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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

CAN總線不一致的危害復(fù)雜的CAN網(wǎng)絡(luò),各個(gè)節(jié)點(diǎn)質(zhì)量良莠不齊會對CAN總線網(wǎng)絡(luò)存在較大的**隱患,通常會因?yàn)槠渲心骋粋€(gè)節(jié)點(diǎn)的錯(cuò)誤進(jìn)而影響整體總線正常運(yùn)行,乃至導(dǎo)致整體總線的。總線比如一個(gè)CAN網(wǎng)絡(luò)包含節(jié)點(diǎn)C,節(jié)點(diǎn)A差分電壓是1.2V,而節(jié)點(diǎn)B的差分電壓是2.0V,節(jié)點(diǎn)C差分電壓是1.8V。當(dāng)整車CAN網(wǎng)絡(luò)工作在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下,環(huán)境的共模干擾串?dāng)_到CAN總線中會使節(jié)點(diǎn)A的差分電壓影響到0.9V以下,導(dǎo)致節(jié)點(diǎn)從顯性電平翻轉(zhuǎn)成為隱性電平,進(jìn)而導(dǎo)致了節(jié)點(diǎn)A工作故障,頻繁發(fā)出錯(cuò)誤幀。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。當(dāng)金屬球體的半徑遠(yuǎn)大于信號波長λ時(shí)15λ,并且球和雷達(dá)的距離R15λ時(shí),此金屬球的雷達(dá)散射截面與信號頻率無關(guān)。雷達(dá)散射界面的基本概念雷達(dá)方程為典型的雷達(dá)方程描述,發(fā)射信號功率Pt通過增益為Gt的發(fā)射天線,并通過空間的衰減(距離為R)后,遇到目標(biāo)并將部分信號功率(反射信號與入射信號的功率比為目標(biāo)的雷達(dá)散射截面)反射回雷達(dá)接收天線,同樣經(jīng)過空間衰減,通過增益為Gr的接收天線得到功率為Pr,Pr與以上這些參數(shù)的關(guān)系在方程中表示。2選擇數(shù)據(jù)記錄功能4.1.3導(dǎo)出抓包數(shù)據(jù)可以通過wirshark等方軟件工具打開4.1.4測試結(jié)果4.2.TimeMeasurements-時(shí)序測試4.2.1設(shè)置過濾條件參考4.1.1設(shè)置過濾條件如下,比如設(shè)置LWR報(bào)文指令,位置如下4.2.2選擇時(shí)序測試功能在彈出來的時(shí)序圖,可根據(jù)不同端口port的設(shè)置來確定不同參數(shù)的設(shè)置,比如fromporttoport,是用來測試circletime。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

工程師用四通道在線編程器P8-ISP對客戶樣機(jī)編程時(shí),發(fā)現(xiàn)現(xiàn)象確如客戶所說的一致。憑著豐富的編程調(diào)試經(jīng)驗(yàn),我們的工程師將問題為芯片被誤操作,導(dǎo)致被加密,查閱芯片技術(shù)手冊后將根源鎖定到2個(gè)寄存器上。為了解決這個(gè)問題,工程師將P8-ISP的時(shí)序代碼作相應(yīng)的修改,在執(zhí)行擦除、編程操作之前,將2個(gè)寄存器的置位順序做了調(diào)整,使MCU處于解密狀態(tài),確保芯片在編程過程中不會被誤加密。采用更新好時(shí)序的P8-ISP來燒寫MCU后,客戶的汽車電子標(biāo)簽(OBU)燒片效率和良品率都有了明顯提高,百萬套OBU量產(chǎn)也不再是難事。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。由于FRAM可以在低供電電壓下工作,因此無需充電泵來產(chǎn)生升高的編程電壓。集成無線電符合ISO15693,允許使用標(biāo)準(zhǔn)NFC/RFID讀取器或啟用NFC的智能來讀取傳感器。RF430FRL15xH還提供了一個(gè)評估套件,由一塊基板以及集成天線與環(huán)境光和溫度傳感器組成。支持固件包括RF堆棧、驅(qū)動(dòng)程序庫和引導(dǎo)代碼。受TI設(shè)計(jì)環(huán)境支持。另外還提供傳感器集線器增強(qiáng)包擴(kuò)展板,其中含有MEMS運(yùn)動(dòng)傳感器和壓力、濕度、溫度和光傳感器。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 應(yīng)用背景用頻裝備是現(xiàn)代化戰(zhàn)爭中的重要組成部分,在很多場合用頻裝備性能指標(biāo)的高低直接決定了戰(zhàn)爭全局的勝敗。然而,在的實(shí)際戰(zhàn)區(qū)的電磁環(huán)境中,充斥著種類繁多的復(fù)雜電磁信號,雷達(dá)、導(dǎo)航、通信、敵方干擾、自然噪聲等信號。同時(shí)由于電磁信號的傳播受到實(shí)際地理環(huán)境的顯著影響,導(dǎo)致戰(zhàn)區(qū)電磁環(huán)境異常復(fù)雜。用頻裝備在復(fù)雜電磁環(huán)境下的性能測試成為其研制過程中的重要內(nèi)容。概括來說,裝備的電磁性能測試按環(huán)境不同可分為三類。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器測試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量


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