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HN7062A變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀 (容量,空負(fù)載測(cè)試儀 )變壓器容量及損耗測(cè)試儀 變壓器損耗測(cè)試儀 HN系列 定制定做
設(shè)備相當(dāng)于四種設(shè)備:有源變壓器容量測(cè)試儀 +變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀 +諧波儀 +示波器。它可對(duì)變壓器的容量、空載電流、空載損耗、短路損耗、阻抗電壓等一系列工頻參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量,并能測(cè)量空負(fù)載試驗(yàn)時(shí)的電壓、電流失真度和諧波含量,還可以進(jìn)行矢量。它以大屏幕彩色液晶作為顯示窗口,菜單操作并配有漢字提示,集多參量于一屏的顯示界面,人機(jī)對(duì)話界面友好,使用簡(jiǎn)便、快捷,是各級(jí)電力用戶(hù)的采購(gòu)產(chǎn)品。場(chǎng)效應(yīng)管為什么需要從9A變成5A性能更可靠,場(chǎng)效應(yīng)管的損耗通常來(lái)自導(dǎo)通損耗與開(kāi)關(guān)損耗兩種,但在高頻小電流條件下以開(kāi)關(guān)損耗為主,由于9A的場(chǎng)效應(yīng)管在工藝上決定了其柵極電容較大,需要較強(qiáng)的驅(qū)動(dòng)能力,在驅(qū)動(dòng)能力不足的情況下導(dǎo)致其開(kāi)關(guān)損耗急劇上升,特別在高溫情況下由于熱耗散不足,導(dǎo)致結(jié)點(diǎn)溫度超標(biāo)引發(fā)失效。如果在滿足設(shè)計(jì)裕量的條件下?lián)Q成額定電流稍小的場(chǎng)管以后,由于兩種場(chǎng)管在導(dǎo)通內(nèi)阻上并不會(huì)差距太大,且導(dǎo)通損耗在高頻條件下相比開(kāi)關(guān)損耗來(lái)說(shuō)幾乎可以忽略不計(jì),這樣一來(lái)5A的場(chǎng)管驅(qū)動(dòng)起來(lái)就會(huì)變得容易很多,開(kāi)關(guān)損耗降下去了,使用5A場(chǎng)管在同樣的溫度環(huán)境下結(jié)點(diǎn)溫度降低在可控范圍,自然就不會(huì)再出現(xiàn)熱耗散引起的失效了,當(dāng)然遇到這種情況增強(qiáng)驅(qū)動(dòng)能力也是一個(gè)很好的辦法。
主菜單共有五個(gè)可選項(xiàng),分別為:容量測(cè)試、負(fù)載測(cè)試、空載測(cè)試、歷史數(shù)據(jù)。需要選擇就用手觸摸相應(yīng)的圖標(biāo),下端顯示當(dāng)前的日期時(shí)間、內(nèi)部電池的電壓幅值和剩余電量百分比,從而可以及時(shí)掌握儀器的電池電量情況,了解儀器是否要充電避免沒(méi)有及時(shí)充電而在現(xiàn)場(chǎng)無(wú)法正常工作的情況。DC-DC模塊因?yàn)槠湫矢?,體積小廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品中,在其研發(fā)、生產(chǎn)和檢驗(yàn)驗(yàn)收階段都需要測(cè)試其主要的技術(shù)指標(biāo),如源效應(yīng),負(fù)載效應(yīng)和準(zhǔn)確度等。在測(cè)試時(shí),其需要一個(gè)可調(diào)的直流電源提供激勵(lì)。以源效應(yīng)為例,其測(cè)試示意圖如所示。DC-DC源效應(yīng)測(cè)試示意圖以電科43所研制的HTR28系列DC-DC模塊為例,其輸入直流電壓范圍為16V?40V。在測(cè)試其源效應(yīng)時(shí),就需要將可調(diào)直流電源的輸入從16V調(diào)節(jié)到40V,通常是采用旋轉(zhuǎn)編碼器來(lái)調(diào)節(jié)可調(diào)直流電源的電壓輸出的,在這么寬的范圍內(nèi)調(diào)節(jié),調(diào)節(jié)需要一定的時(shí)間,不能直接從一個(gè)電壓跳變到另一個(gè)電壓,采用程控直流電源作為可調(diào)直流電源就能夠很好解決這個(gè)問(wèn)題。
各功能選項(xiàng)的用途分別為:
容量測(cè)試:用來(lái)測(cè)量變壓器的容量值。
負(fù)載測(cè)試:使用外接的三相電源進(jìn)行變壓器的負(fù)載測(cè)試
空載測(cè)試:使用外接的三相電源進(jìn)行變壓器的空載試驗(yàn)。
歷史數(shù)據(jù):查看已保存的測(cè)試結(jié)果記錄。
系統(tǒng)設(shè)置:設(shè)置儀器的參數(shù),及廠家出廠調(diào)
下面介紹每個(gè)界面的操作方法和儀器接線方法
容量測(cè)試儀配有三把測(cè)試鉗(黃、綠、紅),每只鉗子分別引出兩根測(cè)試線,一根粗線、一根細(xì)線,粗線接到儀器面板上容量測(cè)試端子對(duì)應(yīng)顏色的電流端子(Ia、Ib、Ic),細(xì)線接到儀器面板上容量測(cè)試端子對(duì)應(yīng)顏色的電壓端子(Ua、Ub、Uc),將鉗頭按顏色分別夾在被試變壓器的高壓側(cè)各相接線柱上,變壓器的低壓側(cè)要用短接線良好短接。
容量測(cè)試設(shè)置界面如圖,項(xiàng)目有:一次電壓,二次電壓,變壓器類(lèi)型,阻抗電壓,當(dāng)前溫度,矯正溫度,連接組別,標(biāo)稱(chēng)容量,變壓器編號(hào),測(cè)試人員。點(diǎn)擊確定開(kāi)始測(cè)試。點(diǎn)擊返回,返回主界面
各項(xiàng)參數(shù)的含義和作用如下:在NR系統(tǒng)中,針對(duì)控制信道引入了波束掃描增強(qiáng)覆蓋的技術(shù)。在大規(guī)模多天線中,需要選擇合適的波束掃描的寬度和頻率,進(jìn)行波束管理和波束跟蹤。在不同用戶(hù)位置和信道環(huán)境下,需要驗(yàn)證采用何種碼本發(fā)送和接收,采用發(fā)送幾端口導(dǎo)頻才能使用戶(hù)之間干擾很小,導(dǎo)頻占用開(kāi)銷(xiāo)盡量少,頻譜效率。針對(duì)上述問(wèn)題,大唐移動(dòng)提出了對(duì)應(yīng)的測(cè)試策略。進(jìn)行上行導(dǎo)頻和預(yù)編碼測(cè)試,通過(guò)移相系統(tǒng)或者信道模擬系統(tǒng),遠(yuǎn)中近點(diǎn)用戶(hù)構(gòu)造不同用戶(hù)間干擾及多徑信道對(duì)不同端口的SRS發(fā)送方案和上行預(yù)編碼版本的計(jì)算,進(jìn)行導(dǎo)頻開(kāi)銷(xiāo)、碼本計(jì)算準(zhǔn)確性測(cè)試。
一次電壓:變壓器高壓測(cè)電壓值,指被試變壓器施壓側(cè)的額定電壓值。用于區(qū)別不同電壓等級(jí)的變壓器;相同容量、不同電壓等級(jí)變壓器的短路試驗(yàn)參數(shù)值是不同的;要做到準(zhǔn)確判斷,就必須輸入被試變壓器的高壓側(cè)額定電壓。點(diǎn)擊黃色輸入框,儀器彈出數(shù)字鍵盤(pán),輸入一次電壓值,默認(rèn)為10KV。MOSI-主設(shè)備數(shù)據(jù)輸出,從設(shè)備數(shù)據(jù)輸入;MISO–主設(shè)備數(shù)據(jù)輸入,從設(shè)備數(shù)據(jù)輸出;SCLK–時(shí)鐘信號(hào),由主設(shè)備產(chǎn)生;SS–從設(shè)備使能信號(hào),有主設(shè)備控制;SPI標(biāo)準(zhǔn)通訊接口SPI通訊接口的優(yōu)點(diǎn)是傳輸數(shù)據(jù)快,能達(dá)到幾兆到幾十兆,并且沒(méi)有系統(tǒng)開(kāi)銷(xiāo)。SPI總線的缺點(diǎn)也比較明顯,主要是沒(méi)有的流控制,也沒(méi)有應(yīng)答機(jī)制確認(rèn)是否接收到數(shù)據(jù)。單線SPI接口還有一種另類(lèi)的SPI通訊接口方式。
二次電壓:變壓器低壓測(cè)電壓值,點(diǎn)擊黃色輸入框,儀器彈出數(shù)字鍵盤(pán),輸入二次電壓值,默認(rèn)為0.4KV。變壓器類(lèi)型:指變壓器的不同類(lèi)型。(不是變壓器形式),主要有8中類(lèi)型,1油式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓配電,2油式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓電力,3油式有載調(diào)壓配電,4油式有載調(diào)壓電力,5干式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓配電,6干式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓電力,7干式有載調(diào)壓配電,8干式有載調(diào)壓電力。點(diǎn)擊黃色輸入框,出現(xiàn)下拉菜單,選擇點(diǎn)擊相應(yīng)的變壓器類(lèi)型。默認(rèn)為類(lèi)型1(即1油式無(wú)勵(lì)磁調(diào)壓配電)。
1、 容量測(cè)試界面無(wú)源晶振自身無(wú)法震蕩,在工作時(shí)需要搭配外圍電路。在一定條件下,石英晶片會(huì)產(chǎn)生壓電效應(yīng):晶片兩端的電場(chǎng)與機(jī)械形變會(huì)互相轉(zhuǎn)化。當(dāng)外加交變電壓的頻率與晶片的固有頻率相等時(shí),晶體產(chǎn)生的振動(dòng)和電場(chǎng)強(qiáng)度,這稱(chēng)為壓電諧振,類(lèi)似與LC回路的諧振。圖1石英晶體的電路符號(hào)、等效電路、電抗特性及外圍電路圖由于晶體為無(wú)源器件,其對(duì)外圍電路的參數(shù)較為敏感,尤其為負(fù)載電容。根據(jù)晶體的手冊(cè),我們得知測(cè)試電路中有電容,此電容對(duì)晶體是否起振大有關(guān)聯(lián):CCg稱(chēng)作匹配電容,是接在晶振的兩個(gè)腳上的對(duì)地電容,其作用就是調(diào)節(jié)負(fù)載電容使其與晶振的要求相一致,需要注意的是CCg串聯(lián)后的總電容值才是有效的負(fù)載電容部分。
1)實(shí)驗(yàn)接線方法
2)界面操作