切割加工技術(shù)是推動(dòng)以、航天飛行代表的運(yùn)動(dòng)載工具向高性能、輕量化、長(zhǎng)壽命、短周期、低成本等方向發(fā)展的關(guān)鍵制造技術(shù)。尤其在工業(yè)，切割加工技術(shù)地促進(jìn)了制造技術(shù)的跨越發(fā)展。一臺(tái)發(fā)動(dòng)機(jī)從進(jìn)氣道到尾噴口的各個(gè)部件的上百種零件需切割。切割的應(yīng)用，解決了多項(xiàng)發(fā)動(dòng)機(jī)難加工材料的切割、大型薄壁件群孔加工、零件葉型孔高精度切割、特種表面零件加工等加工難題。切割技術(shù)應(yīng)用零件較多，本文以部分零件的制造技術(shù)介紹切割技術(shù)在發(fā)動(dòng)機(jī)制造中的應(yīng)用。
HN7031A全自動(dòng)三相電容電感測(cè)試儀三相電容電感測(cè)試儀 使用說(shuō)明 變壓器變比組別測(cè)試儀

自動(dòng)三相電容電感測(cè)試儀 可以在不拆線的狀態(tài)下，直接測(cè)量成組并聯(lián)電容器的單相電容或組合連接類型的三相電容器，也能夠測(cè)量電抗器的電感，接線簡(jiǎn)單，測(cè)試、記錄方便，大大提高了工作效率。

功能特點(diǎn)
    1、內(nèi)部自帶電馳，自動(dòng)數(shù)字合成產(chǎn)生三相大功率測(cè)試電源，不用外接電源即可使用；
    2、儀器可在不拆線情況下測(cè)量成組并聯(lián)電容器的單個(gè)單相電容及測(cè)量連接類型的三相電容；
    3、可三相同測(cè)或測(cè)量三只并聯(lián)電容器或電抗器；
    4、儀器可以測(cè)量電抗器的電感量；
    5、儀器可以測(cè)量工頻電流的幅值以及電流中2－32次的諧波含量；
    6、儀器可顯示出在測(cè)量電容器或電抗器的過(guò)程中測(cè)量的電壓、電流、功率、相位角、阻抗等數(shù)據(jù)，以便更好的問(wèn)題所在；

平常說(shuō)到電機(jī)試驗(yàn)，大家時(shí)間就想到測(cè)功機(jī)這種電機(jī)測(cè)試設(shè)備。但實(shí)際上，面對(duì)越來(lái)越復(fù)雜的行業(yè)應(yīng)用，如電動(dòng)汽車電機(jī)測(cè)試，測(cè)功機(jī)亦漸漸顯露出短板來(lái)，這要從測(cè)功機(jī)的構(gòu)造說(shuō)起。測(cè)功機(jī)的構(gòu)造很簡(jiǎn)單，由一個(gè)機(jī)柜和測(cè)試臺(tái)架組成，其中測(cè)試臺(tái)架又常稱作測(cè)功頭，一般是指扭矩轉(zhuǎn)速傳感器和制動(dòng)器做成一體的款式。測(cè)試臺(tái)架包括安裝底座、扭矩轉(zhuǎn)速傳感器、機(jī)械負(fù)載（制動(dòng)器），用于電機(jī)試驗(yàn)時(shí)的力矩加載，模擬電機(jī)的不同工況；機(jī)柜包括電參數(shù)測(cè)試儀、電機(jī)測(cè)試儀、測(cè)功機(jī)控制器、電源等，用于對(duì)系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)和對(duì)電機(jī)的測(cè)試。
HN7033A自動(dòng)電容電流測(cè)試儀

直接從PT的二次側(cè)測(cè)量配電網(wǎng)的電容電流，與傳統(tǒng)的測(cè)試方法相比，該儀器無(wú)需和一次側(cè)打交道，因而不存在試驗(yàn)的性，無(wú)需做繁雜的安措施和等待冗長(zhǎng)的調(diào)度命令，只需將測(cè)量線接于PT的開口三角端就可以測(cè)量出電容電流的數(shù)據(jù)。

自動(dòng)電容電流測(cè)試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、測(cè)量范圍：對(duì)地總電容 ≤120μF（三相對(duì)地）
       電容電流 ≤500A（35kv系統(tǒng) ）
       電容電流 ≤200A（10kv系統(tǒng) ）
    2、測(cè)量精度：0.5μF～5μF   ±10%±50個(gè)字
                 5μF～90μF    ±5%
                 90μF～120μF  ±10%三相電容電感測(cè)試儀 使用說(shuō)明 變壓器變比組別測(cè)試儀可靠性是對(duì)產(chǎn)品耐久力的測(cè)量，我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來(lái)表示。集成電路的失效原因大致分為三個(gè)階段：階段被稱為早期失效期,這個(gè)階段產(chǎn)品的失效率快速下降，造成失效的原因在于IC設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過(guò)程中的缺陷；階段被稱為偶然失效期,這個(gè)階段產(chǎn)品的失效率保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機(jī)的，比如溫度變化等等；階段被稱為損耗失效期，這個(gè)階段產(chǎn)品的失效率會(huì)快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長(zhǎng)期使用所造成的老化等。