HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 5年保修

露點(diǎn)	測(cè)量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

MEMS麥克風(fēng)的高品質(zhì)主要是受到消費(fèi)電子市場(chǎng)需求的驅(qū)動(dòng)而發(fā)展。在設(shè)計(jì)高品質(zhì)聲級(jí)計(jì)時(shí)也需要考慮它們的特性。注：聲級(jí)計(jì)是基本的噪聲測(cè)量?jī)x器，它是一種電子儀器，但又不同于電壓表等客觀電子儀表。在把聲信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)時(shí)，可以模擬人耳對(duì)聲波反應(yīng)速度的時(shí)間特性；對(duì)高低頻有不同靈敏度的頻率特性以及不同響度時(shí)改變頻率特性的強(qiáng)度特性。聲級(jí)計(jì)是一種主觀性的電子儀器。MEMS是一種微型機(jī)電系統(tǒng)，采用與制造微電子電路相同的材料（通常是硅）和蝕刻技術(shù)進(jìn)行制造（見(jiàn)）。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開(kāi)始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。在此基礎(chǔ)上，多T/R組件并行測(cè)試實(shí)現(xiàn)還是一個(gè)比較棘手的問(wèn)題。概況來(lái)講，主要包括如下幾個(gè)方面的問(wèn)題：測(cè)試資源競(jìng)爭(zhēng)和死鎖問(wèn)題測(cè)試資源競(jìng)爭(zhēng)問(wèn)題：在執(zhí)行過(guò)程中多個(gè)測(cè)試任務(wù)需要同時(shí)訪問(wèn)一個(gè)資源所引起的問(wèn)題，都需要矢量網(wǎng)絡(luò)儀怎么處理？死鎖問(wèn)題：多個(gè)測(cè)試任務(wù)互相等待對(duì)方釋放自己所需資源，從而導(dǎo)致這些測(cè)試都無(wú)法繼續(xù)運(yùn)行的問(wèn)題。多線程測(cè)試任務(wù)管理問(wèn)題并行測(cè)試是多線程執(zhí)行模式，這就出現(xiàn)了如何對(duì)這些測(cè)試任務(wù)進(jìn)行全生命周期有效管理的問(wèn)題。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

很多產(chǎn)品在做產(chǎn)品**認(rèn)證時(shí)都會(huì)遇到產(chǎn)品測(cè)試不合格的情況，尤其是在電磁兼容測(cè)試（即EMC測(cè)試）出錯(cuò)頻率更是普遍。當(dāng)產(chǎn)品一旦測(cè)試不合格，那么隨之而來(lái)的肯定是EMC整改通知書(shū)。在EMC整改過(guò)程中很多管理人和技術(shù)人員并不太明白該從何處入手？作為產(chǎn)品質(zhì)量**認(rèn)證重要指標(biāo)之一的EMC測(cè)試，通過(guò)測(cè)試產(chǎn)品在電磁方面的干擾大小和抗干擾能力的綜合評(píng)定。下面將EMC整改常遇到的問(wèn)題和一些整改建議。我們來(lái)從EMC測(cè)試項(xiàng)目構(gòu)成說(shuō)起，EMC主要包含兩大項(xiàng)：EMI（干擾）和EMS（產(chǎn)品抗干擾和敏感度）。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。拉曼光譜技術(shù)在材料科學(xué)研究中的應(yīng)用拉曼光譜在材料科學(xué)中是物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究的有力工具，在相組成界面、晶界等課題中可以做很多工作。包括：薄膜結(jié)構(gòu)材料拉曼研究：拉曼光譜已成CVD（化學(xué)氣相沉積法）制備薄膜的檢測(cè)和鑒定手段。拉曼可以研究單、多、微和非晶硅結(jié)構(gòu)以及硼化非晶硅、氫化非晶硅、金剛石、類金剛石等層狀薄膜的結(jié)構(gòu)。超晶格材料研究：可通過(guò)測(cè)量超晶格中的應(yīng)變層的拉曼頻移計(jì)算出應(yīng)變層的應(yīng)力，根據(jù)拉曼峰的對(duì)稱性，知道晶格的完整性。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 當(dāng)某一部分的可靠性指標(biāo)無(wú)法滿足時(shí)，可采用冗金設(shè)計(jì)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)。國(guó)外孔板流量計(jì)不僅注重儀表本身的可靠性設(shè)計(jì)，并對(duì)使用可壞性也要加以設(shè)計(jì)考慮。一般電孔板流量計(jì)產(chǎn)品的可靠性屬于指數(shù)分布，而機(jī)械加工件多的儀表其可靠性屬于正態(tài)分布，實(shí)際計(jì)算起來(lái)并不很復(fù)雜。我國(guó)的孔板流量計(jì)設(shè)計(jì)應(yīng)對(duì)此加以重視，這是產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)重要關(guān)鍵環(huán)節(jié)。注重維修性設(shè)計(jì)維修性不僅包括使用中產(chǎn)品的維修，還包括生產(chǎn)階段孔板流量計(jì)的校準(zhǔn)功能、調(diào)試功能和維修功能等技術(shù)指標(biāo)，維修住必須在設(shè)計(jì)階段加以保證。