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HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 30年經(jīng)驗(yàn)
露點(diǎn) |
測(cè)量范圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測(cè)量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
|
測(cè)量時(shí)間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
|
環(huán)境溫度 |
-40℃~+60℃ |
無(wú)源晶振自身無(wú)法震蕩,在工作時(shí)需要搭配外圍電路。在一定條件下,石英晶片會(huì)產(chǎn)生壓電效應(yīng):晶片兩端的電場(chǎng)與機(jī)械形變會(huì)互相轉(zhuǎn)化。當(dāng)外加交變電壓的頻率與晶片的固有頻率相等時(shí),晶體產(chǎn)生的振動(dòng)和電場(chǎng)強(qiáng)度,這稱為壓電諧振,類(lèi)似與LC回路的諧振。圖1石英晶體的電路符號(hào)、等效電路、電抗特性及外圍電路圖由于晶體為無(wú)源器件,其對(duì)外圍電路的參數(shù)較為敏感,尤其為負(fù)載電容。根據(jù)晶體的手冊(cè),我們得知測(cè)試電路中有電容,此電容對(duì)晶體是否起振大有關(guān)聯(lián):CCg稱作匹配電容,是接在晶振的兩個(gè)腳上的對(duì)地電容,其作用就是調(diào)節(jié)負(fù)載電容使其與晶振的要求相一致,需要注意的是CCg串聯(lián)后的總電容值才是有效的負(fù)載電容部分。1、連接SF6設(shè)備
將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;
再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。
3、開(kāi)始測(cè)量
打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。
設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5~10分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要3~5分鐘。
4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。直流電子負(fù)載應(yīng)用領(lǐng)域直流電子負(fù)載通過(guò)模擬實(shí)物負(fù)載和負(fù)載波形,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電源供應(yīng)器規(guī)格特性的測(cè)試,也可以作為ATE或ATS系統(tǒng)的組成單元,在線對(duì)充電器、蓄電池等的壽命特性及功率電子元器件的參數(shù)特性進(jìn)行測(cè)試。直流電子負(fù)載的應(yīng)用領(lǐng)域主要有:各類(lèi)直流電源供應(yīng)器(AC/DDC/DC)行業(yè),如穩(wěn)壓電源、恒流源、開(kāi)關(guān)電源、模塊電源、電源適配器等。各類(lèi)電池、蓄電池行業(yè)。電池充電器、充電器等充電器行業(yè)。MOS管、IG、電容器、PFC模塊、整流器等功率電子元器件行業(yè)。
5、測(cè)量其他設(shè)備
一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。
6、測(cè)量結(jié)束
所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。
據(jù)麥姆斯咨詢此前報(bào)道,TI大約在一年前發(fā)布了其雷達(dá)芯片,據(jù)稱能夠提供“小于5cm的分辨率,探測(cè)范圍達(dá)數(shù)百米,速度可達(dá)3km/h”。RFCMOS技術(shù)的毫米波雷達(dá)。集成數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)扮演重要角色Yole師預(yù)言,TI將迅速改變雷達(dá)技術(shù)領(lǐng)域的競(jìng)爭(zhēng)現(xiàn)狀。Yole射頻器件和技術(shù)部門(mén)技術(shù)和市場(chǎng)師CédricMalaquin表示,其核心在于TI雷達(dá)解決方案的集成架構(gòu)。TI的毫米波傳感器件在一顆單芯片上集成了76~81GHz毫米波雷達(dá)、MCU(微控制器)以及數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)。1、保存數(shù)據(jù)
在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。
設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。
顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。但在下方和上方中間的變化情況,以及它的線性度則需要后邊仿真來(lái)確定。輸出電壓1.2全橋式改進(jìn)電路普通全橋電路,傳感器上下兩線圈分別與匹配電阻R3和R4相連,在L1=L2時(shí)電橋平衡,當(dāng)向上發(fā)生△X的位移時(shí),鐵芯上移,L1增大△L,L2減小△L,Uout的變化會(huì)比半橋方式增加近兩倍,輸出電壓如和對(duì)上下兩線圈分別采用并聯(lián)和串聯(lián)電容C1和C2的方式,形成諧振回路I和回路II,通過(guò)后續(xù)仿真觀察這兩種方式電路性能的變化情況。
3、刪除記錄
在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時(shí)間
在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。
通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。
輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。
智能化:隨著嵌入式微處理器、大規(guī)模集成電路及軟件的發(fā)展,自動(dòng)測(cè)量對(duì)象識(shí)別、自動(dòng)量程切換、智能數(shù)據(jù)處理與存儲(chǔ)、自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)接入適應(yīng)、故障自珍、報(bào)警、記錄與保護(hù)、使用環(huán)境自適應(yīng)等正在成為標(biāo)配。4)全信息顯示:實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)技術(shù)與彩色液晶顯示器的發(fā)展,帶來(lái)了電磁測(cè)量?jī)x表顯示方式的,從過(guò)去的指針顯示、數(shù)字顯示、圖形化顯示正向“全信息顯示”發(fā)展,它可同時(shí)顯示所需要的多種信息。全信息顯示使現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量與技術(shù)有了飛躍式的發(fā)展。