單芯片集成的趨勢(shì)使得手持設(shè)備變的小巧而可靠，并具備了多種功能?，F(xiàn)在的驅(qū)動(dòng)器的尺寸已經(jīng)小于1mm3，但仍然能提供高質(zhì)量、無(wú)明顯干擾的輸出信號(hào)。除了半導(dǎo)體制造技術(shù)的進(jìn)步之外，小尺寸的芯片和表面貼裝芯片的流行也意味著更多的高科技元件能做成的體積。表面貼裝芯片比過(guò)孔式模型有更多的優(yōu)勢(shì)，比如能用取放機(jī)器進(jìn)行簡(jiǎn)單的自動(dòng)組裝，在節(jié)省空間的雙面電路板設(shè)計(jì)方面提供更多的靈活性。采用較少的元件是另一個(gè)節(jié)省空間和能量的趨勢(shì)，它能使便攜設(shè)備在變小的同時(shí)延長(zhǎng)了電池壽命。
HN7080A變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng)華能 變壓器綜合試驗(yàn)臺(tái) 變壓器特性綜合試驗(yàn)系統(tǒng) 操作說(shuō)明

兩種操作模式：自動(dòng)模式、按鈕模式，且兩種操作模式自動(dòng)互鎖；

自動(dòng)化程度高，具有一鍵啟動(dòng)可自動(dòng)完成空載試驗(yàn)、負(fù)載試驗(yàn)、變比測(cè)量、直流電阻測(cè)量、工頻試驗(yàn)、感應(yīng)試驗(yàn)；

集成度高、功能齊全，滿足10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV等不同電壓等級(jí)電力變壓器和特種變壓器出廠試驗(yàn)、型式試驗(yàn)、試驗(yàn)；

試驗(yàn)項(xiàng)目：

      空載損耗測(cè)量、空載電流百分比（自動(dòng)換算到額定電壓下數(shù)值）；

      負(fù)載損耗測(cè)量、阻抗電壓百分比（自動(dòng)換算到額定電流參考溫度下數(shù)值）；

      繞組直流電阻快速測(cè)量；

      變比組別自動(dòng)測(cè)量（電壓比測(cè)量，連接組標(biāo)號(hào)試驗(yàn)）；

      外施耐壓試驗(yàn)（工頻耐壓試驗(yàn)）；

      感應(yīng)耐壓試驗(yàn)（倍頻倍壓試驗(yàn)）；

      絕緣電阻測(cè)量；

      雷電沖擊試驗(yàn)；

      絕緣油試驗(yàn)（擊穿電壓、閃點(diǎn)、酸值、體積電阻率、水分等）；

      局部放電試驗(yàn)；

      溫升試驗(yàn)；

可完成10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV及特種變壓器的出廠試驗(yàn)、型式試驗(yàn)和試驗(yàn)；華能 變壓器綜合試驗(yàn)臺(tái) 變壓器特性綜合試驗(yàn)系統(tǒng) 操作說(shuō)明測(cè)試原理地線漂移：利用電源不斷抬高DUT的GND，測(cè)試總線通訊正常時(shí)，DUT所允許的地線漂移。地線丟失：使DUT單掉地，測(cè)試1分鐘內(nèi)DUT是否仍然正常工作。電源丟失：使DUT單丟失電源，測(cè)試總線是否受到干擾，重接電源后DUT是否能恢復(fù)通訊。CAN線中斷：測(cè)試在CAN_H斷開(kāi)1分鐘，重連后DUT是否能恢復(fù)通訊。CAN_L斷開(kāi)1分鐘，重連后DUT是否能恢復(fù)通訊。CAN_H和CAN_L同時(shí)斷開(kāi)1分鐘，重連后DUT是否能恢復(fù)通訊。