據(jù)，216年汽車電子標(biāo)簽(OBU)的市場需求量有近千萬套。某國內(nèi)ETC行業(yè)的企業(yè)，OBU年銷量達數(shù)百萬套。他們在一款OBU中使用某MCU廠商的Cortex-M3內(nèi)核芯片作為主控MCU，量產(chǎn)時采用為在線編程的方式，在PCB板上，對MCU進行批量燒錄。就像：在燒片過程中，客戶發(fā)現(xiàn)燒錄良率非常低，經(jīng)常莫名的燒錄失敗。每天幾千套的產(chǎn)能要求，低良率生產(chǎn)，讓生產(chǎn)部門在燒錄環(huán)節(jié)束手無策。為提高產(chǎn)能效率及燒錄的穩(wěn)定性，客戶請求技術(shù)支持。
HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質(zhì)損耗測試儀  HN60介質(zhì)損耗測量儀 華能異頻介質(zhì)損耗測試儀 變壓器綜合參數(shù)測試儀

   該儀器可用正、反接線方法測量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備。可以測量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測量。

抗干擾介損自動測試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、準(zhǔn)確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗干擾指標(biāo)： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準(zhǔn)確度
    3、電容量范圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。
    5、試驗電流范圍：10μA～1A
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻目前業(yè)界對于LED光源及燈具的光色電性能快速測量，常用的設(shè)備是積分球系統(tǒng)。作為一名專業(yè)方檢測認(rèn)證機構(gòu)的測試人員，我們在與客戶的交流過程中經(jīng)常有客戶會問到這樣一個問題——選擇什么樣的積分球測試系統(tǒng)在設(shè)備穩(wěn)定性及測試結(jié)果度方面更高？所以下面針對上述疑問，我非常樂意把我多年從事積分球系統(tǒng)檢測的心得以及目前我司使用的積分球測試系統(tǒng)分享給大家，并把我們所碰到的疑惑羅列出來，做一下討論，以資學(xué)習(xí)借鑒并釋疑解惑。
    頻率準(zhǔn)度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30AHN60介質(zhì)損耗測量儀 華能異頻介質(zhì)損耗測試儀 變壓器綜合參數(shù)測試儀綜上所述，對音頻儀器設(shè)備的測試源的設(shè)計和選擇有幅度可變、頻率可調(diào)兩個基本要求。通常的激勵源只能做到單一的幅度可調(diào)(而頻率不變)或者頻率可調(diào)(而幅度不變)，沒有二者皆同時可調(diào)，這樣就導(dǎo)致了測試效率極低。為了提高測試效率，可以采用以正弦為載波包絡(luò)按指數(shù)衰減的信號作為測試源。1原理及仿真1.1設(shè)計原理如所示，該信號為按指數(shù)衰減的正弦信號，即其包絡(luò)為單邊衰減的指數(shù)信號，包絡(luò)內(nèi)是按正弦載波振蕩的。這樣指數(shù)衰減的包絡(luò)能反映出信號由大到小的變換規(guī)律，能滿足放大性能動態(tài)范圍的測試;而頻率可調(diào)可以方便頻率響應(yīng)的測試。