HNCJ系列雷電沖擊電壓發(fā)生裝置
廠家供應(yīng) 沖擊電流發(fā)生器 變頻串聯(lián)諧振 匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059沖擊電壓發(fā)生器主要用于電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電沖擊電壓全波、雷電沖擊電壓截波和操作沖擊電壓波的沖擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。沖擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等沖擊電壓的電源裝置。主要用于絕緣沖擊耐壓及介質(zhì)沖擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

電容種類較多，如所示，按封裝分有貼片電容、插件電容，按介質(zhì)分有陶瓷電容，鉭電容，電解電容、云母電容、薄膜電容等，按結(jié)構(gòu)形勢(shì)分，有固定電容、半固定電容、可變電容。電容種類的繁多，讓人容易患選擇綜合癥，但不用憂慮，在開關(guān)電源中，我們使用多的就是陶瓷電容，電解電容和鉭電容，了解了電容的種類接下來是了解電容的一些性能參數(shù)。電容關(guān)鍵參數(shù)的認(rèn)識(shí)了解電容的內(nèi)在關(guān)鍵參數(shù)，才能快速選型，可靠使用，所有的電容的關(guān)鍵參數(shù)都是一樣的，包括電容容值、電容的耐壓值、電容的ESR、電容容值精度、電容允許的工作溫度范圍。

沖擊測(cè)試系統(tǒng)系應(yīng)用于諸如電力變壓器、比成器、高壓開關(guān)及電力電纜等高壓器材的沖擊電壓試驗(yàn)。此種測(cè)試系依據(jù)相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范執(zhí)行全波（full）或截?cái)啵╟hopped） 的閃電突波（L.I）

PGA：插針網(wǎng)格陣列封裝，插裝型封裝之一，基材多采用多層陶瓷基板。SIP(SingleIn-line)：?jiǎn)瘟兄辈迨椒庋b，引腳從封裝一個(gè)側(cè)面引出，排列成一條直線。SIP(SystemInaPackage)：系統(tǒng)級(jí)封裝，將多種功能芯片，包括處理器、存儲(chǔ)器等功能芯片集成在一個(gè)封裝內(nèi)，從而實(shí)現(xiàn)一個(gè)基本完整的功能。對(duì)比MCM，3D立體化可以體現(xiàn)在芯片堆疊和基板腔體上。
HNCJ-V 雷電沖擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

本部分主要是控制沖擊電壓發(fā)生器的操作，手動(dòng)或自動(dòng)完成充放電過程，真正實(shí)現(xiàn)智慧化操作。

充電控制功能

系統(tǒng)采用恒流充電。

根據(jù)試驗(yàn)要求，調(diào)節(jié)充電電壓、充電時(shí)間、延時(shí)時(shí)間，能夠手動(dòng)或者自動(dòng)控制電壓發(fā)生器的充電過程。采用自動(dòng)控制方式充電時(shí)，根據(jù)設(shè)定值，自動(dòng)充電并穩(wěn)定在充電電壓值上，延時(shí)3秒報(bào)警觸發(fā)。充電電壓的重復(fù)性和穩(wěn)定度很好。

動(dòng)作控制

本體球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。本體球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

截波球距大小能夠自動(dòng)跟蹤設(shè)定充電電壓值，也可手動(dòng)控制調(diào)節(jié)球距大小。截波球距值在觸摸屏或組態(tài)軟件中有顯示。

可控制本體自動(dòng)接地、充電極性切換、充電次數(shù)設(shè)定等功能。

手動(dòng)/自動(dòng)控制。

2 觸發(fā)控制

系統(tǒng)能夠手動(dòng)、自動(dòng)或報(bào)警觸發(fā)沖擊電壓發(fā)生器點(diǎn)火。觸發(fā)點(diǎn)火信號(hào)可以立延時(shí)

天下武功，唯快不破。在保證**的基礎(chǔ)上盡可能提高測(cè)試效率也是T/R組件測(cè)試領(lǐng)域不變的追求和目標(biāo)。當(dāng)然，提高測(cè)試效率的方法有很多，提高測(cè)試儀器儀表的性能（提高掃描速度和增加測(cè)試功能等）、簡(jiǎn)化連接和校準(zhǔn)過程以及優(yōu)化測(cè)試程序和工藝等。還有沒有其它辦法呢？那就是并行測(cè)試，這也是當(dāng)今自動(dòng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展的重要趨勢(shì)和方向之一。所謂并行測(cè)試就是充分利用測(cè)試儀器和測(cè)試通道等資源，按照一定的調(diào)度規(guī)劃同時(shí)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試任務(wù)，從而提高測(cè)試效率。