從以上測試結(jié)果可以看出，電壓優(yōu)先模式下，保證電壓的輸出波形質(zhì)量，電流有可能會過沖；而在電流優(yōu)先模式下，不管啟動電流是毫安還是安培級，IT6100B都能很好地管理過沖，保證電流的輸出波形質(zhì)量。艾德克斯IT6100B系列（86~1200W）為高速高精度的可編程直流電源，滿載上升快可達500us，分辨率可達0.1mV/0.01mA，輸出波形優(yōu)先模式可讓電壓或電流的上升波形高速且無過沖，在航天電源模塊等高精度測試領(lǐng)域廣泛應用。
KX303A熱繼電器校驗儀/電動機保護器校驗儀

功能簡介：

適用于單相、三相熱繼電器及有源或無源電動機保護器的過壓、過流、缺相、不平衡、堵轉(zhuǎn)及時間測試,還可測試電流繼電器的動作電流及額定電流的動作時間。

技術(shù)參數(shù)：

可長時間輸出0～50A或0～500A電流

三相電流可均衡輸出，具有細調(diào)功能

常開、常閉接點自動識別

可同時串接若干只校驗，提高工作效率

2、主要技術(shù)指標

電源輸入：AC  380/220V  50Hz  三相四線

儀表等級：0.2級

輸出電流：3×50A或3×500A

時間測試：0.001S-999.999S青島KX303A三相熱繼電器測試儀 華能牌是上世紀6年代發(fā)展起來的一項新技術(shù)，是一種顏色很純、能量高度集中、方向性很好的光。隨著電子技術(shù)、技術(shù)等新型技術(shù)的飛速發(fā)展，測距儀順應時代誕生。測距儀的工作原理十分簡單：通過測定開始發(fā)射到從目標反射回來的時間來測定距離，所以它是利用調(diào)制的某個參數(shù)實現(xiàn)對目標的距離測量的儀器，重量輕、體積小、操作簡單，速度快而準確，其誤差僅為其它光學測距儀的五分之一到數(shù)百分之一。這些優(yōu)點集中于測距儀一身，使其市場情形一片大好。

使用說明：  

選用足夠**載流量的電源線接通容量足夠的220V電源，把各功能開關(guān)選到需要位置，輸出調(diào)節(jié)手輪旋轉(zhuǎn)至零位，即可接被測器件，儀器即可開始工作。當輸出電流較大時，應選用內(nèi)阻較小的電源，若電源內(nèi)阻過大，輸出電流不易升到設定值。

  1、測試熱繼電器

測試時應蓋好熱繼電器蓋，小電流值熱繼電器用小電流檔位,把三個熱元件串接后，再接在相應的測試柱上，常閉點接輔助接點柱上，量程轉(zhuǎn)換開關(guān)選至適當電流檔位，輸出調(diào)節(jié)手輪置零位，自鎖開關(guān)斷開，檢查各接線端柱接觸應良好，打開電源開關(guān),按啟動鈕，測試電源接通,旋轉(zhuǎn)輸出調(diào)節(jié)手輪至被測熱繼電器額定電流，使雙金屬片達到熱穩(wěn)定狀態(tài)，以此穩(wěn)定熱態(tài)再旋轉(zhuǎn)輸出調(diào)節(jié)手輪使測試電流到額定電流的1.2 倍，計時從零開始，進入測試階段，規(guī)定時間內(nèi)，熱繼電器應脫扣為合格一項，熱繼電器接點斷開，測試電流消失，計時停止，并顯示測驗時間，測試終了信號由燈光和聲響給出，當要停止信號時可按關(guān)斷聲光開關(guān)。     

當測試額定 時，一般按規(guī)程應從熱元件冷態(tài)開始。熱繼電器的其它參數(shù)整定請參閱有關(guān)規(guī)程進行,也可按被保護的電動機負荷情況選定熱繼電器的安—秒脫扣特性。光學電流傳感器是在陀螺儀技術(shù)的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種新型的電流傳感技術(shù)，它不受交流和直流電流的限制，沒有磁滯和磁飽和現(xiàn)象，也就是說可以直接用于直流電流和交流電流的檢測和計量，并且可以從很小的安培級測到幾十萬安培，精度可以做到.1%級，是電解行業(yè)未來的選擇。光學電流傳感器又可以分為磁光玻璃光學電流傳感器和光纖電流傳感器。磁光玻璃光學電流傳感器的傳感部分采用普通磁光玻璃，材料成熟，光學元件少，系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，無需進行溫度控制。

2、測電動機保護器

在測試前要仔細檢查各活動部位，是否銹蝕、卡住，活動軸應有少量潤滑油脂才好，試合閘后，人工觸動熱脫扣，瞬時間脫扣無誤后再進行檢測。

電動機保護器有輔助接點的同熱繼電器接法相同，測完斷開時，其信號由關(guān)斷裝置的傳感器送來，關(guān)斷測試電源，并顯示測驗時間，發(fā)出測試完畢信號。泰克科技公司日前宣布，為Keithley4200A-SCS參數(shù)儀推出兩款源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長電纜和復雜的測試設置而產(chǎn)生高負載電容時，其仍能執(zhí)行低電流測量。許多主要測試應用都面臨著這一挑戰(zhàn)，如LCD顯示器制造和卡盤上的納米FET器件測試。在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會增加SMU輸出端的電容。當測試連接電容太大時，終的低電流測量結(jié)果可能會變得不穩(wěn)定。