HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
使用方法 沖擊電壓試驗(yàn)裝置 智能型直流高壓發(fā)生器 電子式多倍頻發(fā)生器產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

如此短的“快照速度”可以定格畫面，準(zhǔn)確測(cè)量非常快的瞬時(shí)變化。FLIR銻化銦制冷型熱像儀拍攝的FA-黃蜂戰(zhàn)斗機(jī)的定格畫面相反，非制冷型熱像儀，比如FLIRT13sc，它的像素由隨溫度產(chǎn)生明顯電阻變化的材料組成。而且，每一個(gè)像素的溫度都會(huì)升高或降低。其電阻隨溫度的變化而變化，并可測(cè)量其數(shù)值，同時(shí)通過校準(zhǔn)流程映射至目標(biāo)溫度?，F(xiàn)今配備的微測(cè)輻射熱計(jì)紅外熱像儀的快照速度或“時(shí)間常數(shù)”一般為8-12ms。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

老化測(cè)試是產(chǎn)品生產(chǎn)中的環(huán)節(jié)，對(duì)于CAN通信設(shè)備如何進(jìn)行批量的老化測(cè)試呢？本文將從成本及方案優(yōu)化兩方面簡(jiǎn)述測(cè)試方法。什么是老化測(cè)試?yán)匣瘻y(cè)試是將產(chǎn)品置于實(shí)際使用環(huán)境中評(píng)測(cè)其使用壽命、穩(wěn)定性等指標(biāo)的一種測(cè)試方式。比如對(duì)塑膠材料制品，常使用光照老化、濕熱老化、熱風(fēng)老化。對(duì)于電子設(shè)備的老化測(cè)試，除了以上材料老化測(cè)試還經(jīng)常需要上電測(cè)試，以此來考驗(yàn)產(chǎn)品的穩(wěn)定性。老化測(cè)試通常在的老化室中進(jìn)行。老化室CAN通訊設(shè)備老化測(cè)試對(duì)于CAN通信設(shè)備的老化測(cè)試，主要是功能性老化測(cè)試。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

提供緊湊的體積和模塊化架構(gòu)，在單個(gè)機(jī)箱中支持多達(dá)512個(gè)通道。提供寬泛的可編程驅(qū)動(dòng)/檢測(cè)電壓范圍，支持傳統(tǒng)應(yīng)用和當(dāng)前技術(shù)應(yīng)用。靈活的架構(gòu)，提供每個(gè)引腳的可編程性-化靈活性，適用于應(yīng)用。管理與這些數(shù)字子系統(tǒng)相關(guān)的功率要求和功耗是實(shí)現(xiàn)高可靠性的關(guān)鍵?，F(xiàn)代數(shù)字子系統(tǒng)采用兩個(gè)主要組件—高性能ASIC或FPGA，提供所有數(shù)字邏輯，定時(shí)和序列控制;和單片引腳電子（PE）器件，它們與數(shù)字邏輯接口，并為UUT或被測(cè)器件提供可編程電平（）。