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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量
冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測量范圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

直擊問題核心許多工廠和設(shè)施沒有泄漏檢測程序。發(fā)現(xiàn)并修復(fù)泄漏并不容易。量化浪費(fèi)量并確定成本,要求能源專家利用能源儀和記錄儀對其空氣系統(tǒng)進(jìn)行審計(jì)。系統(tǒng)性地計(jì)算杜絕泄漏可每年節(jié)省的成本,就能夠?yàn)橥七M(jìn)此類項(xiàng)目樹立一個(gè)有力的業(yè)務(wù)案例。壓縮空氣系統(tǒng)的能源審計(jì)往往是與行業(yè)、及非組織(NGO)配合進(jìn)行的,壓縮空氣挑戰(zhàn)(CAC)就是此類組織的一種自發(fā)性合作,其宗旨就是提供與產(chǎn)品無關(guān)的信息和教育資料,幫助各個(gè)行業(yè)以可持續(xù)的效率生產(chǎn)和使用壓縮空氣。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。同步采樣常用硬件PLL實(shí)現(xiàn),需要實(shí)時(shí)調(diào)整采樣頻率,頻率的鎖定需要時(shí)間,受限于濾波器及相關(guān)器件,很難做到很寬的頻域,也很難保證頻譜特別豐富時(shí)的準(zhǔn)確性。頻率重心法使用足夠高的采樣頻率(一般大于4倍基波頻率)即可滿足直接對信號(hào)進(jìn)行采樣,將信號(hào)的頻譜間隔拉開,并且使用更多周期的數(shù)據(jù)點(diǎn)做離散傅里葉變換,降低頻譜泄露的影響。后根據(jù)窗函數(shù)的功率譜分布特性,通過頻譜的譜峰和次譜峰,找到真正的譜峰頻點(diǎn)——即離散頻譜的譜峰和次譜峰的重心。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量

5、測量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

激光器能夠產(chǎn)生2mils的電路跡線,間距為1mil,從而使得整個(gè)間距僅為3mils。雖然使用激光光束生產(chǎn)電路是PCB樣品快的方法,但大規(guī)模進(jìn)行表面蝕刻應(yīng)用留給化學(xué)工藝。應(yīng)用2:PCB的拆卸紫外激光器切割對于大型或小型生產(chǎn)來說都是一個(gè)的選擇,同時(shí)對于PCB的拆卸,尤其是需要應(yīng)用于柔性或剛?cè)峤Y(jié)合的電路板上時(shí)也是一個(gè)不錯(cuò)的選擇。拆卸就是將單個(gè)電路板從嵌板上移除,考慮到材料柔性的不斷增加,這種拆卸就會(huì)面臨很大的挑戰(zhàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。然而,艾德克斯IT8300能量回饋式電子負(fù)載就解決了這些問題。本文將就工程師們關(guān)心的典型問題,尤其涉及到IT8300優(yōu)點(diǎn)的問題以及艾德克斯IT8300廠家給出的答復(fù)。Q:使用能量回饋式電子負(fù)載,電表會(huì)往回轉(zhuǎn),賣電給電網(wǎng)嗎?A:IT8300反饋了95%的電能回饋到廠內(nèi)AC電網(wǎng)。在多數(shù)情況下,從IT8300反饋回的電能遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于本地配電網(wǎng)的電能消耗。電表不會(huì)往回轉(zhuǎn),但是它會(huì)明顯轉(zhuǎn)得慢很多。Q:IT8300可以與立直流電源連接嗎?A:是的,如果廠內(nèi)有一臺(tái)立電源,IT8300是可以和其連接的,比如發(fā)電機(jī)、光伏系統(tǒng)或者電池,這些待測物不從電網(wǎng)上吸收電能。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 電路板缺陷檢測包括兩部分:焊點(diǎn)缺陷檢測和元器件檢測,傳統(tǒng)的檢測采用人工檢測方法,容易漏檢、檢測速度慢、檢測時(shí)間長、成本高,已經(jīng)逐漸不能夠滿足生產(chǎn)需要。設(shè)計(jì)一種搭載工業(yè)相機(jī)以取代人眼的機(jī)器視覺電路板檢測系統(tǒng),具有非常重要的現(xiàn)實(shí)意義。機(jī)器視覺檢測技術(shù)是建立在圖像處理算法的基礎(chǔ)上,通過數(shù)字圖像處理與模式識(shí)別的方法來實(shí)現(xiàn),與傳統(tǒng)的人工檢測技術(shù)相比,提高了缺陷檢測的效率和準(zhǔn)確度。機(jī)器視覺系統(tǒng)一般采用CCD或CMOS工業(yè)相機(jī)攝取檢測圖像并轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào),再通過計(jì)算機(jī)軟、硬件技術(shù)對圖像數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理,從而得到所需要的目標(biāo)圖像特征值,并由此實(shí)現(xiàn)零件識(shí)別或缺陷檢測等多種功能。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 高質(zhì)量


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