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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量
冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

系統(tǒng)基于全制式全覆蓋的測(cè)試能力可解決物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)鏈的測(cè)試難題,具體包括芯片模組測(cè)試、綜合測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試等多個(gè)環(huán)節(jié)。典型測(cè)試場(chǎng)景如下:發(fā)射機(jī)指標(biāo)測(cè)試:UE發(fā)射功率UE指的是NB-IOT的終端產(chǎn)品,包括NB-IOT模塊以及使用了這些模塊的終端。UE占用帶寬,占用帶寬指的是分配信道之內(nèi)測(cè)量的99%積分平均功率時(shí)對(duì)應(yīng)的信號(hào)帶寬。NB-IOT下行信號(hào)占用帶寬典型測(cè)試UE發(fā)射ACLR相鄰信道泄漏比,這個(gè)測(cè)來判定終端產(chǎn)品是否有可能對(duì)相鄰(或高或低)信道中的接收機(jī)產(chǎn)生干擾。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。在透明帶標(biāo)識(shí)轉(zhuǎn)換模式下,必須保證模塊取得完整的串行數(shù)據(jù)幀,否則會(huì)造成分包錯(cuò)誤。分包方式透明帶標(biāo)識(shí)轉(zhuǎn)換模式下,串行幀轉(zhuǎn)為CAN報(bào)文時(shí)的形式如。需要注意的是,串行幀中所帶有的CAN報(bào)文“幀ID”在串行幀中的起始地址和長(zhǎng)度可由配置設(shè)定。起始地址的范圍是0~7,長(zhǎng)度范圍分別是1~2(標(biāo)準(zhǔn)幀)或1~4(擴(kuò)展幀)。如果在配置中幀類型為標(biāo)準(zhǔn)幀,幀ID信息起始地址為3長(zhǎng)度為1,則幀ID的有效位只有8位。地址3中的CANID1作為標(biāo)準(zhǔn)幀ID的高8位,其余位補(bǔ)0。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

利用RFID技術(shù)的無源傳感器標(biāo)簽功能元件芯片和傳感器標(biāo)簽幸運(yùn)的是,有多種集成度更高的無源感測(cè)和優(yōu)化選擇。其中有RF430FRL152H,它集成了實(shí)現(xiàn)圖1所示功能所需的所有電路,包括用于連接到模擬傳感器的14位三角積分AD以及可用于連接數(shù)字傳感器的SPI/I2C端口。RF430FRL15xH帶有通過鐵電RAM(FRAM)實(shí)現(xiàn)的2KB非易失性存儲(chǔ)器,實(shí)現(xiàn)了低功耗、快速讀寫速度、無限次讀/寫耐久性和高電磁抗擾度綜合優(yōu)勢(shì)。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。以120°為例,它有三個(gè)扇區(qū)。八十年代的天線還主要以單極化天線為主,而且已經(jīng)開始引入了陣列概念。雖然全向天線也有陣列,但只是垂直方向的陣列,單極化天線就出現(xiàn)了平面和方向性的天線。從形式來看,現(xiàn)在的天線和代的天線非常相似。1997年,雙極化天線(±45°交叉雙極化天線)開始走上歷史舞臺(tái)。這時(shí)候的天線性能相比上一代有了很大的提升,不管是3G還是4G,主要潮流都是雙極化天線。到了2.5G和3G時(shí)代,出現(xiàn)了很多多頻段的天線。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 電容種類繁雜,但無論再怎么分類,其基本原理都是利用電容對(duì)交變信號(hào)呈低阻狀態(tài)。交變電流的頻率f越高,電容的阻抗就越低。旁路電容起的主要作用是給交流信號(hào)提供低阻抗的通路;去耦電容的主要功能是提供一個(gè)局部的直流電源給有源器件,以減少開關(guān)噪聲在板上的傳播和將噪聲引導(dǎo)到地,加入去耦電容后電壓的紋波干擾會(huì)明顯減小;濾波電容常用于濾波電路中。對(duì)于理想的電容器來說,不考慮寄生電感和電阻的影響,那么在電容設(shè)計(jì)上就沒有任何顧慮,電容的值越大越好。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6氣體定量檢漏儀 高質(zhì)量


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