HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質(zhì)損耗測試儀  HN60介損測試儀 華能變壓器容量特性測試儀 變壓器空載及負(fù)載測試儀

   該儀器可用正、反接線方法測量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備?？梢詼y量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測量。

抗干擾介損自動(dòng)測試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、準(zhǔn)確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗干擾指標(biāo)： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
    3、電容量范圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。
    5、試驗(yàn)電流范圍：10μA～1A
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗(yàn)頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dòng)雙變頻關(guān)于數(shù)采配置及現(xiàn)場測試應(yīng)用的部分問題，是工作者在實(shí)踐過程中時(shí)常會(huì)遇到的狀況。為什么記錄了許久但導(dǎo)出文件卻發(fā)現(xiàn)沒有數(shù)據(jù)，為什么采樣數(shù)據(jù)文件找不到，為什么趨勢圖不顯示，為什么設(shè)置了運(yùn)算公式卻沒顯示結(jié)果？本文為你詳細(xì)講解。事件數(shù)據(jù)與顯示數(shù)據(jù)的區(qū)別事件數(shù)據(jù)將各測量周期采集的數(shù)據(jù)按照設(shè)定的記錄周期進(jìn)行記錄。雖然記錄了詳細(xì)的數(shù)據(jù)，但是數(shù)據(jù)量較大。其記錄的數(shù)據(jù)格式為.TEV，記錄的數(shù)值為瞬時(shí)值，使用Excel打開后的界面如所示。
    頻率準(zhǔn)度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時(shí)試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時(shí)試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30AHN60介損測試儀 華能變壓器容量特性測試儀 變壓器空載及負(fù)載測試儀泰克科技公司日前宣布，為Keithley4200A-SCS參數(shù)儀推出兩款源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長電纜和復(fù)雜的測試設(shè)置而產(chǎn)生高負(fù)載電容時(shí)，其仍能執(zhí)行低電流測量。許多主要測試應(yīng)用都面臨著這一挑戰(zhàn)，如LCD顯示器制造和卡盤上的納米FET器件測試。在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應(yīng)用中所需要的測試設(shè)置也會(huì)增加SMU輸出端的電容。當(dāng)測試連接電容太大時(shí)，終的低電流測量結(jié)果可能會(huì)變得不穩(wěn)定。