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校準(zhǔn)過程:2.4mm三端口耦合器(雙陰一陽(yáng)),244雙端口2.4mm電子校準(zhǔn)件(端口陰一陽(yáng)),3672D矢量網(wǎng)絡(luò)儀。電子校準(zhǔn)件與被測(cè)件不匹配,選擇混合校準(zhǔn)。詳細(xì)過程為:測(cè)試被測(cè)件在測(cè)試電纜端連接被測(cè)耦合器,根據(jù)測(cè)試需求設(shè)定測(cè)量參數(shù),測(cè)試指標(biāo)即為被測(cè)件真實(shí)特性。測(cè)量關(guān)鍵點(diǎn)電校準(zhǔn)方式選?。喝绻粶y(cè)件與電子校準(zhǔn)件、網(wǎng)絡(luò)儀匹配,可以直接采用全自動(dòng)電子校準(zhǔn);否則需使用電子與機(jī)械的混合校準(zhǔn)模式。如雙端口雙陽(yáng)3.5mm同軸轉(zhuǎn)接器或?yàn)V波器,可使用完全匹配的243雙陽(yáng)電子校準(zhǔn)件進(jìn)行全自動(dòng)電子校準(zhǔn);如果使用243陰陽(yáng)電子校準(zhǔn)件,也需要選用電子與機(jī)械的混合校準(zhǔn)功能,每個(gè)端口連接243陽(yáng)頭,直通選用機(jī)械轉(zhuǎn)接器做非插入直通。
KX303A熱繼電器校驗(yàn)儀/電動(dòng)機(jī)保護(hù)器校驗(yàn)儀
功能簡(jiǎn)介:
適用于單相、三相熱繼電器及有源或無源電動(dòng)機(jī)保護(hù)器的過壓、過流、缺相、不平衡、堵轉(zhuǎn)及時(shí)間測(cè)試,還可測(cè)試電流繼電器的動(dòng)作電流及額定電流的動(dòng)作時(shí)間。
技術(shù)參數(shù):
可長(zhǎng)時(shí)間輸出0~50A或0~500A電流
三相電流可均衡輸出,具有細(xì)調(diào)功能
常開、常閉接點(diǎn)自動(dòng)識(shí)別
可同時(shí)串接若干只校驗(yàn),提高工作效率
2、主要技術(shù)指標(biāo)
電源輸入:AC 380/220V 50Hz 三相四線
儀表等級(jí):0.2級(jí)
輸出電流:3×50A或3×500A
時(shí)間測(cè)試:0.001S-999.999S青島電子式熱繼電器校驗(yàn)儀 KX303A電動(dòng)機(jī)保護(hù)器校驗(yàn)儀 定制定做半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測(cè)試,芯片封裝和封裝后測(cè)試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測(cè)試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對(duì)Wafer劃片槽(ScribeLine)測(cè)試鍵(TestKey)的測(cè)試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù),測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上,由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容,測(cè)完某條TestKey后,ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey,直到整片Wafer測(cè)試完成。
使用說明:
選用足夠**載流量的電源線接通容量足夠的220V電源,把各功能開關(guān)選到需要位置,輸出調(diào)節(jié)手輪旋轉(zhuǎn)至零位,即可接被測(cè)器件,儀器即可開始工作。當(dāng)輸出電流較大時(shí),應(yīng)選用內(nèi)阻較小的電源,若電源內(nèi)阻過大,輸出電流不易升到設(shè)定值。
1、測(cè)試熱繼電器
測(cè)試時(shí)應(yīng)蓋好熱繼電器蓋,小電流值熱繼電器用小電流檔位,把三個(gè)熱元件串接后,再接在相應(yīng)的測(cè)試柱上,常閉點(diǎn)接輔助接點(diǎn)柱上,量程轉(zhuǎn)換開關(guān)選至適當(dāng)電流檔位,輸出調(diào)節(jié)手輪置零位,自鎖開關(guān)斷開,檢查各接線端柱接觸應(yīng)良好,打開電源開關(guān),按啟動(dòng)鈕,測(cè)試電源接通,旋轉(zhuǎn)輸出調(diào)節(jié)手輪至被測(cè)熱繼電器額定電流,使雙金屬片達(dá)到熱穩(wěn)定狀態(tài),以此穩(wěn)定熱態(tài)再旋轉(zhuǎn)輸出調(diào)節(jié)手輪使測(cè)試電流到額定電流的1.2 倍,計(jì)時(shí)從零開始,進(jìn)入測(cè)試階段,規(guī)定時(shí)間內(nèi),熱繼電器應(yīng)脫扣為合格一項(xiàng),熱繼電器接點(diǎn)斷開,測(cè)試電流消失,計(jì)時(shí)停止,并顯示測(cè)驗(yàn)時(shí)間,測(cè)試終了信號(hào)由燈光和聲響給出,當(dāng)要停止信號(hào)時(shí)可按關(guān)斷聲光開關(guān)。
當(dāng)測(cè)試額定 時(shí),一般按規(guī)程應(yīng)從熱元件冷態(tài)開始。熱繼電器的其它參數(shù)整定請(qǐng)參閱有關(guān)規(guī)程進(jìn)行,也可按被保護(hù)的電動(dòng)機(jī)負(fù)荷情況選定熱繼電器的安—秒脫扣特性。加工屬于無接觸加工,并且高能量束的能量及其移動(dòng)速度均可調(diào),因其高精度、高可控性、率等優(yōu)點(diǎn),可以實(shí)現(xiàn)多種加工,解決特種機(jī)械制造中的多項(xiàng)難題。由于發(fā)動(dòng)機(jī)大量采用鈦合金、高溫合金、不銹鋼及非金屬特種涂層等特種材料,這些材料具有高硬度、高脆性、高熔點(diǎn)、高黏度及低導(dǎo)熱性特點(diǎn),常規(guī)的機(jī)械加工較難加工,所以加工技術(shù)必然成為機(jī)械制造業(yè)明珠——發(fā)動(dòng)機(jī)制造的一項(xiàng)技術(shù)。加工技術(shù)在發(fā)動(dòng)機(jī)制造中的應(yīng)用包括焊接、切割、打孔、表面處理、增材制造等,其中切割占加工總產(chǎn)量的7%以上,是一項(xiàng)主要的工藝技術(shù)。
2、測(cè)電動(dòng)機(jī)保護(hù)器
在測(cè)試前要仔細(xì)檢查各活動(dòng)部位,是否銹蝕、卡住,活動(dòng)軸應(yīng)有少量潤(rùn)滑油脂才好,試合閘后,人工觸動(dòng)熱脫扣,瞬時(shí)間脫扣無誤后再進(jìn)行檢測(cè)。
電動(dòng)機(jī)保護(hù)器有輔助接點(diǎn)的同熱繼電器接法相同,測(cè)完斷開時(shí),其信號(hào)由關(guān)斷裝置的傳感器送來,關(guān)斷測(cè)試電源,并顯示測(cè)驗(yàn)時(shí)間,發(fā)出測(cè)試完畢信號(hào)。我們離物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代越來越近,搭配5G通訊的催化下,穿戴式裝置已走向你我的身邊。世界各大電子消費(fèi)性廠商紛紛的投入相關(guān)領(lǐng)域,如ApplSamsun華為等。低功耗、能產(chǎn)品也不斷的推出,如眼鏡、手表、衣服……除此之外,也利用高科技從事智能化監(jiān)控,常見的如心率、血壓、步率……量測(cè)挑戰(zhàn)穿戴式裝置對(duì)廠商來說除了功能夠先進(jìn)與實(shí)用來取得消費(fèi)者的喜愛外,面臨另一挑戰(zhàn)就是如何使穿戴式裝置能體積極小化與長(zhǎng)時(shí)間使用。