安規(guī)測(cè)試儀檢定裝置有以下幾種 接地電阻表檢定裝置 模擬交流標(biāo)準(zhǔn)電阻器 HN系列 接地導(dǎo)通測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 30年經(jīng)驗(yàn)

HN8061A

依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程》,用于檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔：0～500V  0～5000V  -10000V
 短路電流：0～2mA    0～20mA
電阻0-200G-1T-10TGPT-98/99安規(guī)測(cè)試器簡(jiǎn)易操作說(shuō)明：用來(lái)示范的設(shè)備GPT-994，是1臺(tái)~5VA/四合一~(的)安規(guī)測(cè)試器可提供ACW(交流耐壓)、DCW(直流耐壓)、IR(絕緣電阻)、GB(接地阻抗)測(cè)試測(cè)試器的(設(shè)定)操作，使用位于位置的"箭頭鍵"、"飛梭"、"設(shè)置鍵"，以及顯示屏下方對(duì)應(yīng)的"功能鍵"箭頭鍵和快捷鍵:(用于)移動(dòng)光標(biāo)的位置飛梭:(用于)改變光標(biāo)位置的數(shù)值或條件設(shè)置鍵:(則是用于)模式切換(MANU/AUTO)、編輯/儲(chǔ)存(EDIT/SE)、(以及)公用選單測(cè)試條件的設(shè)定，可分為MANU和AUTO兩種模式MANU用來(lái)設(shè)置"個(gè)別測(cè)試條件"的，共計(jì)1組AUTO可將已設(shè)置的MANU條件，串接成可依序執(zhí)行的群組~每個(gè)群組中，多可串接16個(gè)MANU條件，同樣也是1組測(cè)試線的連接:紅/白線組(Banana-鱷魚夾):用于ACW/DCW/IR測(cè)試紅線~連接高壓輸出端子座白線~連接Return端子(小黑)紅/黑線組(壓線端子-鱷魚夾):用于GB測(cè)試紅線組~依線徑粗細(xì)分別鎖付在大紅/小紅端子黑線組~依線徑粗細(xì)分別鎖付在大黑/小黑端子經(jīng)過(guò)以上介紹，相信您對(duì)GPT-98/99的操作、設(shè)置和測(cè)試線連接，已有初步的認(rèn)識(shí)與了解；接著，請(qǐng)?jiān)俑捌慕榻B，學(xué)習(xí)各項(xiàng)測(cè)試條件的設(shè)置~~謝謝。

HN8062A接地電阻表校驗(yàn)裝置

用于檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號(hào)的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進(jìn)口的同類儀表，也可做普通電阻箱使用，具有調(diào)節(jié)范圍寬，使用方便，造型美觀等優(yōu)點(diǎn)。示波器用戶在進(jìn)行幅值/峰值等垂直量測(cè)量時(shí)，偶然遇到測(cè)量結(jié)果與預(yù)期稍有偏差，測(cè)量不夠準(zhǔn)確的問(wèn)題，使用戶對(duì)示波器的測(cè)量精度產(chǎn)生了質(zhì)疑，在這里說(shuō)說(shuō)示波器幅值/峰值等垂直量測(cè)量為什么出現(xiàn)測(cè)量偏差，針對(duì)這種現(xiàn)象將如何改進(jìn)從而減少測(cè)量誤差?？蛻粼谑褂檬静ㄆ鳒y(cè)量高頻信號(hào)、強(qiáng)電壓、微小信號(hào)或者電源紋波、噪聲等的幅值/峰值等垂直量時(shí)，測(cè)量值出現(xiàn)偏差，垂直量測(cè)量值偏小或偏大等，導(dǎo)致用戶對(duì)示波器測(cè)量準(zhǔn)確性產(chǎn)生質(zhì)疑。示波器測(cè)量疑問(wèn)示波器垂直量測(cè)量出現(xiàn)偏差的原因歸結(jié)為以下四點(diǎn)：低頻補(bǔ)償調(diào)節(jié)與否；示波器的底噪干擾對(duì)測(cè)量的影響；示波器的幅頻特性曲線差異；④示波器的垂直分辨率對(duì)測(cè)量的影響。

HN8063A耐電壓測(cè)試儀校驗(yàn)裝置

1、測(cè)量準(zhǔn)度： 

電壓：1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準(zhǔn)度：1級(jí)  0.5級(jí)  0.2級(jí)而如果C的容值越小，對(duì)電路的影響也就越小。但限于目前的測(cè)試系統(tǒng)，C3和串聯(lián)后的電容值是幾個(gè)pF的級(jí)別，而C1通常是20~30pF，所以儀器對(duì)負(fù)載電容量的影響在10%以上，終會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生幾個(gè)ppm（單位，百萬(wàn)分之一）的頻率偏差，通常電路設(shè)計(jì)對(duì)晶體頻偏的要30ppm左右，所以這個(gè)影響還是不能忽視的。但如果使用頻譜儀，配合近場(chǎng)測(cè)試，因?yàn)閮H在空間上有電磁場(chǎng)的耦合，所以儀器的影響可以忽略。

HN8065A型泄漏電流測(cè)試儀檢定裝置

一、性能特點(diǎn)

1、源、表測(cè)量范圍：

       電壓源（AC，DC）：電壓：250V、50V、5V

       電流源（AC，DC）：20mA、2mA

       頻率計(jì)：10-100Hz當(dāng)前低壓配電系統(tǒng)中，尤其是農(nóng)網(wǎng)改造過(guò)程中應(yīng)用較廣的三相負(fù)荷不平衡自動(dòng)調(diào)節(jié)裝置的主要功能就是通過(guò)綜合技術(shù)手段，自動(dòng)檢測(cè)三相電路中的不平衡問(wèn)題，智能優(yōu)化三相電流的不平衡，以達(dá)到“合理的分配負(fù)荷”的目的。本文通過(guò)設(shè)定不同的測(cè)試工況，來(lái)直觀的檢測(cè)某三相負(fù)荷不平衡自動(dòng)調(diào)節(jié)裝置在自動(dòng)檢測(cè)三相線路不平衡問(wèn)題、智能優(yōu)化三相電流不平衡方面的綜合能力。測(cè)試工況待測(cè)試裝置技術(shù)參數(shù)交流輸入（三相四線）：400V50Hz額定容量：75kVA如所示，搭建三相電流不平衡補(bǔ)償測(cè)試平臺(tái)，模擬裝置智能補(bǔ)償三相不平衡有功電流時(shí)的運(yùn)行環(huán)境，圖示測(cè)試回路中RRR3為電阻性負(fù)載。

HN8066A型接地導(dǎo)通電阻測(cè)試儀檢定裝置

2、一次額定電流：25A、2.5A。(大30A、3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調(diào)。

4、直接指示一次電流值，可做交直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。此外，利用不同檢測(cè)儀器中的共同部分，組成以以太網(wǎng)為傳輸手段的開放式數(shù)字信息處理平臺(tái)，可以把信號(hào)發(fā)生的控制、數(shù)據(jù)采集、系統(tǒng)軟件、可視化等通用部分共用。由于這種無(wú)損檢測(cè)集成技術(shù)對(duì)信號(hào)的綜合性要求較高，故必須為信息的傳輸提供高速的連接方式。階段：機(jī)電一體化集成技術(shù)自動(dòng)化集成無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展階段是機(jī)電一體化集成無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。這是在儀器集成的基礎(chǔ)上，加上機(jī)電一體化的自動(dòng)控制、檢測(cè)、判斷和結(jié)果處理等系列功能的智能自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)。

HN8068A型回路電阻測(cè)試儀，直流電阻測(cè)試儀檢定裝置

2 一次額定電流：

1A、10A、100A、200A、300A、600A

3 電阻盤0、1、2、3……20帶電可調(diào)。

4 直接指示一次電流值,可做直流大電流標(biāo)準(zhǔn)表用。

接地電阻表檢定裝置 模擬交流標(biāo)準(zhǔn)電阻器 HN系列 接地導(dǎo)通測(cè)試儀校驗(yàn)裝置 30年經(jīng)驗(yàn)使用組合透鏡系統(tǒng)對(duì)物體成像，實(shí)現(xiàn)加電時(shí)液晶透鏡區(qū)域清晰，具有大視場(chǎng)、局部高分辨率的效果。本文通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量模組光圈與液晶透鏡匹配、液晶透鏡位置等對(duì)于成像質(zhì)量的影響。研究方向：液晶透鏡成像系統(tǒng)測(cè)試目的：展示成像系統(tǒng)對(duì)于局部區(qū)域的清晰成像效果，測(cè)量不同位置、不同光圈下成像系統(tǒng)的MTF，其對(duì)于成像質(zhì)量的影響。測(cè)試設(shè)備:相機(jī)、鏡頭、函數(shù)發(fā)生器、功率放大器ATA-24組合透鏡系統(tǒng)放大器型號(hào):AigtekATA-242實(shí)驗(yàn)過(guò)程：1.實(shí)驗(yàn)室制備液晶透鏡，并通過(guò)干涉法獲取波前信息，得到zernike系數(shù)，得到液晶透鏡的性能參數(shù)，以選擇合適的驅(qū)動(dòng)電壓；組裝成像系統(tǒng)，對(duì)不同區(qū)域的物體進(jìn)行成像實(shí)驗(yàn)；使用ISO12233板對(duì)成像系統(tǒng)進(jìn)行對(duì)焦測(cè)試，測(cè)試不同光圈、不同液晶透鏡位置的MTF值。