將對(duì)社區(qū)人民的犯罪扼殺在萌芽狀態(tài)。重要設(shè)施、地點(diǎn)安防監(jiān)控。紅外安防監(jiān)控是以物體表面溫度被動(dòng)成像的系統(tǒng)，在夜間可以作為重要設(shè)施、重點(diǎn)部門、建筑、地點(diǎn)現(xiàn)場(chǎng)夜視監(jiān)控使用。銀行、監(jiān)獄、、學(xué)校、車站、公園等等。特別是銀行、監(jiān)獄等地方，一旦別有用心的犯罪分子進(jìn)行犯罪活動(dòng)，往往會(huì)特意繞開補(bǔ)光的監(jiān)控設(shè)備進(jìn)行破壞活動(dòng)。紅外熱像儀是被動(dòng)成像，不需要任何補(bǔ)光設(shè)備都能正常成像，可以隱蔽在暗中發(fā)現(xiàn)犯罪活動(dòng)。巡邏及犯罪。
HN7031A全自動(dòng)三相電容電感測(cè)試儀電容電流測(cè)試儀 5年保修 全自動(dòng)變比測(cè)試儀

自動(dòng)三相電容電感測(cè)試儀 可以在不拆線的狀態(tài)下，直接測(cè)量成組并聯(lián)電容器的單相電容或組合連接類型的三相電容器，也能夠測(cè)量電抗器的電感，接線簡單，測(cè)試、記錄方便，大大提高了工作效率。

功能特點(diǎn)
    1、內(nèi)部自帶電馳，自動(dòng)數(shù)字合成產(chǎn)生三相大功率測(cè)試電源，不用外接電源即可使用；
    2、儀器可在不拆線情況下測(cè)量成組并聯(lián)電容器的單個(gè)單相電容及測(cè)量連接類型的三相電容；
    3、可三相同測(cè)或測(cè)量三只并聯(lián)電容器或電抗器；
    4、儀器可以測(cè)量電抗器的電感量；
    5、儀器可以測(cè)量工頻電流的幅值以及電流中2－32次的諧波含量；
    6、儀器可顯示出在測(cè)量電容器或電抗器的過程中測(cè)量的電壓、電流、功率、相位角、阻抗等數(shù)據(jù)，以便更好的問題所在；

參考幀和所選幀之間的時(shí)間差（Delta）顯示在顯示器右側(cè)的結(jié)果面板中。Fastframe分段存儲(chǔ)方法的優(yōu)點(diǎn)包括：高Fastframe波形捕獲率增加捕獲偶發(fā)事件的概率使用高采樣率保證了波形細(xì)節(jié)使捕捉脈沖的死區(qū)時(shí)間，確保有效利用記錄長度存儲(chǔ)幀可以快速和直觀地進(jìn)行比較，以確定是否在疊加顯示中出現(xiàn)異常5系列MSO分段存儲(chǔ)顯示，顯示平均總結(jié)幀信息Fastframe分段存儲(chǔ)支持標(biāo)準(zhǔn)的樣本采集模式、峰值檢測(cè)和高分辨率模式。
HN7033A自動(dòng)電容電流測(cè)試儀

直接從PT的二次側(cè)測(cè)量配電網(wǎng)的電容電流，與傳統(tǒng)的測(cè)試方法相比，該儀器無需和一次側(cè)打交道，因而不存在試驗(yàn)的性，無需做繁雜的安措施和等待冗長的調(diào)度命令，只需將測(cè)量線接于PT的開口三角端就可以測(cè)量出電容電流的數(shù)據(jù)。

自動(dòng)電容電流測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、測(cè)量范圍：對(duì)地總電容 ≤120μF（三相對(duì)地）
       電容電流 ≤500A（35kv系統(tǒng) ）
       電容電流 ≤200A（10kv系統(tǒng) ）
    2、測(cè)量精度：0.5μF～5μF   ±10%±50個(gè)字
                 5μF～90μF    ±5%
                 90μF～120μF  ±10%電容電流測(cè)試儀 5年保修 全自動(dòng)變比測(cè)試儀全天科技直流可編程電源編程的方式可根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行多樣的選擇，如可在電源面板上進(jìn)行編程，或可以利用全天科技電源內(nèi)置的標(biāo)準(zhǔn)RS232/RS485/USB/LAN/GPIB接口進(jìn)行遠(yuǎn)程控制，在上位機(jī)上來進(jìn)行編輯的操作。LIST功能大大方便了測(cè)試工程師的操作，保證測(cè)試簡單、快捷、準(zhǔn)確的完成。全天科技可編程直流電源，還內(nèi)置了符合汽車電子領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)的常用測(cè)試波形。此項(xiàng)為汽車電子行業(yè)提供解決方案。省去測(cè)試前繁瑣的編輯過程，同時(shí)，測(cè)試工程師可自行調(diào)整波形的設(shè)置參數(shù)，以便輸出不同測(cè)試等級(jí)下的波形。