HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點儀 SF6綜合測試儀 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量

露點	測量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

可在惡劣天氣下使用。堅固耐用、全天候應用。設計緊湊、易于使用。選擇32×24或64×48熱分辨率；選擇的分辨率越高，圖像細節(jié)和距離性能更優(yōu)。mm到1mm的可更換鏡頭。紅外夜視儀讓您能夠在漆黑的環(huán)境下看清物體。高達2倍，4倍的電子變焦讓您能夠獲得更多細節(jié)信息。捕獲靜態(tài)圖像和。電子變焦4倍電子變焦產(chǎn)品圖例可切換鏡頭應用領域人員和搜救組織難以組織難以在漆黑環(huán)境中或惡劣天氣下尋找失蹤人員。1、連接SF₆設備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手擰緊，關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF₆電氣設備測量接口連接好，用扳手擰緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請關(guān)機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設備測量時間需要5～10分鐘，其后每臺設備需要3～5分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設備測量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。Sirault博士解釋說：“在APPF的CSIRO分支機構(gòu)進行的研究中廣泛使用了紅外技術(shù)。這項技術(shù)已被用于研究作物中的氣孔反應以及根據(jù)氣孔行為差異對植物表型進行鑒定，如用于鹽分或耐旱性和/或水分利用效率性狀的基因研究，”“這項技術(shù)通常作為由合作研究基礎設施提供的正在進行的服務的一部分，根據(jù)冠層溫度變化（代替蒸騰速率），每年在繁殖種群中篩選數(shù)萬種基因型。”冠層溫度是植物通過氣孔對環(huán)境條件的反應來管理其水分利用的有力指標。

5、測量其他設備

一臺設備測量后，關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備，按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。

6、測量結(jié)束

所有設備測量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進入功能菜單，如圖1。

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進入保存數(shù)據(jù)頁面，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設備進行編號。

設備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。建筑工程、土木研究中，測量儀器為各項建筑工作提供數(shù)據(jù)，擔負著重要使命。隨著科技的發(fā)展，測量儀器種類漸多，功能也更加。選購測量儀器，要了解測量儀器有哪些，根據(jù)所需選購合適的測量儀器，然后熟練掌測量儀器的使用方法。電子測量儀的種類很多，包括多用電表、示波器、信號發(fā)生器、全站儀等。二次元測量儀又稱影像儀、影像測量儀、二維影像測量儀等，包括手動影響儀和自動影像測量儀。三坐標測量儀根據(jù)操作方式分類，有手動、馬達驅(qū)動和CNC等三種型式。

3、刪除記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 可靠性是對產(chǎn)品耐久力的測量，我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。集成電路的失效原因大致分為三個階段：階段被稱為早期失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率快速下降，造成失效的原因在于IC設計和生產(chǎn)過程中的缺陷；階段被稱為偶然失效期,這個階段產(chǎn)品的失效率保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等；階段被稱為損耗失效期，這個階段產(chǎn)品的失效率會快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長期使用所造成的老化等。