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HN2016智能sf6微水測試儀sf6露點儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點測試儀 30年經(jīng)驗
露點 |
測量范圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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測量時間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
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環(huán)境溫度 |
-40℃~+60℃ |
電子負載,顧名思義,是用電子器件實現(xiàn)的“負載”功能。具體地說,電子負載是通過控制內(nèi)部功率器件MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量,使功率管耗散功率,消耗電能的設(shè)備。電子負載類似于可以拉載電流的輸入設(shè)備,如同一個可編程的功率電阻。直流電子負載應(yīng)用領(lǐng)域直流電子負載通過模擬實物負載和負載波形,可以實現(xiàn)對電源供應(yīng)器規(guī)格特性的測試,也可以作為ATE或ATS系統(tǒng)的組成單元,在線對充電器、蓄電池等的壽命特性及功率電子元器件的參數(shù)特性進行測試。1、連接SF6設(shè)備
將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請關(guān)機充電后繼續(xù)使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。
設(shè)備測量時間需要5~10分鐘,其后每臺設(shè)備需要3~5分鐘。
4、存儲數(shù)據(jù)
設(shè)備測量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。一直以來,設(shè)計中的電磁干擾(EMI)問題十分令人頭疼,尤其是在汽車領(lǐng)域。為了盡可能的減小電磁干擾,設(shè)計人員通常會在設(shè)計原理圖和繪制布局時,通過降低高di/dt的環(huán)路面積以及開關(guān)轉(zhuǎn)換速率來減小噪聲源。有時無論布局和原理圖的設(shè)計多么謹(jǐn)慎,仍然無法將傳導(dǎo)EMI降低到所需的水平。這是因為噪聲不僅取決于電路寄生參數(shù),還與電流強度有關(guān)。另外,開關(guān)打開和關(guān)閉的動作會產(chǎn)生不連續(xù)的電流,這些不連續(xù)電流會在輸入電容上產(chǎn)生電壓紋波,從而增加EMI。
5、測量其他設(shè)備
一臺設(shè)備測量后,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。
6、測量結(jié)束
所有設(shè)備測量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。
說到測量長度大家并不陌生,無論是裝修房子還是測量尺寸,很多時候都會遇到。通常我們都會使用米尺或卷尺進行測量,這種傳統(tǒng)的方式耗時較長,容易出現(xiàn)誤差。VH-8是世界上款雙向激光測距儀,與普通激光測距儀相比,它可以通過向被測量區(qū)域的兩端同時發(fā)射激光束,從而獲得的測量數(shù)值。VH-8可以從兩端分別發(fā)射激光束,測量每束光反射到傳感器所花費的時間。由于采用恒定光源,VH-8可以高精度地計算出自身與目標(biāo)之間的距離。1、保存數(shù)據(jù)
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設(shè)備進行編號。
設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁面。
顯示時從后一個被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。PID(PotentianInducedDegradation)是一種電勢誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象,是指組件長期在高電壓下使得玻璃,封裝材料之間存在漏電流,大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化,導(dǎo)致填充因子(FF),短路電流(Isc),開路電壓(Voc)降低,使得組件的性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn),發(fā)電能力也隨之下降。2010年,NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池,組件在負偏壓下都有PID的風(fēng)險。
3、刪除記錄
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時間
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁面。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。
輸入小時、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。
在該電源接入電網(wǎng)后,會對電網(wǎng)內(nèi)其他的用電設(shè)備產(chǎn)生影響,導(dǎo)致電網(wǎng)內(nèi)直流電源的輸出紋波較高,無法正常測試。即使移除地線的連接,將交直流源各自分開至很遠的位置,并通過不同的空開接入后,干擾依舊存在。某電源對電網(wǎng)內(nèi)直流源輸出干擾波形而在相同的測試環(huán)境使用APM全天科技可編程交流電源后,直流源輸出純凈穩(wěn)定,無任何影響。APM全天科技可編程交流電源通過嚴(yán)苛的EMC測試等級,符合歐盟電磁兼容指令214/3/EU/EN61326-1:213ClassA以及FCCCFR47第15部分的要求。