HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
定制定做 沖擊電壓試驗(yàn)裝置 調(diào)頻串聯(lián)諧振 過(guò)電壓保護(hù)器測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

在生鮮乳收購(gòu)和生產(chǎn)過(guò)程中,需要準(zhǔn)確、快速的測(cè)定牛乳中脂肪、蛋白質(zhì)、乳糖、總固體等主要成分的含量，脂肪和蛋白質(zhì)的含量是決定牛奶品質(zhì)的核心指標(biāo)，因此乳成分的檢測(cè)就顯得尤為重要。檢測(cè)乳成分的方法很多，有前文敘述過(guò)的蓋勃法測(cè)定脂肪，凱氏定氮法測(cè)定蛋白質(zhì)等方法，本文主要敘述紅外法測(cè)定乳成分。什么是紅外光譜法？光譜測(cè)定法的基本原理是通過(guò)傳感器讀出將信號(hào)振幅疊加后的頻率/的波長(zhǎng)。紅外光譜法則是利用近紅外和中紅外對(duì)樣品成份進(jìn)行定性、定量。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

國(guó)網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)物理層測(cè)試要求充電樁的充電控制器與BMS通訊是采用CAN總線，必須滿足《QGDW1591-2014電動(dòng)汽車非車載充電機(jī)檢驗(yàn)技術(shù)規(guī)范》規(guī)定了物理層及鏈路層測(cè)試內(nèi)容：l物理層測(cè)試項(xiàng)目：傳輸速率測(cè)試、信號(hào)幅值測(cè)試、總線延時(shí)測(cè)試、總線利用率測(cè)試、總線錯(cuò)誤率測(cè)試、終端電阻變化測(cè)試、報(bào)文壓力測(cè)試、抗干擾測(cè)試l鏈路層測(cè)試項(xiàng)目：幀格式測(cè)試、協(xié)議數(shù)據(jù)單元測(cè)試、協(xié)議數(shù)據(jù)單元PDU格式測(cè)試、參數(shù)組編號(hào)PGN測(cè)試、傳輸協(xié)議功能測(cè)試、地址分配測(cè)試。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

TestCenter具有完全自主的知識(shí)產(chǎn)權(quán)。2012年，TestCenter入選國(guó)防科技工業(yè)百項(xiàng)先進(jìn)工業(yè)技術(shù)研究推廣應(yīng)用工程。如所示，為T(mén)estercenter的界面，TestCenter可以在多個(gè)測(cè)試領(lǐng)域中被應(yīng)用，包括消費(fèi)類電子產(chǎn)品及裝備的電路板級(jí)、模塊級(jí)、系統(tǒng)級(jí)的功能測(cè)試與故障診斷。Testcenter界面IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介故障診斷在裝備綜合保障中應(yīng)用廣泛，為了規(guī)范測(cè)試診斷過(guò)程和實(shí)現(xiàn)診斷知識(shí)的共享，IEEE制訂了人工智能應(yīng)用于系統(tǒng)測(cè)試與診斷領(lǐng)域的通用標(biāo)準(zhǔn)即IEEE1232標(biāo)準(zhǔn)，也稱作AI-ESTATE標(biāo)準(zhǔn)。