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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修
sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

據(jù)統(tǒng)計(jì)儀器儀表的故障有75%是由于瞬變和浪涌造成的。電壓的瞬變和浪涌無處不在,電網(wǎng)、雷擊、爆破,就連人在地毯上行走都會(huì)產(chǎn)生上萬伏的靜電感應(yīng)電壓,這些,都是儀器儀表的隱形致命殺手。為了提高儀器儀表的可靠性和自身的**性,必須對(duì)電壓瞬變和浪涌采取防護(hù)措施。1防雷端口根據(jù)儀器儀表應(yīng)用的工程實(shí)踐,儀器儀表受雷擊可大致分為直擊雷、感應(yīng)雷和傳導(dǎo)雷。但不論以哪一種形式到達(dá)設(shè)備都可歸納為從以下4個(gè)部位侵入的雷電浪涌,在此把這些部位稱為防雷端口,并以儀器儀表舉例說明。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。正是由于這種結(jié)構(gòu)的引壓方式,正壓側(cè)和負(fù)壓側(cè)同時(shí)保證了容器內(nèi)的溫度和汽包基本相近,容器內(nèi)的飽和水的密度也就十分的接近汽包內(nèi)的飽和水,使汽包水位測(cè)量大大減小了誤差,符合生產(chǎn)工藝的操作要求。位的差壓量程計(jì)算實(shí)際汽包液位的計(jì)算主要是針對(duì)平衡容器內(nèi)正負(fù)壓差壓的計(jì)算。,要確定汽包的正壓側(cè)是在連通器的水平引壓的位置,連通器水平引出端接差壓變送器的正壓室。其次,確定汽包的負(fù)壓側(cè)是在基準(zhǔn)杯下端引出的引壓管接差壓變送器的負(fù)壓側(cè)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

測(cè)試LED光通量在CIE121:1966Clause6.CIE127-2007Clause6.2和IES-LM-79-08Clause9.0都有提到兩種測(cè)試方法:一種是采用積分球加光度計(jì)或光譜輻射計(jì)測(cè)試的積分法,這個(gè)是總光通量的相對(duì)測(cè)量方法(CIE121:1966Clause6.1.CIE127-2007Clause6.2.2和IES-LM-79-08Clause9.0);另外一種是采用分布光度計(jì)的光度法,這個(gè)是總光通量的測(cè)量方法。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。PCI支持5V及3.3V的通信環(huán)境,以反射波作為通信基礎(chǔ)。當(dāng)入射信號(hào)從無終端方向反射回來之后,反射波經(jīng)過結(jié)構(gòu)性干擾與入射波合成一體,完成電壓與電流的驅(qū)動(dòng)任務(wù),因此PCI又稱“非終端式傳輸總線。概括起來,PCI總線有如下主要特點(diǎn):在讀寫傳送中可實(shí)現(xiàn)突發(fā)傳送。并行總線操作PCI是一種高性能32/64b地址數(shù)據(jù)復(fù)用總線,他在高度集成的外圍控制器件、外圍插件板和處理器/存儲(chǔ)器之間作為互連機(jī)構(gòu)應(yīng)用。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 如果沒有M2M技術(shù)將物體連接起來構(gòu)成一個(gè)龐大的物聯(lián)網(wǎng)是不可能的。M2M技術(shù)與產(chǎn)品是構(gòu)成物聯(lián)網(wǎng)網(wǎng)絡(luò)層的重要技術(shù)與產(chǎn)品。M2M是物聯(lián)網(wǎng)重要的組成部分,應(yīng)該在M2M市場(chǎng)與產(chǎn)品成功的基礎(chǔ)之上,積極開發(fā)物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)鏈的系列產(chǎn)品與應(yīng)用方案。不只是為客戶提供M2M產(chǎn)品,而是基于M2M基礎(chǔ)上聯(lián)合上下游廠商,提供涵蓋了傳感器、物聯(lián)終端、網(wǎng)絡(luò)設(shè)備和應(yīng)用平臺(tái)的成套物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品;同時(shí)基于成套的物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品,根據(jù)用戶的實(shí)際應(yīng)用需求,為用戶開發(fā)與定制物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用解決方案并提供交鑰匙工程服務(wù)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 5年保修


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