HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

露點(diǎn)	測(cè)量范圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

Simplelink傳感器控制器是的16位處理單元(CPU)核心，在活動(dòng)模式、待機(jī)模式和啟動(dòng)耗能階段均只消耗極低功率。如圖2所示，該傳感器控制器包括模擬和數(shù)字外圍設(shè)備，它們專為實(shí)現(xiàn)超低功率而進(jìn)行了優(yōu)化。利用這些外圍設(shè)備和2MHz時(shí)鐘模式，使得該控制器非常適合感應(yīng)式測(cè)量應(yīng)用，從而實(shí)現(xiàn)超低功率：，基于感應(yīng)式測(cè)量原則，可以在100Hz時(shí)達(dá)到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情，請(qǐng)參閱流量表應(yīng)用示例，閱讀“采用CC13x2R無線MCU的單芯片流量表解決方案。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。紅外線測(cè)溫儀的標(biāo)準(zhǔn)化檢定方法是采用黑體爐檢定。黑體是指在任何情況下對(duì)一切波長(zhǎng)的入射輻射的吸收率都等于1的物體，黑體是一種理想化的物體模型，因此引入了一個(gè)隨材料性質(zhì)及表面狀態(tài)變化的輻射系數(shù)，即發(fā)射率，它的定義為實(shí)際物體與同溫度黑體輻射性能之比。物體的輻射與吸收紅外輻射規(guī)律滿足基爾霍夫定律，當(dāng)一束輻射投射到任一物體表面時(shí)，根據(jù)能量守恒原理，物體對(duì)入射輻射的吸收率、反射率、透過率三者之和必等于1，一般發(fā)射率不容易測(cè)定，通常可通過測(cè)量吸收率來確定發(fā)射率，所以黑體輻射源作為輻射標(biāo)準(zhǔn)用來檢定紅外輻射源的輻射強(qiáng)度。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。標(biāo)準(zhǔn)中均涉及一項(xiàng)重要測(cè)試即振動(dòng)（復(fù)合溫度）試驗(yàn)，本文以下將重點(diǎn)介紹利用艾德克斯IT6400系列電源，對(duì)**氣囊系統(tǒng)進(jìn)行振動(dòng)模擬測(cè)試。振動(dòng)（復(fù)合溫度）試驗(yàn)振動(dòng)（復(fù)合溫度）試驗(yàn)是將**氣囊系統(tǒng)置于一定的溫濕度條件下，同時(shí)按規(guī)定的周期將電振動(dòng)應(yīng)力施加到待測(cè)**氣囊上，去模擬待測(cè)物在運(yùn)輸過程中或者汽車行駛在不同道路狀況下對(duì)于**氣囊的振動(dòng)疲勞破壞，更客觀評(píng)價(jià)**氣囊在溫濕度和振動(dòng)復(fù)合環(huán)境下的適應(yīng)能力。實(shí)際工作過程中，**氣囊必須在通電狀態(tài)下才能發(fā)揮作用，因此如上圖表所示，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)中均規(guī)定需“模擬工作狀態(tài)加載脈沖電流”。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經(jīng)把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上，用于修復(fù)部分此類問題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控制器。CPU仍然是主要的處理器件，附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見于成本敏感性產(chǎn)品中，但也在低級(jí)任務(wù)中用作小型協(xié)處理器，以減輕主處理器的負(fù)擔(dān)，從而提升效率。另一方面FPGA也正在朝著類似的目標(biāo)前進(jìn)，雖然是從另一個(gè)方向。賽靈思和Altera多年來一直在添加軟硬核處理器以創(chuàng)建片上系統(tǒng)。