裝備中，測控技術的應用有：制導、智能型、自動化指揮系統(tǒng)（IRS系統(tǒng)）、外層空間裝備（如偵察、通信、預警、導航衛(wèi)星等等）。測控技術的形成與發(fā)展科學技術發(fā)展史實人類認識自然、改造自然的歷史、也是人類文明史的重要組成部分?？茖W技術的發(fā)展取決于測量技術的發(fā)展。近代自然科學是從真正意義上的測量開始的。許多杰出的科學家夢都是科學儀器的家和測量方法的創(chuàng)立者。測量技術的進步直接帶動著科學技術的進步。

HN6300接地引下線導通測試儀接地導通電阻測試儀 接地導通測試儀 使用方法

產(chǎn)品用途
   接地引下線導通測試儀 適用于適用于電力設備接地引下線與接地網(wǎng)（或相鄰設備）之間導通電阻值的測量，同樣適用于低阻值電阻的測量。HN6300接地引下線導通測試儀根據(jù)直流電路的基本計算公式R=U/I和串聯(lián)電路電流處處相等的原理，采用四線制測量原理，大電流恒流輸出有效地消除了測試線阻值對測試結果的影響，此儀器交直流兩用，LCD液晶顯示，操作極其簡單且具有報警提示功能。原理圖如下：

二、主要技術指標：

 測量范圍：0～2000mΩ   分辨率：1mΩ

   輸出電流：30A恒流輸出

     測量準度：±（1%+2d）

測量半徑: 50米  

顯示方式: 12864液晶顯示

工作溫度: -10℃～+50℃

ShaneSmith技術主管說“對于我們組織而言重要的是確保我們的設備符合**標準，這樣可以為我們實驗室技術一個**的工作環(huán)境?！苯鉀Q方案AMRC決定購買Instron45MPX沖擊試驗機是因為它能滿足Charpy和Izod試驗標準，以及包括在報價內的額外系統(tǒng)選項，包括能在零下溫度對試樣進行試驗的環(huán)境試驗箱。Instron團隊向AMRC保證了角度編碼器的精度與MPX電子配件足以替代他們的另一個購買要求——百分表。

三、操作方法：

1．儀器在使用前先插上電源線打開電源開關。

2．先找出與地網(wǎng)連接良好的引下線作為基準點（可用測量地網(wǎng)接地電阻的方法找出基準點）。

3．使用儀器自配的兩根測量線（50米，5米），大小端子（共四個）分別插入儀器的接線柱，（注：粗線端子插電流接線柱，細線端子插電壓接線柱，且紅黑顏色對應）。

   4．（5米）帶有夾子的一端與基準點連接好，線盤（50米）夾子的一端與被測點連接好。

   5．打開測量開關，待數(shù)據(jù)穩(wěn)定后即可得到測量結果。步階功能（Step）輸出主要特點是設定簡單，輸出電壓、頻率規(guī)律變化的波形。實際使用時僅設置初始電壓與頻率、步進電壓幅值、步進頻率等即可實現(xiàn)目標波形輸出，如下圖，初始10VAC/50Hz，步進10VAC/50Hz的輸出波形。步階功能（Step）典型應用是測試電子產(chǎn)品的工作電壓和頻率范圍。步階功能（Step）上位機軟件界面線路仿真功能線路仿真功能可模擬電壓突變（如跌落/突升等），其特點是輸出波形只有一部分突變。

四、注意事項

    1．應使用儀器所配備的標準測量線，且必須按照正確的接線方法接線：電流與電壓接線必須同極性（顏色對應）；粗接線柱接電流線，細接線柱接電壓線。

2．在測量前應對基準點及被測點表面的氧化層進行處理。

3．測試時如果表頭顯示數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，即有可能是連接點已松脫或是夾子接觸，去掉氧化層即可。

4．數(shù)據(jù)穩(wěn)定后，不宜長時間按住測量鍵。

5．儀器存放在通風干燥的環(huán)境中，應避免雨淋。ENOB=（SINAD-1.76dB）/6.2，其中1.76為理想ADC的量化噪聲，6.2為將log2轉化為log1的系數(shù)比。很明顯，SINAD越大，ENOB越大，而提升SINAD的方法就是重點關注與測試精度有關的電路。在數(shù)字示波器的架構中，與測試精度有關的電路有：前端采集電路、ADC采樣電路。被測信號經(jīng)前端采集電路進行調理后傳輸給ADC進行采樣。其中前端采集電路及ADC采樣電路對ENOB有較大影響，實際工作時，偏置誤差，非線性誤差，增益誤差，隨機噪聲，甚至還有ADC交織引起的噪聲都會增大ENOB。ENOB說明了什么ENOB是衡量ADC性能的標尺，若示波器ENOB指標好，那么偏置誤差、增益誤差、非線性度等都較小，同時帶寬噪聲也較低。如果主要被測信號是正弦波信號，那么ENOB就需要重點關注。通常示波器都由前端電路衰減器、放大器等信號調理電路、ADC采樣電路組成，在設計的時候，會在前端采用射頻技術，頻率響應方式，實現(xiàn)的頻響平坦度，以便ADC采樣時失真，增大ENOB指標。如何判斷ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直檔位及偏置下的底噪大小是示波器測量質量的一個重要依據(jù)，通過觀測底噪大小，可以判斷前端采集電路和ADC采樣電路設計的優(yōu)劣，因為示波器的底噪會增加額外的抖動并較小設計裕量，對測試結果造成較大的影響。