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HN2016智能sf6微水測試儀sf6微水測試儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡法露點測試儀 5年保修
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露點 |
測量范圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測量時間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環(huán)境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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用DSA13A可以對測試濾波器做簡單的定性，測試方法和實測效果如下圖所示。應(yīng)用實例圖測試連接方法為了確保通帶測量具有高的幅度精度，要求有好的原始和經(jīng)修正的系統(tǒng)特性。所以要做歸一化的操作。如所以，用線纜將TG輸出的GENOUTPUT與頻譜的RFINPUT連接，圖連接GENOUTPUT與RFINPUT連接后，做歸一化的操作。圖歸一化前后比較根據(jù)測試的具體濾波器，設(shè)置頻譜儀的參數(shù)。此測試中，將中心頻率CenterFreq設(shè)定為2GHz，帶寬Span設(shè)定為1MHz。
1、連接SF6設(shè)備
將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手擰緊，關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥；
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好，用扳手擰緊；
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請關(guān)機充電后繼續(xù)使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF6露點。
設(shè)備測量時間需要5～10分鐘，其后每臺設(shè)備需要3～5分鐘。
4、存儲數(shù)據(jù)
設(shè)備測量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。如所示，這種新技術(shù)使得Asterion比常規(guī)電源可以在更寬的電壓范圍內(nèi)實現(xiàn)滿功率輸出。，ix2電流倍增技術(shù)使得AMETEK程控電源Asterion系列產(chǎn)品比常規(guī)電源可以在更寬的電壓范圍內(nèi)實現(xiàn)滿功率輸出電流倍增技術(shù)使得AMETEK程控電源產(chǎn)品的輸出在電壓減少到額定電壓一半時候的輸出電流可以達到額定電流的二倍。ix2電流倍增技術(shù)可以實現(xiàn)電源在更大的電壓范圍內(nèi)實現(xiàn)滿功率輸出。所有的AMETKE程控電源新的Asterion電源都使用了ix2電流倍增技術(shù)。
5、測量其他設(shè)備
一臺設(shè)備測量后，關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。
6、測量結(jié)束
所有設(shè)備測量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。
所述存儲所述第n個補償余數(shù)具體包括：用第n個補償周期的補償余數(shù)覆蓋第n-1個補償周期的補償余數(shù)。一種應(yīng)用在電能表中RTC模塊的補償校準裝置，包括：溫度測量模塊，用于根據(jù)測量的RTC模塊的晶體溫度獲取時鐘校準所需的補償參數(shù)；控制模塊，用于根據(jù)所述補償參數(shù)和RTC模塊的補償單位計算補償校準值和補償余數(shù)，并根據(jù)所述補償校準值和所述補償余數(shù)對RTC模塊的時鐘頻率進行校準。所述控制模塊，具體用于在個補償周期中，按照所述補償校準值對所述RTC模塊的時鐘頻率進行校準，并將所述補償余數(shù)存入存儲模塊；所述存儲模塊，用于存儲所述補償余數(shù)。
1、保存數(shù)據(jù)
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁面，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設(shè)備進行編號。
設(shè)備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁面。
顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。干擾源、干擾種類及干擾現(xiàn)象傳感器及儀器儀表在現(xiàn)場運行所受到的干擾多種多樣，具體情況具體，對不同的干擾采取不同的措施是抗干擾的原則。這種靈活機動的策略與普適性無疑是矛盾的，解決的辦法是采用模塊化的方法，除了基本構(gòu)件外，針對不同的運行場合，儀器可裝配不同的選件以有效地抗干擾、提高可靠性。在進一步討論電路元件的選擇、電路和系統(tǒng)應(yīng)用之前，有必要影響模擬傳感器精度的干擾源及干擾種類。主要干擾源靜電感應(yīng)靜電感應(yīng)是由于兩條支電路或元件之間存在著寄生電容，使一條支路上的電荷通過寄生電容傳送到另一條支路上去，因此又稱電容性耦合。
3、刪除記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時間
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁面。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。
輸入小時、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。
因為顯示給出千分之一分貝的功率或分數(shù)赫茲的頻率并不意味著該儀有測量這些細微變化的能力。通常這些顯示的位數(shù)遠遠超過了儀器在這一水平的測量能力。要充分了解一個射頻儀器的測量能力，往往要參考說明書或數(shù)據(jù)表。前后一致的定義可以減少您測量中可能出現(xiàn)的混淆。以下是您在使用中會經(jīng)?？吹降囊恍╆P(guān)鍵術(shù)語：分辨率－儀器所能可靠檢測到的改變；重復(fù)性－在同樣條件下多次進行同一測量獲得相同結(jié)果的能力；不確定性－對被測量的準確值缺乏認知部分的量化；精度－儀器在一定誤差范圍內(nèi)測量一個參數(shù)實際/值的能力。