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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:青島華能供應 HN2016 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。青島華能供應 HN2016 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀青島華能供應 HN2016 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗
青島華能供應 HN2016 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗

露點

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

EMI測試技術目前診斷差模共模干擾的三種方法:射頻電流、差模網(wǎng)絡、噪聲分離網(wǎng)絡。用射頻電流是測量差模共模干擾簡單的方法,但測量結果與標準限值比較要經(jīng)過較復雜的換算。差模網(wǎng)絡結構比較簡單,測量結果可直接與標準限值比較,但只能測量共模干擾。噪聲分離網(wǎng)絡是的方法,但其關鍵部件變壓器的制造要求很高。目前干擾的幾種措施形成電磁干擾的三要素是干擾源、傳播途徑和受擾設備。因而,電磁干擾也應該從這三方面著手。青島華能供應 HN2016 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗1、連接SF6設備

將測量管道上螺紋端與開關接頭連接好,用扳手擰緊,關閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關接頭與SF6電氣設備測量接口連接好,用扳手擰緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關機充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。

設備測量時間需要510分鐘,其后每臺設備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。終,一個為多家汽車廠商提供子部件的廠家就有可能必須根據(jù)不同的標準,采用不同的方法,在同一個頻率范圍內(nèi)測試同樣的部件。為了滿足客戶的測試需求,部件廠商可以采用一系列針對ISO11452和SAEJ1113中包含的RF測試規(guī)范而設計的汽車部件測試系統(tǒng)來幫助完成工作。這些測試系統(tǒng)通常都是自含(self-contained)系統(tǒng),遵循所有標準中規(guī)定的級別測試規(guī)范。采用這樣的系統(tǒng)之后,部件廠商在對多個標準進行測試時,用到的許多測試儀器都是相同的,因而能節(jié)省大量資金。青島華能供應 HN2016 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗

5、測量其他設備

一臺設備測量后,關閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設備。

6、測量結束

所有設備測量結束后,關閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。

有必要采用一些其他方法來提高傳導EMI的性能。本文主要討論的是引入輸入濾波器來濾除噪聲,或增加罩來鎖住噪聲。EMI濾波器示意簡圖是一個簡化的EMI濾波器,包括共模(CM)濾波器和差模(DM)濾波器。通常,DM濾波器主要用于濾除小于30MHz的噪聲(DM噪聲),CM濾波器主要用于濾除30MHz至100MHz的噪聲(CM噪聲)。但其實這兩個濾波器對于整個頻段的EMI噪聲都有一定的作用。顯示了一個不帶濾波器的輸入引線噪聲,包括正向噪聲和負向噪聲,并標注了這些噪聲的峰值水平和平均水平。青島華能供應 HN2016 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設備進行編號。

設備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁面。

顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。CSP(ChipScalePACkage):芯片級封裝,該方式相比BGA同等空間下可以將存儲容量提升三倍,是由日本三菱公司提出來的。DIP(DualIn-linePACkage):雙列直插式封裝,插裝型封裝之一,指采用雙列直插形式封裝的集成電路芯片,體積比較大。MCM(MultiChipModel):多芯片模塊封裝,可根據(jù)基板材料分為MCM-L,MCM-C和MCM-D三大類。QFP(QuadFlatPackage):四側(cè)引腳扁平封裝,表面貼裝型封裝之一,引腳通常在100以上,適合高頻應用,基材方面有陶瓷、金屬和塑料三種。青島華能供應 HN2016 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 往往這要求設計人員使用外部硬件或是通過位拆裂在固件中實現(xiàn)接口。位拆裂使用固件觸發(fā)IO端口,一般可用于實現(xiàn)串行接口。如果要監(jiān)測端口以串行數(shù)據(jù)的時候,也可以使用這種方法。無論是使用外部硬件還是位拆裂來實現(xiàn)接口,都會產(chǎn)生額外的設計成本。雖然增加外部硬件帶來的成本是明顯的,但使用軟件實現(xiàn)串行接口可能也會要求使用速度更快因而也更加昂貴的CPU。大多數(shù)通用微控制器今天都支持SPUART和I2C接口,但仍然有很多時候,某些內(nèi)部用戶可編程邏輯會非常有用。青島華能供應 HN2016 sf6冷鏡法露點測試儀 高質(zhì)量 30年經(jīng)驗


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