HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6純度儀 SF6分解物測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做

露點(diǎn)	測(cè)量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

2017年《電動(dòng)汽車傳導(dǎo)充電互操作性標(biāo)準(zhǔn)》征求意見(jiàn)終稿的發(fā)布，電動(dòng)汽車及充電樁行業(yè)即將具備一個(gè)詳細(xì)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。在這個(gè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的監(jiān)督下電動(dòng)汽車與充電樁的兼容匹配性將會(huì)大大提高。本文將為大家淺析交流樁的互操作性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試系統(tǒng)組成標(biāo)準(zhǔn)中提及了交流充電樁測(cè)試系統(tǒng)的組成，如圖所示。主要包括車輛控制器模擬盒（測(cè)試交流充電樁的充電控制過(guò)程、異常充電狀態(tài)以及連接控制時(shí)序等）、交流電源（模擬電網(wǎng)供電特性）、負(fù)載（模擬電池消耗充電樁的輸出能量）、測(cè)試儀器（測(cè)量充電樁的電氣特性及控制信號(hào)狀態(tài)等）、主控機(jī)（控制車輛控制器模擬盒模擬充電過(guò)程的不同狀態(tài)、采集記錄測(cè)試儀器的測(cè)量數(shù)據(jù)生成測(cè)試報(bào)告）。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。樣品經(jīng)色譜柱分離后收集,再經(jīng)熒光分光光度計(jì)測(cè)熒光強(qiáng)度,影響因素多,測(cè)定復(fù)雜,改進(jìn)后的液相色譜-熒光法則可以不經(jīng)衍生化和收集分離物,只經(jīng)化學(xué)處理除雜,濃縮后直接進(jìn)樣即可。用該法測(cè)定貫葉連翹中金絲桃素的含量也取得了較好的結(jié)果。液相色譜-示差折光測(cè)黃芪精口服液中黃芪甲苷的含量也都取得了較為滿意的結(jié)果。對(duì)于只有紫外末端吸收,用紫外檢測(cè)時(shí)靈敏度低,基線易漂移,示差折光檢測(cè)其易受外界條件干擾,蒸發(fā)散射檢測(cè)器能克服以上不足,響應(yīng)值只與樣品質(zhì)量有關(guān),其信號(hào)相應(yīng)與質(zhì)量成正比,不同化合物,質(zhì)量相同則信號(hào)相應(yīng)基本一致。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

但一般有哪些行之有效的降低紋波噪聲的對(duì)策呢？下面我們拋磚引玉，簡(jiǎn)單討論常用的八個(gè)方法。電源PCB走線和布局反饋線路應(yīng)避開磁性元件、開關(guān)管及功率二極管。輸出濾波電容放置及走線對(duì)紋波噪聲至關(guān)重要，如所示，傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中由于到達(dá)每個(gè)電容的阻抗不一樣，所以高頻電流在三個(gè)電容中分配不均勻，改進(jìn)設(shè)計(jì)中可以看出每個(gè)回路長(zhǎng)度相當(dāng)即高頻電流會(huì)均勻分配到每個(gè)電容中。如果PCB是多層板，可以選擇和主電流回路層近一層覆地，覆地可以有效的解決噪聲問(wèn)題，注意，盡量保證覆地的完整性。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。電路板缺陷檢測(cè)包括兩部分:焊點(diǎn)缺陷檢測(cè)和元器件檢測(cè)，傳統(tǒng)的檢測(cè)采用人工檢測(cè)方法，容易漏檢、檢測(cè)速度慢、檢測(cè)時(shí)間長(zhǎng)、成本高，已經(jīng)逐漸不能夠滿足生產(chǎn)需要。設(shè)計(jì)一種搭載工業(yè)相機(jī)以取代人眼的機(jī)器視覺(jué)電路板檢測(cè)系統(tǒng)，具有非常重要的現(xiàn)實(shí)意義。機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)是建立在圖像處理算法的基礎(chǔ)上，通過(guò)數(shù)字圖像處理與模式識(shí)別的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)，與傳統(tǒng)的人工檢測(cè)技術(shù)相比，提高了缺陷檢測(cè)的效率和準(zhǔn)確度。機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)一般采用CCD或CMOS工業(yè)相機(jī)攝取檢測(cè)圖像并轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)，再通過(guò)計(jì)算機(jī)軟、硬件技術(shù)對(duì)圖像數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理，從而得到所需要的目標(biāo)圖像特征值，并由此實(shí)現(xiàn)零件識(shí)別或缺陷檢測(cè)等多種功能。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 整個(gè)系統(tǒng)中測(cè)徑儀、安裝在鋼軸生產(chǎn)線的現(xiàn)場(chǎng)，主控機(jī)柜安放在控制室。測(cè)徑儀與主控機(jī)柜間由一根三芯電源線和一根光纜連接，測(cè)徑儀的供、斷電由主控機(jī)柜通過(guò)電源線實(shí)現(xiàn)，測(cè)徑儀的數(shù)據(jù)信號(hào)通過(guò)光纜傳輸?shù)街骺貦C(jī)柜。測(cè)徑儀主要由下部測(cè)頭、上部測(cè)頭、測(cè)頭支板、直線導(dǎo)軌滑臺(tái)、步進(jìn)電機(jī)、外殼等組成。測(cè)頭采用我公司標(biāo)準(zhǔn)70測(cè)頭，單測(cè)頭測(cè)量范圍70mm，測(cè)量時(shí)鋼軸的上下跳動(dòng)在±35mm時(shí)均可正常測(cè)量。上部測(cè)頭安裝在直線導(dǎo)軌滑臺(tái)上，可根據(jù)被測(cè)鋼軸的外徑尺寸調(diào)整其與下部測(cè)頭的間距。