根據(jù)上圖顯示，固晶層缺陷會(huì)造成的熱阻增大，影響散熱性能，具體的影響程度與缺陷的大小有關(guān)。測(cè)量結(jié)殼熱阻：這兩次測(cè)試的分別：次測(cè)量，器件直接接觸到基板熱沉上；次測(cè)量，器件和基板熱沉中間夾著導(dǎo)熱雙面膠。由于兩次散熱路徑的改變僅僅發(fā)生在器件封裝殼之外，因此結(jié)構(gòu)函數(shù)上兩次測(cè)量的分界處就代表了器件的殼。如下圖所示的曲線變化，可得出器件的熱阻。結(jié)構(gòu)無(wú)損檢測(cè)：同批次產(chǎn)品，取固晶層完好、邊緣缺陷以及中間缺陷的樣品測(cè)試。
HN7080A變壓器綜合測(cè)試系統(tǒng)華能 變壓器綜合測(cè)試臺(tái) 三相電容電流測(cè)試儀 操作

兩種操作模式：自動(dòng)模式、按鈕模式，且兩種操作模式自動(dòng)互鎖；

自動(dòng)化程度高，具有一鍵啟動(dòng)可自動(dòng)完成空載試驗(yàn)、負(fù)載試驗(yàn)、變比測(cè)量、直流電阻測(cè)量、工頻試驗(yàn)、感應(yīng)試驗(yàn)；

集成度高、功能齊全，滿足10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV等不同電壓等級(jí)電力變壓器和特種變壓器出廠試驗(yàn)、型式試驗(yàn)、試驗(yàn)；

試驗(yàn)項(xiàng)目：

      空載損耗測(cè)量、空載電流百分比（自動(dòng)換算到額定電壓下數(shù)值）；

      負(fù)載損耗測(cè)量、阻抗電壓百分比（自動(dòng)換算到額定電流參考溫度下數(shù)值）；

      繞組直流電阻快速測(cè)量；

      變比組別自動(dòng)測(cè)量（電壓比測(cè)量，連接組標(biāo)號(hào)試驗(yàn)）；

      外施耐壓試驗(yàn)（工頻耐壓試驗(yàn)）；

      感應(yīng)耐壓試驗(yàn)（倍頻倍壓試驗(yàn)）；

      絕緣電阻測(cè)量；

      雷電沖擊試驗(yàn)；

      絕緣油試驗(yàn)（擊穿電壓、閃點(diǎn)、酸值、體積電阻率、水分等）；

      局部放電試驗(yàn)；

      溫升試驗(yàn)；

可完成10kV、20kV、35kV、110kV、220kV、330kV、500kV及特種變壓器的出廠試驗(yàn)、型式試驗(yàn)和試驗(yàn)；華能 變壓器綜合測(cè)試臺(tái) 三相電容電流測(cè)試儀 操作系統(tǒng)基于全制式全覆蓋的測(cè)試能力可解決物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)鏈的測(cè)試難題，具體包括芯片模組測(cè)試、綜合測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試等多個(gè)環(huán)節(jié)。典型測(cè)試場(chǎng)景如下：發(fā)射機(jī)指標(biāo)測(cè)試：UE發(fā)射功率UE指的是NB-IOT的終端產(chǎn)品，包括NB-IOT模塊以及使用了這些模塊的終端。UE占用帶寬，占用帶寬指的是分配信道之內(nèi)測(cè)量的99%積分平均功率時(shí)對(duì)應(yīng)的信號(hào)帶寬。NB-IOT下行信號(hào)占用帶寬典型測(cè)試UE發(fā)射ACLR相鄰信道泄漏比，這個(gè)測(cè)來(lái)判定終端產(chǎn)品是否有可能對(duì)相鄰(或高或低)信道中的接收機(jī)產(chǎn)生干擾。