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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做
冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

幾乎所有液相色譜接頭故障都是可以避免的,按下列要求可以有效地預(yù)防接頭的故障。不同廠家生產(chǎn)的接頭和刃環(huán)不可混用不同廠家連接管伸出刃環(huán)的長(zhǎng)度不完全相同,混用容易導(dǎo)致漏液、螺紋損壞、色譜柱進(jìn)出口及檢測(cè)器進(jìn)液口螺母破壞等,連接管在螺母中沒有良好密封也會(huì)導(dǎo)致漏液、死體積增加等。建議不要互換使用不同廠家生產(chǎn)的接頭和刃環(huán)。按要求組裝和擰緊接頭,不可擰得過緊低壓接頭的故障主要有接頭松動(dòng)、管頭損壞、螺紋“滑絲”、擰過頭。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。地線可靠性地線回路的可靠性主要由以下幾個(gè)主要關(guān)鍵因素決定:接地金屬的連接面,包括接地板之間、接地線和接地板之間的連接情況;涂覆層及潤(rùn)滑油對(duì)傳導(dǎo)地線連接板及其緊固件的影響;潛在的腐蝕;潛在的機(jī)械退化。汽車上接地的符號(hào)以及接地回路見下整車電氣地:主要為DC回路中發(fā)電機(jī)和蓄電池,以及AC回路中所有產(chǎn)品RF地;整車結(jié)構(gòu)地:標(biāo)識(shí)為汽車結(jié)構(gòu)件(發(fā)動(dòng)機(jī)、白車身等)接地標(biāo)識(shí);產(chǎn)品電路接地:產(chǎn)品電路接地,包括模擬地、數(shù)字地都可以使用此符號(hào);實(shí)車使用的接地結(jié)構(gòu)圖圖1實(shí)車的接地結(jié)構(gòu)圖此為實(shí)車使用的接地結(jié)構(gòu)圖,其中所有的接地終回到蓄電池和發(fā)電機(jī)的負(fù)。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

在電源行業(yè),示波器是通用的測(cè)試儀器,但許多特色需求,比如電源測(cè)試要求通道隔離,有時(shí)通道數(shù)量需要8個(gè)以上,以及CAN通訊等,這些需求示波器都無法滿足。對(duì)示波記錄儀來講,這些需求都不是問題。隔離測(cè)試隔離測(cè)試是電源產(chǎn)品非常重要的訴求,一般示波器均是不隔離,若示波器地與非隔離電源的地直接相連,可能會(huì)造成電源燒毀,示波器炸機(jī)的情況。基于此問題,目前衍生出的解決方法大致有以下兩類。剪除示波器供電插頭地腳示波器不隔離的核心后果是造成測(cè)試時(shí),輸入輸出共地造成短路,所以,若能剪除示波器供電電源插頭的地腳,從而切斷示波器與地的連接,就不會(huì)造成短路。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。另外一方面,物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)中,除了涉及比較高的頻率和比較寬闊的頻譜范圍,金屬管浮子流量計(jì)還涉及到不同的通訊協(xié)議棧,(包括ZIGBEE,IEEE802.15.4,藍(lán)牙,WIFI等等不同通訊協(xié)議)這些協(xié)議棧根據(jù)不同的通訊標(biāo)準(zhǔn),由軟件實(shí)現(xiàn),終實(shí)現(xiàn)不同網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn),路由器,網(wǎng)關(guān)之間的通訊。對(duì)于無線通訊而言,大量的通訊數(shù)據(jù)是以不同的數(shù)據(jù)包,在空中傳輸,這就要求有一種的高頻儀器來采集和這些在空中傳輸,但是我們看不見,摸不著的數(shù)據(jù)包裝,才能有效的實(shí)現(xiàn)對(duì)通訊協(xié)議驗(yàn)證和查錯(cuò),提高軟件協(xié)議棧開發(fā)效率。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 一般來說,直流電源具有CV/CC兩種工作模式,分別對(duì)應(yīng)內(nèi)部?jī)蓚€(gè)環(huán)路(CV控制環(huán)和CC控制環(huán))。當(dāng)今市場(chǎng)上的大多數(shù)電源供應(yīng)器均采用電壓優(yōu)先模式設(shè)計(jì),不能提供電流環(huán)控制優(yōu)先模式;事實(shí)上這種情況非常普遍,大多數(shù)工程師甚至從來沒有意識(shí)到還有優(yōu)先模式存在,他們只是期望自己的電源能夠正常提供電壓電流和功率輸出。但隨著電子測(cè)試需求的變革,這種方式的局限性也體現(xiàn)出來,CV控制環(huán)優(yōu)先的情況下,雖然一定程度上可以加快電壓的上升速度,但不能夠適用于對(duì)電流過沖測(cè)試要求嚴(yán)苛的場(chǎng)合。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6檢漏儀 定制定做


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