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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

三大功能的組合?FFT功能:可以有效地信號(hào)中的噪聲的頻域范圍;?數(shù)字濾波功能:可以有效地過濾信號(hào)中的噪聲成分;?自動(dòng)測(cè)量功能:可以用于測(cè)量經(jīng)過數(shù)算或者數(shù)字濾波后的波形的各個(gè)參數(shù)指標(biāo)。如上所述,我們已經(jīng)無形中就將“FFT+數(shù)字濾波+自動(dòng)測(cè)量”組合成了一個(gè)可用于噪聲、減少噪聲、波形測(cè)量的利器,可有效地用于存在干擾的被測(cè)信號(hào)的干擾和快速測(cè)量。下面,我們就用這個(gè)利器來解決一個(gè)經(jīng)常會(huì)遇到的信號(hào)測(cè)量的問題。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。晶振,是電路中重要的電子元件,控制著系統(tǒng)運(yùn)行的節(jié)拍?;诓煌膽?yīng)用場(chǎng)景,晶振有多種類型,無源晶振是其中價(jià)格便宜而又應(yīng)用廣泛的一種。在使用示波器測(cè)量無源晶振輸出頻率時(shí),常常會(huì)發(fā)現(xiàn)晶振有輸出無信號(hào)、晶振不起振等異常情況。本文就此情況略談一二。無源晶振簡介無源晶振,準(zhǔn)確來說應(yīng)叫Crystal(晶體),有源晶振則叫Oscillator(振蕩器)。無源晶振是在石英晶片的兩端鍍上電極而成,其兩管腳是無極性的。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)在目前的觀測(cè)網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)中,采用的是直流輸電系統(tǒng)。直流輸電系統(tǒng)相對(duì)于交流供電系統(tǒng)主要有線路造價(jià)低、調(diào)節(jié)速度快等優(yōu)點(diǎn)。在直流輸電系統(tǒng)中又分為恒壓供電和恒流供電兩種方式。對(duì)于觀測(cè)網(wǎng)絡(luò),部分系統(tǒng)采用恒壓供電,但其供電系統(tǒng)復(fù)雜,設(shè)置有大量的控制裝置和復(fù)雜龐大的電源變控系統(tǒng),并且存在故障隔離難度大、不適合遠(yuǎn)距離供電、變換器復(fù)雜等缺點(diǎn),沒有得到廣泛的應(yīng)用。相對(duì)于恒壓供電方式,恒流供電具有故障自動(dòng)隔離、**可靠、供電距離遠(yuǎn)、可帶負(fù)載多、轉(zhuǎn)換電路簡單、需高壓轉(zhuǎn)換電路等優(yōu)點(diǎn),本課題采用串聯(lián)恒流供電方式。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。實(shí)際使用中,儀體的安裝環(huán)境,多少都會(huì)受到外部的溫度變化或者其他干擾的影響。要確認(rèn)記錄儀在實(shí)測(cè)環(huán)境下的測(cè)量精度,并且盡量選擇不容易受到外部影響的產(chǎn)品。高可靠性記錄儀需要長時(shí)間連續(xù)信號(hào)測(cè)試,對(duì)可靠性和耐久性都有較高的要求。并且,記錄儀經(jīng)常需要長時(shí)間放置在比較惡劣的環(huán)境中使用,較高的環(huán)境耐用性也是其可靠性的重要表現(xiàn)。可靠性還體現(xiàn)在記錄數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)上,為確保測(cè)試結(jié)果的可靠性,要求記錄儀的記錄數(shù)據(jù)能夠**有效地存儲(chǔ)并且不易被篡改。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 可控硅檢測(cè)方案電控系統(tǒng)長時(shí)間運(yùn)行后,電發(fā)動(dòng)機(jī)會(huì)出現(xiàn)跳閘等故障。基于此,對(duì)可控硅性能好壞進(jìn)行檢測(cè),對(duì)于系統(tǒng)的日常維護(hù)、保證正常運(yùn)轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對(duì)電氣設(shè)備的檢測(cè)設(shè)備及方法有萬用表、漏電儀、搖表,另外,還可以利用示波器觀測(cè)導(dǎo)通電流以判斷可控硅導(dǎo)通情況。在實(shí)際生產(chǎn)中,僅采用萬用表無法判斷可控硅的故障。下面對(duì)幾種檢測(cè)方法進(jìn)行對(duì)比,以得出可控硅檢測(cè)的方法。漏電儀檢測(cè)法(耐壓試驗(yàn))采用大電流發(fā)生器(簡稱升流器)對(duì)可控硅K兩極之間進(jìn)行漏電試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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