HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

露點(diǎn)	測(cè)量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

切割好后將光纖小心置入熔接機(jī)的V型槽內(nèi)，關(guān)上防風(fēng)罩，按下熔接機(jī)的放電鍵.即可自動(dòng)完成熔接，只需11秒。移出光纖用加熱爐加熱熱縮管。打開(kāi)防風(fēng)罩，把光纖從熔接機(jī)上取出，再將熱縮管放在裸纖中心，放到加熱爐中加熱。加熱器可使用20mm微型熱縮套管和40mm及60mm一般熱縮套管，20mm熱縮管需40秒，60mm熱縮管為85秒。。將接續(xù)好的光纖盤到光纖收容盤上，在盤纖時(shí)，盤圈的半徑越大，弧度越大，整個(gè)線路的損耗越小。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開(kāi)始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。紅外攝像機(jī)因?yàn)闊o(wú)損檢測(cè)使用的紅外攝像機(jī)要以高靈敏度捕捉瞬變現(xiàn)象，因此需要有高時(shí)間分辨率的高幀速率。每個(gè)像素的空間分辨率由與紅外攝像機(jī)一起使用的透鏡所決定的空間分辨率視角決定，如要檢測(cè)大型目標(biāo)和精細(xì)區(qū)域，要使用高像素的紅外攝像機(jī)。2.光激發(fā)無(wú)損檢測(cè)-光學(xué)增強(qiáng)方法的基本原理為光激發(fā)無(wú)損檢測(cè)裝置概圖。該方法分為所示的脈沖熱成像和所示的鎖相熱成像兩種。-脈沖熱成像的基本原理脈沖熱成像方法通過(guò)瞬間燈光激發(fā)使測(cè)量對(duì)象出現(xiàn)溫度上升,在溫度下降的過(guò)程中，通過(guò)圖像顯示正常位置和缺陷位置出現(xiàn)的溫度變化和時(shí)間相位滯后。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

電阻式檢流電阻用電阻測(cè)量電流是一種直接方法，優(yōu)點(diǎn)是簡(jiǎn)單，線性度好。檢流電阻與被測(cè)電流放在一個(gè)電路里，流經(jīng)電阻的電流會(huì)使一小部分電能轉(zhuǎn)化為熱。這個(gè)能量轉(zhuǎn)換過(guò)程產(chǎn)生了電壓信號(hào)。除了簡(jiǎn)單易用和線性度好的特點(diǎn)，檢流電阻的性價(jià)比也很好，溫度系數(shù)（TCR）穩(wěn)定，可以達(dá)到100ppm/℃以下或0.01%/℃，不會(huì)受潛在的雪崩倍增或熱失控的影響。還有，低阻（小于1mΩ）的金屬合金檢流電阻的抗浪涌能力非常好，在出現(xiàn)短路和過(guò)流情況時(shí)，能實(shí)現(xiàn)可靠的保護(hù)。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。系統(tǒng)描述AOI是檢測(cè)PCB表面圖形品質(zhì)(如表面缺陷、斷路和短路)的設(shè)備，用于生產(chǎn)過(guò)程中半成品品質(zhì)檢測(cè)，是高精密單層印制板，尤其是多層印制板加工的關(guān)鍵技術(shù)。測(cè)試系統(tǒng)集光學(xué)、精密機(jī)械、識(shí)別診斷算法和計(jì)算機(jī)技術(shù)于一體。檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過(guò)電荷耦合器件(CCD)或激光自動(dòng)掃描PCB，采集圖像后送與計(jì)算機(jī)處理，再與數(shù)據(jù)庫(kù)中的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)比較，查出PCB上缺陷，用顯示器或自動(dòng)標(biāo)識(shí)系統(tǒng)顯示或標(biāo)識(shí)缺陷，供維修人員修理。項(xiàng)目產(chǎn)品清單主控設(shè)備：研祥EPI整機(jī)IPC-685E該主控設(shè)備的主板是一款采用IntelG41芯片組，支持IntelLGA775封裝雙核、四核E53、E84、Q94等系列CPU的高性能平臺(tái)；支持2條8/166M的DDR3內(nèi)存條，總?cè)萘恐С?GB；板載1個(gè)1/1/1Mbps網(wǎng)絡(luò)接口；支持VGA+VGA雙顯示功能；支持4個(gè)SATA接口；USB2.接口、2個(gè)串口(其中1個(gè)支持RS-232/RS-422/RS-485)、1個(gè)并口等豐富的I/O接口。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 流量測(cè)量技術(shù)它與傳統(tǒng)意義上度量衡計(jì)量的應(yīng)用有很大差別，它不是簡(jiǎn)單地將流量計(jì)安裝好，開(kāi)表投運(yùn)就一定能達(dá)到測(cè)量目的。曾經(jīng)有兩位專家對(duì)現(xiàn)場(chǎng)裝用著地千余臺(tái)流量?jī)x表進(jìn)行調(diào)查，發(fā)現(xiàn)約有60％所選擇地測(cè)量方法不是合適或不正確，其余地40％中，約有一半雖然測(cè)量方法合適，卻存在現(xiàn)場(chǎng)布置和安裝地不合理現(xiàn)象，這些不合適、不正確和不合理，帶來(lái)了相應(yīng)地測(cè)量誤差。因此流量測(cè)量是一種強(qiáng)烈依賴于使用條件地測(cè)量，在實(shí)驗(yàn)室，流量計(jì)可以得到極高地度，但是在使用現(xiàn)場(chǎng)，一旦流體條件或環(huán)境條件有大的變化，不僅度無(wú)法保證，甚至無(wú)法進(jìn)行正常測(cè)量。