HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
生產(chǎn)廠家 沖擊電流發(fā)生器 串聯(lián)諧振試驗(yàn)設(shè)備 交直流高壓分壓器產(chǎn)品簡介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

電阻體短路一般較易處理，只要不影響電阻絲長短和粗細(xì)，找到短路處進(jìn)行吹干，加強(qiáng)絕緣即可。電阻體斷路修理必須要改變電阻絲的長短而影響電阻值，為此以更換新的電阻體為好，若采用焊接修理，焊接后要校驗(yàn)合格后才能使用。熱電阻測(cè)溫系統(tǒng)在運(yùn)行中常見故障及處理方法如下表：熱電偶測(cè)溫計(jì)正確使用熱電偶不但可以準(zhǔn)確得到溫度的數(shù)值，保證產(chǎn)品合格，而且還可節(jié)省熱電偶的材料消耗，既節(jié)省資金又能保證產(chǎn)品質(zhì)量。除了補(bǔ)償導(dǎo)線接反，用錯(cuò)及接線松動(dòng)引起的常見誤差外（處理方法：正確使用補(bǔ)償導(dǎo)線，緊固接線端子），安裝不正確，熱導(dǎo)率和時(shí)間滯后等誤差，它們是熱電偶在使用中的主要誤差。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

對(duì)于一些大型較重的模具、檢具，測(cè)量結(jié)束后應(yīng)及時(shí)吊下工作臺(tái)，以避免工作臺(tái)長時(shí)間處于承載狀態(tài)。檢測(cè)完畢后，清潔三坐標(biāo)測(cè)量儀工作臺(tái)臺(tái)面。測(cè)量儀器的選購評(píng)定測(cè)量儀器是否優(yōu)良的標(biāo)準(zhǔn)是：準(zhǔn)、快、省。準(zhǔn)：測(cè)量結(jié)果的數(shù)值度高；快：測(cè)量效率高；省：所用測(cè)量工具價(jià)格低廉，操作方便，測(cè)量費(fèi)用低。測(cè)量儀器的保養(yǎng)若儀器不使用時(shí)，取出電池時(shí)應(yīng)分清其電池的安裝位置，并與其他附件一起放回儀器箱，確保設(shè)備不被撞擊、擠壓和磨損。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

在測(cè)試環(huán)境愈發(fā)復(fù)雜的今天，很多因素都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生比較大的影響，如何將測(cè)試中的干擾降到也是各測(cè)試工程師的難題。本文將簡單的介紹一些功率儀測(cè)試時(shí)常見的干擾現(xiàn)象及處理方式。對(duì)于現(xiàn)階段的測(cè)試系統(tǒng)來說，除待測(cè)信號(hào)以外，理論上還會(huì)有很多種信號(hào)出現(xiàn)在測(cè)試系統(tǒng)中。這些信號(hào)都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。往往這些信號(hào)都屬于外界干擾，機(jī)械干擾信號(hào)、熱干擾信號(hào)、光干擾信號(hào)、化學(xué)干擾信號(hào)、電磁干擾信號(hào)等。在實(shí)驗(yàn)室測(cè)試時(shí)，測(cè)試環(huán)境比較優(yōu)異，機(jī)械干擾、熱干擾、光干擾都會(huì)比較小，但是鑒于實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備，電場、電磁都會(huì)比較多，電磁干擾還是很有可能發(fā)生的。