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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 定制定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 定制定做
冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 定制定做

露點(diǎn)

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

本文說明了一種通用的集成電路RF噪聲測量技術(shù)。RF抗干擾能力測試將電路板置于可控制的RF信號(hào)電平下,RF電平代表電路工作時(shí)可能受到的干擾強(qiáng)度。從而產(chǎn)生了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化、結(jié)構(gòu)化的測試方法,使用這種方法能夠得到在質(zhì)量中可重復(fù)的測試結(jié)果。這樣的測試結(jié)果有助于IC選型,從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路??梢詫⒈粶y器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩,以測試其RF敏感度。為了得到一個(gè)的、具有可重復(fù)性的測試結(jié)果,需要采用一種固定的測量方法,在可重復(fù)的RF場內(nèi)測試DUT。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 定制定做1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。作為21世紀(jì)具發(fā)展?jié)摿Φ募夹g(shù)之一,RFID技術(shù)的發(fā)展帶來了巨大的市場價(jià)值。RFID技術(shù)已廣泛的應(yīng)用在了零售業(yè)、物流業(yè)、制造業(yè)等諸多領(lǐng)域。在領(lǐng)域,由于飛機(jī)制造商、零部件供應(yīng)商和公司的通力合作,RFID技術(shù)已經(jīng)滲透到領(lǐng)域供應(yīng)鏈系統(tǒng)的各個(gè)環(huán)節(jié),但整體上,RFID技術(shù)在領(lǐng)域起步較晚,在我國領(lǐng)域的應(yīng)用起步更晚。開展領(lǐng)域RFID技術(shù)研究具有重要意義。領(lǐng)域射頻識(shí)別技術(shù)應(yīng)用布局RFID技術(shù)在領(lǐng)域的應(yīng)用,按大類分,目前主要分為三個(gè)大的方向,包括制造、運(yùn)營與維護(hù)、機(jī)場管理等。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 定制定做

5、測量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

測試項(xiàng)目:RFID測試主要是對(duì)讀寫器和標(biāo)簽之間通信的無線電訊號(hào)進(jìn)行測量,以此評(píng)估RFID讀寫器的工作狀態(tài)和性能指標(biāo)。本次測試對(duì)象是低頻RFID讀寫模塊,射頻信號(hào)頻率125KHz,支持識(shí)別EM4001/4002及兼容的ID卡。當(dāng)識(shí)別到ID片時(shí),模塊TXD管腳會(huì)輸出卡號(hào)信息,信號(hào)類型為TTL-RS232信號(hào)。測量目標(biāo):射頻信號(hào)的載波頻率,輸出功率,占用帶寬,信道功率等選用儀器:選用鼎陽科技SSA3000X頻譜儀,SPD3303X-E線性直流電源和SDS1204X-E超級(jí)熒光示波器,分別用于測量、供電和信號(hào)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 定制定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。尤其在使用高速數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)時(shí),攔截大量信息所需要的時(shí)間顯著低于攔截低速數(shù)據(jù)傳輸所需要的時(shí)間。數(shù)據(jù)雙絞線中的絞合線對(duì)在低頻下可以靠自身的絞合來抵抗外來干擾及線對(duì)之間的串音,但在高頻情況下(尤其在頻率超過250MHz以上時(shí)),僅靠線對(duì)絞合已無法達(dá)到抗干擾的目的,只有才能夠抵抗外界干擾。電纜層的作用就像一個(gè)法拉第護(hù)罩,干擾信號(hào)會(huì)進(jìn)入到層里,但卻進(jìn)入不到導(dǎo)體中。數(shù)據(jù)傳輸可以無故障運(yùn)行。由于電纜比非電纜具有較低的輻射散發(fā),因而防止了網(wǎng)絡(luò)傳輸被攔截。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 定制定做

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 如分子結(jié)構(gòu)與組成、立體規(guī)整性、結(jié)晶與去向、分子相互作用,以及表面和界面的結(jié)構(gòu)等。從拉曼峰的寬度可以表征高分子材料的立體化學(xué)純度。如無規(guī)立場試樣或頭-頭,頭-尾結(jié)構(gòu)混雜的樣品,拉曼峰是弱而寬,而高度有序樣品具有強(qiáng)而尖銳的拉曼峰。研究內(nèi)容包括:化學(xué)結(jié)構(gòu)和立構(gòu)性判斷、組分定量、動(dòng)力學(xué)過程研究、高分子取向研究聚合物共混物的相容性以及分子相互作用研究、復(fù)合材料應(yīng)力松弛和應(yīng)變過程的監(jiān)測、聚合反應(yīng)過程和聚合物固化過程監(jiān)控。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 定制定做


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