2.5.1接線、拆線原則

l 測試前接線時(shí)應(yīng)按照“先儀器，后電池”的順序進(jìn)行接線，即：先接儀器端的連線，后接電池端的連線。

l 測試完畢，用戶拆線時(shí)應(yīng)按“先電池、后儀器”的順序進(jìn)行拆線，即先拆電池端的連線，后拆儀器端的連接。

2.5.2 放電電纜的連接

l 放電電纜線將測試儀的“放電電流接口”與電池組并接。

l 注：“正”（紅色）接電池組正極，“負(fù)”（黑色）接電池組負(fù)極。 嚴(yán)禁接反！

2.5.3 整組電壓采集線的連接

l 用整組電壓采集線將測試儀“整組電壓”與電池組正、負(fù)極并接。

l 注：整組電壓線的“正”（紅色夾子）接電池組正極，“負(fù)”（黑色夾接電池組負(fù)極。  嚴(yán)禁接反！

2.5.4 連接測試儀供電220V電源線。當(dāng)采用直流供電時(shí)不接。

LED日光燈電源發(fā)熱到一定程度會導(dǎo)致燒壞，關(guān)于這個(gè)問題，也見到過有人在行業(yè)論壇發(fā)過貼討論過。本文將從芯片發(fā)熱、功率管發(fā)熱、工作頻率降頻、電感或者變壓器的選擇、LED電流大小等方面討論LED日光燈電源發(fā)熱燒壞MOS管技術(shù)。芯片發(fā)熱本次內(nèi)容主要針對內(nèi)置電源調(diào)制器的高壓驅(qū)動(dòng)芯片。假如芯片消耗的電流為2mA，300V的電壓加在芯片上面，芯片的功耗為0.6W，當(dāng)然會引起芯片的發(fā)熱。驅(qū)動(dòng)芯片的電流來自于驅(qū)動(dòng)功率MOS管的消耗，簡單的計(jì)算公式為I=cvf（考慮充電的電阻效益，實(shí)際I=2cvf，其中c為功率MOS管的cgs電容，v為功率管導(dǎo)通時(shí)的gate電壓，所以為了降低芯片的功耗，必須想辦法降低v和f.如果v和f不能改變，那么請想辦法將芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入額外的功耗。

2.6電量采集（選配）

l 測試儀工作于在線監(jiān)測時(shí)，電量采集器用于監(jiān)測電池組的充放電電流。

l 測試儀工作于放電測試時(shí)，電量采集器用于測戶設(shè)備的放電電流。

l 電量采集器指示方向?yàn)殡姵亟M充電電流方向，請勿接反

2.7并機(jī)接線（選配）

l 必須具備兩臺儀器。

l 每臺儀器分別連接好測試線。

l 將兩臺儀器通過RS485接口連接一起。

嵌入式設(shè)計(jì)人員之所以采用MSO，是因?yàn)樗鼜哪軌虿榭?個(gè)或4個(gè)信號，擴(kuò)展到能夠查看多20個(gè)信號，而不必求助于后的工具——邏輯儀。盡管這種通道數(shù)量長期來一直被市場廣泛接受，但這是不是仍適合當(dāng)今的嵌入式系統(tǒng)呢？對示波器制造商和嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員來說，這是一個(gè)值得思考的問題。制造商必需知道其提供的是不是客戶實(shí)際需要的、愿意付費(fèi)購買的測試功能。設(shè)計(jì)人員則需要適合作業(yè)的工具。對這一問題的思考，推動(dòng)了多個(gè)科研項(xiàng)目的實(shí)施，來自世界各地的嵌入式系統(tǒng)工程師正更加深入地考察示波器通道數(shù)量問題。