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HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
規(guī)格齊全 雷電沖擊發(fā)生器 電纜耐壓試驗(yàn)裝置 感應(yīng)耐壓試驗(yàn)裝置產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn),檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過(guò)電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。
在這里,我們主要討論模式模式四充電樁內(nèi)的剩余電流保護(hù)器的選用。在GB/T18487.1-2015中要求,交流供電設(shè)備的剩余電流保護(hù)器宜采用A型或B型,符合GB14084.2-2008,GB16916.1-2014和GB22794-2008的相關(guān)要求。如所示為充電模式3控制導(dǎo)引電路原理圖,在供電設(shè)備內(nèi)部安裝了剩余電流保護(hù)器。圖1充電模式3控制導(dǎo)引電路原理圖什么是A型或者B型剩余電流保護(hù)器?我國(guó)的剩余電流保護(hù)裝置(RCD)指導(dǎo)性標(biāo)準(zhǔn)GB/Z6829-2008(IEC/TR60755:2008,MOD)《剩余電流動(dòng)作保護(hù)器的一般要求》從產(chǎn)品的基本結(jié)構(gòu)、剩余電流類(lèi)型、脫扣方式等方面作了劃分。
沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開(kāi)關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波(full)或截?cái)啵╟hopped) 的閃電突波(L.I)
本文探討了目前LED分布光度計(jì)的發(fā)展?fàn)顩r,主要是對(duì)基于成像光度學(xué),采用CCD或是數(shù)碼相機(jī)作為分布光度測(cè)量手段的儀器進(jìn)行了和研究。此研究根據(jù)LED為半面發(fā)光的特點(diǎn),采用拋物面反射器的設(shè)置,對(duì)LED的發(fā)光進(jìn)行聚光反射,LED方向可通過(guò)步進(jìn)馬達(dá)進(jìn)行一定角度的轉(zhuǎn)換,從而得到不同角度位置的光斑,使用CCD或是數(shù)碼相機(jī)進(jìn)行測(cè)試。得到LED反射的發(fā)光光斑后,通過(guò)合適的圖像處理,可根據(jù)光斑得到LED的配光曲線。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征
本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作,手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過(guò)程,真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。
充電控制功能
系統(tǒng)采用恒流充電。
根據(jù)試驗(yàn)要求,調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間,能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過(guò)程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí),根據(jù)設(shè)定值,自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上,延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。
動(dòng)作控制
本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值,也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。
可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。
手動(dòng)/自動(dòng)控制。
2 觸發(fā)控制
系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)
而對(duì)于支撐端到端傳輸?shù)幕A(chǔ)網(wǎng)絡(luò)而言,低延時(shí)(微秒級(jí))、無(wú)損(lossless)則是重要的指標(biāo)。低延時(shí)網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)發(fā)延時(shí)主要產(chǎn)生在設(shè)備節(jié)點(diǎn)(這里忽略了光電傳輸延時(shí)和數(shù)據(jù)串行延時(shí)),設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)延時(shí)包括以下三部分:存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā)延時(shí):芯片轉(zhuǎn)發(fā)線處理延遲,每個(gè)hop會(huì)產(chǎn)生1微秒左右的芯片處理延時(shí)(業(yè)界也有嘗試使用cut-through模式,單跳延遲可以降低到0.3微秒左右);Buffer緩存延時(shí):當(dāng)網(wǎng)絡(luò)擁塞時(shí),報(bào)文會(huì)被緩存起來(lái)等待轉(zhuǎn)發(fā)。