí)清理工作區(qū)。如果空間不夠，可以簡(jiǎn)單地添加另一個(gè)選項(xiàng)卡（比如在Excel工作簿中添加一個(gè)選項(xiàng)卡），然后可以重命名文件、框架和選項(xiàng)卡。讓人感覺(jué)舒服的是，一旦大家花了很多的時(shí)間制作了我們想要的布局，以及工作區(qū)，我們就可以很方便的保存它并在稍后再次打開(kāi)它。保存工作區(qū)可以保存所有的內(nèi)容，而不僅僅是布局。這包括打開(kāi)的文件、調(diào)色板和縮放比例，以及所有的模塊。靈活的工具齊全的測(cè)量工具有助于加深用戶對(duì)熱數(shù)據(jù)的認(rèn)識(shí)。

注意事項(xiàng)

1.遵守高壓試驗(yàn)**工作規(guī)程。

2.因儀器內(nèi)部有高壓及高溫，在工作過(guò)程中，禁止打開(kāi)油杯罩。

3.儀器在使用過(guò)程中要可靠接地。

4.要注意儀器使用環(huán)境的清潔。

5.油杯安裝和清洗應(yīng)嚴(yán)格按規(guī)定進(jìn)行，否則將造成油杯放電，致使儀器無(wú)法正常工作。

6.管損壞，必須更換相同規(guī)格管。分工頻耐壓試驗(yàn)和直流耐壓試驗(yàn)兩種。工頻耐壓試驗(yàn)其試驗(yàn)電壓為被試設(shè)備額定電壓的一倍多至數(shù)倍，不低于1000V。其加壓時(shí)間：對(duì)于以瓷和液體為主要絕緣的設(shè)備為1分鐘，對(duì)于以有機(jī)固體為主要絕緣的設(shè)備為5分鐘，對(duì)于電壓互感器為3分鐘，對(duì)于油浸電力電纜為10分鐘。電氣設(shè)備經(jīng)耐壓試驗(yàn)?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)絕緣的局部缺陷、受潮及老化。交流耐壓試驗(yàn)：在被試設(shè)備電壓的2.5倍及以上進(jìn)行，從介質(zhì)損失的熱擊穿觀點(diǎn)出發(fā)，可以有效地發(fā)現(xiàn)局部游離性缺陷及絕緣老化的弱點(diǎn)。