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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)
微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

土壤重金屬檢測(cè)是土壤的常規(guī)監(jiān)測(cè)項(xiàng)目之一。采用合理的土壤重金屬檢測(cè)方法,能快速有效地對(duì)土壤重金屬進(jìn)行檢測(cè)和污染評(píng)價(jià),并滿足土壤的管理和決策需要。本文介紹了幾種常用的土壤重金屬檢測(cè)方法,包括原子熒光光譜法、原子吸收光譜法、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法等。在介紹各個(gè)檢測(cè)方法特性的同時(shí),就靈敏度、測(cè)試范圍、度、測(cè)試樣品的數(shù)量等優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了對(duì)比。原子熒光光譜法原子熒光光譜法是以原子在輻射能量的發(fā)射光譜法。微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。既然瞬時(shí)阻抗像電阻,那我們就給負(fù)載并聯(lián)一個(gè)電阻,讓其阻值和特性阻抗相等,這樣信號(hào)就不會(huì)反射回來(lái),而是被電阻吸收。您的電路也就清凈了。這種方法叫做終端匹配。的50Ω特性阻抗大小會(huì)影響信號(hào)傳輸功率、傳輸損耗、串?dāng)_等電氣性能,而其板材和幾何結(jié)構(gòu)又影響制造成本,這種情況只能找一個(gè)折中值。而50Ω正是同軸線的傳輸功率、傳輸損耗以及制造成本的一個(gè)平衡點(diǎn)。所以大多數(shù)高速信號(hào)都會(huì)采用50Ω特性阻抗系統(tǒng),形成標(biāo)準(zhǔn)并沿用至今,成為使用廣泛的一種阻抗標(biāo)準(zhǔn)。微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

測(cè)量值與已知標(biāo)準(zhǔn)值之間的關(guān)系往往被稱(chēng)為傳遞函數(shù)。請(qǐng)見(jiàn),當(dāng)測(cè)量值調(diào)整時(shí),這種關(guān)系也將根據(jù)已知校準(zhǔn)基準(zhǔn)進(jìn)行微調(diào)。理想情況下,傳遞函數(shù)呈現(xiàn)為跨整個(gè)量程的線性,但在實(shí)際操作中大多數(shù)測(cè)量均會(huì)因被測(cè)量的大小不同而在靈敏度上發(fā)生一些變化。這種類(lèi)型的瑕疵被稱(chēng)之為非線性(見(jiàn))。這種現(xiàn)象通常在量程的極限處比較突出。核實(shí)精度規(guī)范是否包含非線性以及精度是否適用于全量程范圍非常必要。若非如此,那么就有理由對(duì)接近極限值的測(cè)量精度表示懷疑。微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。PCIe是一個(gè)在很多領(lǐng)域中都有著廣泛且重要應(yīng)用的接口,經(jīng)過(guò)十幾年的發(fā)展,PCIe接口已經(jīng)從1.發(fā)展到現(xiàn)在的3.,4.也已即將開(kāi)始應(yīng)用。PCIe技術(shù)的物理層基于串行SerDes技術(shù),因此用極少的物理連線就可以實(shí)現(xiàn)高速的數(shù)據(jù)傳輸。筆者在前段時(shí)間碰上了兩個(gè)PCIe接口失效的問(wèn)題,個(gè)經(jīng)過(guò)是PCIe的ESD防護(hù)沒(méi)有做好導(dǎo)致通訊中斷,個(gè)是電源負(fù)載過(guò)大導(dǎo)致PCIe供電異常,F(xiàn)PGAPCIeIPCORE邏輯時(shí)鐘失鎖。微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 帶寬的不同對(duì)測(cè)試結(jié)果而言到底有什么樣的影響呢?下面我們看一個(gè)實(shí)際測(cè)試案例,在某LED測(cè)試現(xiàn)場(chǎng),用兩臺(tái)帶寬不同的功率計(jì)測(cè)試LED驅(qū)動(dòng)的輸入(市電工頻50Hz)電參數(shù),包括電壓、電流、功率、功率因數(shù)等,測(cè)試結(jié)果如下圖所示:從圖中可以看到,兩臺(tái)設(shè)備測(cè)試的電壓、有功功率基本一致,但是功率因素確相差很大。而功率因數(shù)的計(jì)算跟無(wú)功功率有非常密切的關(guān)系,因此可以判斷兩臺(tái)設(shè)備測(cè)試的無(wú)功功率肯定有相差。兩臺(tái)設(shè)備的標(biāo)稱(chēng)的基本精度都一樣,但帶寬卻相差很大。微水測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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