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HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6純度儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 定制定做
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露點(diǎn) |
測(cè)量范圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測(cè)量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測(cè)量時(shí)間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環(huán)境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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在科技高速發(fā)展的當(dāng)下，能源變得非常重要!我們已經(jīng)看到了太陽(yáng)能窗戶及特斯拉太陽(yáng)能屋頂?shù)犬a(chǎn)品，能夠利用采集來(lái)的太陽(yáng)能轉(zhuǎn)化為電能。然而建筑物的大部分表面均暴露在陽(yáng)光下，所以科學(xué)家稱仍然能有更多的選擇。英國(guó)埃克塞特大學(xué)的科研人員近日研發(fā)了一款新產(chǎn)品，可以選擇用太陽(yáng)能玻璃磚替代不透明的外墻磚。這款產(chǎn)品被稱為SolarSquared，透明磚塊包含多個(gè)光學(xué)元件，每個(gè)光學(xué)元件將太陽(yáng)光聚焦到單個(gè)太陽(yáng)能電池上。每個(gè)磚塊內(nèi)的所有單元都連接在一起，并且磚塊本身又可以彼此連接，終將太陽(yáng)能轉(zhuǎn)化為電能，此外可以將電能反向輸送至電網(wǎng)。
1、連接SF6設(shè)備
將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；
再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低于約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。
3、開始測(cè)量
打開儀測(cè)量管道上的針型閥，然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。
設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其后每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。
4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
設(shè)備測(cè)量完成后，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。提高開關(guān)密度和可擴(kuò)展性對(duì)開發(fā)大型汽車發(fā)動(dòng)機(jī)和航天HIL測(cè)試系統(tǒng)至關(guān)重要。”MikeDewey,directorofmarketingatMarvinTestSolutions：“總體而言，我們看到高密度交換系統(tǒng)正繼續(xù)向像MACPanelSCOUT的無(wú)電纜界面轉(zhuǎn)移。高密度開關(guān)切換系統(tǒng)需要高密度的I/O，從電纜接口轉(zhuǎn)移到無(wú)電纜接口以確保足夠的性能并提供可靠的接口?？蛻粢蟮耐ǖ罃?shù)越來(lái)越多，也就要求供應(yīng)商尋找更小體積的繼電器，以及識(shí)別更高密度的I/O連接，這對(duì)3U形式的PXI來(lái)說(shuō)是一個(gè)特別的挑戰(zhàn)。
5、測(cè)量其他設(shè)備
一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。
6、測(cè)量結(jié)束
所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后，關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。
幾乎所有液相色譜接頭故障都是可以避免的，按下列要求可以有效地預(yù)防接頭的故障。不同廠家生產(chǎn)的接頭和刃環(huán)不可混用不同廠家連接管伸出刃環(huán)的長(zhǎng)度不完全相同，混用容易導(dǎo)致漏液、螺紋損壞、色譜柱進(jìn)出口及檢測(cè)器進(jìn)液口螺母破壞等，連接管在螺母中沒有良好密封也會(huì)導(dǎo)致漏液、死體積增加等。建議不要互換使用不同廠家生產(chǎn)的接頭和刃環(huán)。按要求組裝和擰緊接頭，不可擰得過(guò)緊低壓接頭的故障主要有接頭松動(dòng)、管頭損壞、螺紋“滑絲”、擰過(guò)頭。
1、保存數(shù)據(jù)
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。
設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號(hào)后，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。
顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。后說(shuō)到的頻譜儀通常用在射頻領(lǐng)域，來(lái)觀察和被測(cè)信號(hào)的頻域特性，而我們常用其配合近場(chǎng)來(lái)掃描電磁干擾的功率峰值以及找到其對(duì)應(yīng)的頻點(diǎn)，初步判定輻射源屬性。眼看上去這三種儀器用途各不相同，但其實(shí)都可以用來(lái)測(cè)試晶體振蕩電路的頻率。如果使用示波器或者頻率計(jì)，配合無(wú)源電壓點(diǎn)測(cè)芯片的時(shí)鐘輸入引腳，就可以測(cè)量到頻率，如下是各部分的電路結(jié)構(gòu)：其中：CC2是晶體的負(fù)載電容，影響到頻率、負(fù)性阻抗等電路參數(shù)RC3是無(wú)源電壓的電路參數(shù)，R3是9Mohm，C3是幾個(gè)pF不等R是示波器或者頻率計(jì)輸入通道的等效阻抗和電容，R4是1Mohm，是幾十pF不等如果使用頻譜儀，配合近場(chǎng)靠近晶體封裝外殼就可以探測(cè)到輻射功率峰值的頻率，這個(gè)頻率也是晶體電路的振蕩頻率。
3、刪除記錄
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時(shí)間
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。
通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。
輸入小時(shí)、分鐘、秒后，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。
注意屏幕上方的軌跡模式指示，黃色的T1[M、P]表示軌跡1處于保持；通過(guò)軌跡、[軌跡選擇?]、[軌跡2]、[刷新]軌跡2，并設(shè)置為連續(xù)刷新模式。注意屏幕上方的軌跡模式指示，T2標(biāo)記高亮為藍(lán)色，T2[W、P]表示軌跡2處于連續(xù)刷新模式，檢波方式為正峰值；緩慢改變輸入信號(hào)的頻率，使其以1kHz步進(jìn)，在±5kHz變化，信號(hào)儀顯示如所示。使用保持觀測(cè)漂移信號(hào)跟蹤信號(hào)信號(hào)跟蹤功能對(duì)于漂移比較緩慢的信號(hào)是非常有用的，它可以將漂移信號(hào)一直處于顯示屏幕的中心位置。