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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

智能手環(huán)、、平板等設(shè)備同樣將待機(jī)時(shí)間作為一項(xiàng)重要指標(biāo),小米手環(huán)2就提出充電一次滿足2天持續(xù)使用的口號(hào),而其中內(nèi)置的是一個(gè)僅有7mAh的鋰聚合物電池。但在電池供電條件下的待機(jī)測(cè)試中若使用真實(shí)電池作為電源,一方面測(cè)試結(jié)果受到電池產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)的影響,另一方面也增加了測(cè)試的工作量。IT64系列可編程直流電源在電池測(cè)試方面具備強(qiáng)大的功能,包括電池充電、電池放電、電池模擬三種模式。用戶可用IT64系列可編程直流電源替代電池,為智能設(shè)備供電,通過(guò)電池模擬功能來(lái)模擬電池的輸出特性,測(cè)試待測(cè)物的待機(jī)能力,或者測(cè)試充電器的充電能力。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。而對(duì)于異常情況來(lái)講,我們研制了電源控制設(shè)備。上電時(shí),以前級(jí)電源控制后級(jí)電源輸出,前級(jí)電源加不上,后級(jí)電源肯定不輸出;而發(fā)生異常斷電時(shí),也會(huì)利用比例放大、積分放大單路來(lái)實(shí)現(xiàn)斷電順序的二次調(diào)理。電源控制設(shè)備突發(fā)測(cè)試中斷恢復(fù)為了應(yīng)對(duì)測(cè)試突發(fā)中斷,在軟件平臺(tái)中嵌入了一個(gè)中斷記錄與恢復(fù)子平臺(tái)。它基于數(shù)據(jù)庫(kù),具有測(cè)試點(diǎn)記錄、被測(cè)件狀態(tài)記錄、狀態(tài)恢復(fù)和容錯(cuò)功能。當(dāng)然,若要達(dá)到中斷恢復(fù)目的所需的數(shù)據(jù)量較大,應(yīng)該選擇性記錄,只記錄有用的數(shù)據(jù)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

OTA的主要測(cè)量指標(biāo)OTA測(cè)量包括發(fā)射端測(cè)量和接收端測(cè)量?jī)蓚€(gè)部分。發(fā)射端測(cè)量指標(biāo)主要包括以功率測(cè)量為主的指標(biāo),如TRP(總輻射功率)和以信道質(zhì)量為主的指標(biāo)如DirectionalEVM;接收端測(cè)量指標(biāo)主要包括波束頂點(diǎn)處的靈敏度,交調(diào),Throughput(吞吐量)等。具體如下:發(fā)射端:ACLR鄰道泄漏功率比TRP總輻射功率EIRP等效全向輻射功率,即某方向測(cè)得的輻射功率,為TRP的基本構(gòu)成單位DirectionalEVM具有方向性的矢量誤差幅度DirectionalPower具有方向性的功率-接收端:TIS總?cè)蜢`敏度EIS有效全向靈敏度,即某方向測(cè)得的靈敏度,為TIS的基本構(gòu)成單位。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。抗高溫性。冶金環(huán)節(jié)的所產(chǎn)生的溫度比較高,因此需電氣設(shè)施需具備較強(qiáng)的耐高溫性。3電氣設(shè)備檢修的重要性在限定的時(shí)間內(nèi)針對(duì)電氣設(shè)備實(shí)施檢修,是電力系統(tǒng)里面的一環(huán)。狀態(tài)檢修是根據(jù)電氣設(shè)施的現(xiàn)實(shí)運(yùn)營(yíng)狀況,來(lái)明確其是否需實(shí)施檢修。若發(fā)覺(jué)設(shè)備存在問(wèn)題,或許會(huì)對(duì)設(shè)備產(chǎn)生影響,便需及時(shí)維修,與此同時(shí),針對(duì)那些不存在問(wèn)題的設(shè)施能夠合理的延伸檢修的時(shí)間。從電力系統(tǒng)的現(xiàn)實(shí)運(yùn)營(yíng)狀況而言,造成電氣設(shè)施發(fā)生問(wèn)題有著非常多的影響要素,一般而言,一個(gè)非常小的**問(wèn)題在普通的試驗(yàn)里面難題被挖據(jù)出來(lái),然而,伴隨電氣設(shè)施運(yùn)營(yíng)時(shí)間的增多,同時(shí)在較長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)處于電磁交融的環(huán)境之中,便慢慢使得**問(wèn)題轉(zhuǎn)變?yōu)樵O(shè)施故障,后造成電力系統(tǒng)產(chǎn)生隨時(shí)終止運(yùn)營(yíng)的故障,從而對(duì)電力系統(tǒng)的供電品質(zhì)造成影響。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 如指針擺動(dòng)與上述相反為加極性。交流法補(bǔ)償量如下:△f=Nx/(N2-Nx)×匝數(shù)補(bǔ)償只對(duì)比差起到補(bǔ)償作用,補(bǔ)償量與二次負(fù)荷和電流大小無(wú)關(guān)。補(bǔ)償匝數(shù)一般只有幾匝,匝數(shù)補(bǔ)償應(yīng)計(jì)算電流低端二次阻抗時(shí),和電流二次阻抗時(shí)誤差。對(duì)于高精度的微型電流互感器匝數(shù)補(bǔ)償那怕只補(bǔ)償1匝,就會(huì)補(bǔ)償過(guò)量。這時(shí)可以采用半匝或分?jǐn)?shù)匝補(bǔ)償。但是電流互感器的匝數(shù)是以通過(guò)鐵芯窗口的封閉回路計(jì)算的,電流互感器的匝數(shù)是一匝一匝計(jì)算的,不存在半匝的情況。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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