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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微量水分測試儀 氣體抽真空充放裝置 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測試儀 氣體抽真空充放裝置 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀sf6微量水分測試儀 氣體抽真空充放裝置 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
sf6微量水分測試儀 氣體抽真空充放裝置 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

我們也應(yīng)當(dāng)使A線路與B線路之間的延遲匹配和插入損耗匹配。此外,我們需要確保插入損耗不會太多,這樣的話,接收器能夠正確地恢復(fù)數(shù)據(jù)。為了滿足上述要求,A線路和B線路應(yīng)該在它們的物理布局布線中保持高對稱。發(fā)射器和接收器也應(yīng)該在它們的A和B線路電路中保持高對稱,這樣的話,它們在A線路和B線路上的電氣負(fù)載相等。設(shè)計(jì)差分對,以限度地減少失真在理想情況下,差分對是完全對稱的,此時(shí)具有無限帶寬并且鄰近信號之間完全隔離。sf6微量水分測試儀 氣體抽真空充放裝置 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。繼電器可以阻擋部分的損害,但是隨著系統(tǒng)的使用,繼電器使用的壽命將會大大地縮短。就算正確地操作系統(tǒng),但是如果進(jìn)行一些故障的設(shè)備測試,這個(gè)也會給開關(guān)系統(tǒng)造成很大的壓力。開關(guān)故障診斷方法由于開關(guān)系統(tǒng)的易損性,這就要求用戶采用一些針對開關(guān)系統(tǒng)的測試檢驗(yàn)的方式。在一些平臺上,VXI,就曾經(jīng)提供過一些繼電器的檢測的方法。這個(gè)方法包括了能夠一些不太協(xié)調(diào)的自檢方式,有時(shí)候它只是檢測控制系統(tǒng),而不是繼電器的連接(其實(shí)這部分是很容易損壞的)。sf6微量水分測試儀 氣體抽真空充放裝置 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

步進(jìn)馬達(dá),偏振片或柔光鏡,光學(xué)鏡頭組,CCD.CMOS或數(shù)碼相機(jī)等。測量時(shí),將待測的LED光源通過支架放置在曲面反光碗的焦點(diǎn)處。LED光源是180℃范圍發(fā)光,放置時(shí),發(fā)光面的方向是朝向曲面反光碗的。LED發(fā)出的光經(jīng)曲面反光碗反射形成光柱,直接照射至CCD.CMOS或數(shù)碼相機(jī)的光學(xué)鏡頭里,經(jīng)CCD.CMOS或數(shù)碼相機(jī)成像設(shè)備內(nèi)置程序自動測試判定,判定如果入射光光強(qiáng)過大(沒定閾值判定),則啟動馬達(dá)將偏振片或柔光片加在光路上,并用馬達(dá)對偏振片角度進(jìn)行調(diào)節(jié),如果光強(qiáng)值在允許范圍內(nèi),則在測量光路中,不需要加上偏振片或柔光片。sf6微量水分測試儀 氣體抽真空充放裝置 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。我們可以想象一臺具有實(shí)驗(yàn)室儀器的性能的、由電池供電的手持式光譜儀。屆時(shí),很多目前無法支持的應(yīng)用都能夠被實(shí)現(xiàn)。傳統(tǒng)光譜方法大多數(shù)色散紅外(IR)光譜測量在開始時(shí)都采用同樣的測量方式。將被的光穿過一個(gè)小狹縫,它與控制儀器分辨率的光柵組合在一起。這個(gè)衍射光柵是一個(gè)專門設(shè)計(jì)用于以已知角度反射不同波長光的元件。這些波長的空間分離使得其它系統(tǒng)能夠以波長為基礎(chǔ)測量光強(qiáng)度。光譜測量的傳統(tǒng)架構(gòu)的主要差別在于色散光的測量方式。sf6微量水分測試儀 氣體抽真空充放裝置 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 兩個(gè)光電碼盤安裝在軸的兩橫截面上,以檢測軸的扭轉(zhuǎn)角,它們隨軸一起轉(zhuǎn)動,光電碼盤上的遮擋齒或者通光孔掃過光電傳感器會周期性的遮擋和打電開關(guān)上光電檢測器與發(fā)光二極管之間的光路,觸發(fā)光電傳感器產(chǎn)生連續(xù)的光脈沖輸出,對應(yīng)的光電開關(guān)的輸出是同周期的低電平和高電平的脈沖。光柵正視圖與側(cè)視圖光柵法能對扭矩、轉(zhuǎn)速、軸功率進(jìn)行瞬時(shí)和長時(shí)間實(shí)時(shí)動態(tài)監(jiān)測,及時(shí)反映軸系運(yùn)行狀態(tài),提前主機(jī)、軸系故障的發(fā)生,提高設(shè)備利用率,降低維修費(fèi)用。sf6微量水分測試儀 氣體抽真空充放裝置 sf6氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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