HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀  HN60四通道介質(zhì)損耗測(cè)試儀 華能有源變壓器容量特性測(cè)試儀 變壓器直流電阻測(cè)試儀

   該儀器可用正、反接線方法測(cè)量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備。可以測(cè)量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。

抗干擾介損自動(dòng)測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、準(zhǔn)確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗干擾指標(biāo)： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
    3、電容量范圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。
    5、試驗(yàn)電流范圍：10μA～1A
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗(yàn)頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dòng)雙變頻系統(tǒng)描述AOI是檢測(cè)PCB表面圖形品質(zhì)(如表面缺陷、斷路和短路)的設(shè)備，用于生產(chǎn)過(guò)程中半成品品質(zhì)檢測(cè)，是高精密單層印制板，尤其是多層印制板加工的關(guān)鍵技術(shù)。測(cè)試系統(tǒng)集光學(xué)、精密機(jī)械、識(shí)別診斷算法和計(jì)算機(jī)技術(shù)于一體。檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過(guò)電荷耦合器件(CCD)或自動(dòng)掃描PCB，采集圖像后送與計(jì)算機(jī)處理，再與數(shù)據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)比較，查出PCB上缺陷，用顯示器或自動(dòng)標(biāo)識(shí)系統(tǒng)顯示或標(biāo)識(shí)缺陷，供維修人員修理。項(xiàng)目產(chǎn)品清單主控設(shè)備：研祥EPI整機(jī)IPC-685E該主控設(shè)備的主板是一款采用IntelG41芯片組，支持IntelLGA775封裝雙核、四核E53、E84、Q94等系列CPU的高性能平臺(tái)；支持2條8/166M的DDR3內(nèi)存條，總?cè)萘恐С?GB；板載1個(gè)1/1/1Mbps網(wǎng)絡(luò)接口；支持VGA+VGA雙顯示功能；支持4個(gè)SATA接口；USB2.接口、2個(gè)串口(其中1個(gè)支持RS-232/RS-422/RS-485)、1個(gè)并口等豐富的I/O接口。
    頻率準(zhǔn)度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時(shí)試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時(shí)試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30AHN60四通道介質(zhì)損耗測(cè)試儀 華能有源變壓器容量特性測(cè)試儀 變壓器直流電阻測(cè)試儀測(cè)試方法：由于客戶測(cè)試的心率測(cè)試模塊可以外接藍(lán)牙做及時(shí)監(jiān)控記錄，因此使用精密電源IT6412供電，串接一臺(tái)高精度電表做為電流量測(cè)比對(duì)，以此來(lái)量測(cè)關(guān)機(jī)泄漏電流與待機(jī)功耗，工作電流與功耗等參數(shù)指標(biāo)。4電子器件測(cè)試——磁保持繼電器測(cè)試磁保持繼電器的老化測(cè)試，就是重復(fù)讓產(chǎn)品斷開(kāi)和閉合，進(jìn)行老化測(cè)試。脈沖波形：+4.5V,5msV,5ms-4.5V,5msV,5ms。測(cè)試磁保持繼電器的吸合電壓和釋放電壓。