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HN2016智能sf6微水測試儀sf6露點儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡式露點測試儀 30年經(jīng)驗
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露點 |
測量范圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測量時間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環(huán)境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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它的量程為8米，幾乎和一個足球場的長度相當。通常使用卷尺測量如此長的距離往往需要多次測量接力，而使用VH-8僅需一秒就能搞定。使用VH-8進行家庭測量也非常方便，通常使用卷尺量一個擺滿家具的房間大約需要15個步驟，少需要15分鐘。而使用VH-8僅需要3個步驟3分鐘就能搞定，可以節(jié)約時間。從下圖可以看出，使用普通卷尺需要兩個人才能測量的工作，使用VH-8一只手就能搞定?？梢栽趦牲c之間的任意位置測量，無需蹲在地板上或爬上梯子進行測量，**。
1、連接SF6設備
將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好，用扳手擰緊，關閉測量管道上另一端的針型閥；
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
后將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請關機充電后繼續(xù)使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF6露點。
設備測量時間需要5～10分鐘，其后每臺設備需要3～5分鐘。
4、存儲數(shù)據(jù)
設備測量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。任何一起在使用過程中都可能操作失誤或者使用方法不當，造成測試數(shù)據(jù)錯誤，儀器的保費損害，為了增加使用的壽命和儀器的度我們應該從使用把關。不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)無損檢測的特點就是能在不損壞試件材質(zhì)、結(jié)構(gòu)的前提下進行檢測，所以實施無損檢測后，產(chǎn)品的檢查率可以達到。并不是所有需要測試的項目和指標都能進行無損檢測，無損檢測技術(shù)也有自身的局限性。某些試驗只能采用破壞性試驗，在目前無損檢測還不能代替破壞性檢測。
5、測量其他設備
一臺設備測量后，關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備，按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。
6、測量結(jié)束
所有設備測量結(jié)束后，關閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。
電磁感應當兩個電路之間有互感存在時，一個電路中電流的變化就會通過磁場耦合到另一個電路，這一現(xiàn)象稱為電磁感應。變壓器及線圈的漏磁、通電平行導線等。漏電流感應由于電子線路內(nèi)部的元件支架、接線柱、印刷電路板、電容內(nèi)部介質(zhì)或外殼等絕緣，特別是傳感器的應用環(huán)境濕度較大，絕緣體的絕緣電阻下降，導致漏電電流增加就會引起干擾。尤其當漏電流流入測量電路的輸入級時，其影響就特別嚴重。射頻干擾主要是大型動力設備的啟動、操作停止的干擾和高次諧波干擾。
1、保存數(shù)據(jù)
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁面，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設備進行編號。
設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁面。
顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。手持式光譜儀是什么呢？手持式光譜儀是一種基于XRF光譜技術(shù)的光譜儀器，產(chǎn)品具有性能穩(wěn)定、使用靈活、可靠性高、維護簡便等優(yōu)點。今天我們就來具體介紹一下手持式光譜儀產(chǎn)品，希望可以幫助用戶更好的應用產(chǎn)品。手持式光譜儀的應用手持式光譜儀當能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴，使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài)，當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應。
3、刪除記錄
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時間
在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁面。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。
輸入小時、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。
PerformanceTest即特定場景(SISO/MIMO)下的吞吐量測試5G的到來，為OTA測試帶來了新挑戰(zhàn)5G時代，系統(tǒng)頻段更高，此外MassiveMIMO技術(shù)的應用，使得傳統(tǒng)的傳導復雜程度大大提高，除了，端也不得不進行OTA測試。5GOTA測試面臨著一系列的新挑戰(zhàn)5GOTA測量需支持兩個頻段：FR1—6GHz以下頻段以及FR2—毫米波頻段。端引入的MassiveMIMO技術(shù)要求其至少支持8X8陣列天線，陣列合成波束的直接遠場測試對暗室尺寸要求很大。