HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質(zhì)損耗測試儀  遠(yuǎn)見 青島華能HN6000 變頻介質(zhì)損耗測試儀 變壓器參數(shù)測試儀

   該儀器可用正、反接線方法測量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備?？梢詼y量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測量。

抗干擾介損自動測試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、準(zhǔn)確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗干擾指標(biāo)： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
    3、電容量范圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。
    5、試驗(yàn)電流范圍：10μA～1A
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗(yàn)頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻晚上看書的時(shí)候電燈突然一閃一閃的？又是閃變在作怪了。那什么是閃變呢？為什么會產(chǎn)生閃變呢？下面我們先從理論的方面來理性的認(rèn)識閃變，然后通過一個實(shí)際的案例來感性的感受一下閃變在現(xiàn)實(shí)生活中的存在。閃變的定義閃變是人眼對燈光亮度變化所引起刺激的不穩(wěn)定感。即人對亮度變化的不適感。IEC61000-4-15規(guī)定了“燈—眼—腦”模型來衡量，反映了大多數(shù)人如何受閃爍白熾燈的影響。閃變的影響閃變的產(chǎn)生多數(shù)是因?yàn)殡娋W(wǎng)電壓變動導(dǎo)致照明亮度發(fā)生變化。
    頻率準(zhǔn)度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時(shí)試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時(shí)試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A遠(yuǎn)見 青島華能HN6000 變頻介質(zhì)損耗測試儀 變壓器參數(shù)測試儀無校驗(yàn)位，8位數(shù)據(jù)位，串口時(shí)序圖如所示為STM32串口外設(shè)檢測到起始位的條件，當(dāng)檢測到下降沿（3個高電平+1個低電平）并且采樣序列1和采樣序列2均為0時(shí)，STM32檢測到一個起始位。每個位采樣16次，采樣點(diǎn)的間隔時(shí)間為tbit/16，tbit為每個位的時(shí)間，通信波特率為115.2kbps，則tbit=1/115.2k=8.68us，則采樣點(diǎn)的間隔時(shí)間為8.68us/16=0.5425us。STM32串口外設(shè)檢測到起始位的條件下面以RSM485PCHT的門限電平為例進(jìn)行說明，當(dāng)AB差分電壓處于±200mV之內(nèi)時(shí)，模塊RXD引腳輸出狀態(tài)不確定。