HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 直流標準源 電壓監(jiān)測儀校驗臺 定制定做 指示儀表檢定裝置

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標準源，軟件校準。各項輸出均采用動態(tài)負載自動調(diào)整技術,降低了負載調(diào)整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號處理器（DSP）、復雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計算機系統(tǒng)設計而成，將系統(tǒng)、測試和信號高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

用戶可以使用4個中等功率SMU(42-SMU,421-SMU)或高功率SMU(421-SMU,4211-SMU)，對高電阻材料，要求使用42-PA前置放大器。A-SCS包括多項內(nèi)置測試，在需要時把SMU的功能自動切換到電壓表或電流源，霍爾電壓測量要求對樣本應用磁場。A-SCS包括交互軟件，在半導體材料上進行范德堡法和霍爾電壓測量。A-SCSClarius+軟件提供了的程序庫，除電阻率和霍爾電壓測試外，還包括許多其他測試和項目。
 技術參數(shù)：

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調(diào)節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調(diào)節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準確度： 0.05%RG

     直流標準源 電壓監(jiān)測儀校驗臺 定制定做 指示儀表檢定裝置微波信號發(fā)生器的調(diào)制脈沖廣泛應用于脈沖體制雷達系統(tǒng)、粒子加速器、導引頭、射頻微波系統(tǒng)的測量與校準、微波通信收發(fā)機系統(tǒng)、電子對抗、生物醫(yī)學等領域。在高功率微波源、電磁環(huán)境效應研究等領域，常規(guī)的微波信號源脈沖調(diào)制能力（微秒級脈寬）已經(jīng)不能滿足應用需求，以微波窄脈沖信號（幾百納秒脈寬）為基礎的“微波激勵熱聲成像”技術已經(jīng)應用于乳腺癌等變的診斷，但其需要有足夠的成像分辨率和足夠的穿透深度才能在早期灶的診斷等應用中獲得的成像質(zhì)量。頻率設置：在源關閉狀態(tài)可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設置頻率。頻率設置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進行頻率設置：對交流源的頻率信號進行調(diào)節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調(diào)節(jié)細度，按【←】鍵可左移光標，按【→】鍵可右移光標。確定好調(diào)節(jié)細度后旋轉編碼器可對頻率信號進行升/降調(diào)節(jié)

開關電源的壽命很大程度受到電解電容的制約，而電解電容的壽命取決于其內(nèi)核溫升。本文從紋波電流計算、紋波電流實測、電解電容選型、溫度測試方法、壽命估算等方面，對電解電容作了的。紋波電生的熱量引起電容的內(nèi)部溫升，加速電解液的蒸發(fā)，當容值下降2%或損耗角增大為初始值的2~3倍時，預示著電解電容壽命的終結。通過檢查電容器上的紋波電流，可電容器的壽命。本文以連續(xù)工作模式的反激變換器輸出電容為例，重點從紋波電流角度電解電容的選型與壽命。

直流標準源參數(shù)操作

當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時，標準源視窗將處于直流標準源狀態(tài)。此時所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進行操作。

在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設置；設置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設定的標準直流信號。

對于直流參數(shù)的設置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處于關閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應幅度。

相位噪聲指標對于當前的射頻微波系統(tǒng)、移動通信系統(tǒng)、雷達系統(tǒng)等電子系統(tǒng)影響非常明顯，將直接影響系統(tǒng)指標的優(yōu)劣。該項指標對于系統(tǒng)的研發(fā)、設計均具有指導意義。相位噪聲指標的測試手段很多，如何能夠的測量該指標是射頻微波領域的一項重要任務。隨著當前接收機相位噪聲指標越來越高，相應的測試技術和測試手段也有了很大的進步。同時，與相位噪聲測試相關的其他測試需求也越來越多，如何準確的進行這些指標的測試也愈發(fā)重要。