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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 定制定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 定制定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 定制定做
sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 定制定做

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

分別用于鋼板溫度和區(qū)域的測(cè)量,將測(cè)量的數(shù)據(jù)進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換處理發(fā)送到處理器進(jìn)行處理數(shù)據(jù)和計(jì)算,然后通過(guò)WCA軟件進(jìn)行、顯示和存儲(chǔ)。設(shè)備構(gòu)成如所示:(:掃描式測(cè)溫儀的設(shè)備組成)測(cè)溫的安裝及主要參數(shù)測(cè)溫安裝在輥道上方,垂直向下掃描,其測(cè)量范圍為(3-9)℃,內(nèi)部灰度系數(shù)的可調(diào)范圍為.2-1.,根據(jù)測(cè)量鋼板的材質(zhì)要求及水汽環(huán)境等的影響因素,我們一般選為.75-.85;當(dāng)安裝在不易隨時(shí)維護(hù)的位置或環(huán)境中時(shí),就需要用遠(yuǎn)程控制來(lái)修正灰度系數(shù),通過(guò)輸入(4-2)mA信號(hào)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 定制定做1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。利用激發(fā)光源發(fā)出的特征發(fā)射光照射一定濃度的待測(cè)元素的原子蒸氣,使之產(chǎn)生原子熒光,在一定條件下,熒光強(qiáng)度與被測(cè)溶液中待測(cè)元素的濃度關(guān)系遵循Lambert-Beer定律,通過(guò)測(cè)定熒光的強(qiáng)度即可求出待測(cè)樣品中該元素的含量。原子熒光光譜法具有原子吸收和原子發(fā)射兩種方法的優(yōu)勢(shì),并且克服了這兩種方法在某些地方的不足。該法的優(yōu)點(diǎn)是靈敏度高,目前已有20多種元素的檢出限優(yōu)于原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法;譜線簡(jiǎn)單;在低濃度時(shí)校準(zhǔn)曲線的線性范圍寬達(dá)3~5個(gè)數(shù)量級(jí),特別是用激光做激發(fā)光源時(shí)更佳,但其存在熒光淬滅效應(yīng),散射光干擾等問(wèn)題。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 定制定做

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

3D打印過(guò)程中,由于速度、距離、材料等特性的不同,在粉末逐層堆疊累積的過(guò)程中,溫度會(huì)出現(xiàn)異常,如跳變、過(guò)高、過(guò)低、不均勻等,造成打印后的結(jié)構(gòu)件性能下降,韌度差、彈性不夠、變脆、隱紋等。使用之選系列熱像儀在可以為金屬打印過(guò)程中,提供有效的檢測(cè)方案。TiX1000120Hz幀頻模式,劉琛拍攝應(yīng)用案例:某大學(xué)機(jī)械制造系統(tǒng)工程重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,負(fù)責(zé)利用3D打印技術(shù)可快速而地制造出任意復(fù)雜形狀的零件,從而實(shí)現(xiàn)“自由制造”項(xiàng)目研究。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 定制定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。一般把從連續(xù)信號(hào)到離散信號(hào)的過(guò)程叫采樣(sampling)。連續(xù)信號(hào)必須經(jīng)過(guò)采樣和量化才能被計(jì)算機(jī)處理,采樣是數(shù)字示波器作波形運(yùn)算和的基礎(chǔ)。通過(guò)測(cè)量等時(shí)間間隔波形的電壓幅值,并把該電壓轉(zhuǎn)化為用八位二進(jìn)制代碼表示的數(shù)字信息,這就是數(shù)字存儲(chǔ)示波器的采樣。采樣電壓之間的時(shí)間間隔越小,那么重建出來(lái)的波形就越接近原始信號(hào)。采樣率(samplingrate)就是采樣時(shí)間間隔。比如,如果示波器的采樣率是每秒10G次(10GSa/s),則意味著每100ps進(jìn)行一次采樣。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 定制定做

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 示波器用戶在進(jìn)行幅值/峰值等垂直量測(cè)量時(shí),偶然遇到測(cè)量結(jié)果與預(yù)期稍有偏差,測(cè)量不夠準(zhǔn)確的問(wèn)題,使用戶對(duì)示波器的測(cè)量精度產(chǎn)生了質(zhì)疑,在這里說(shuō)說(shuō)示波器幅值/峰值等垂直量測(cè)量為什么出現(xiàn)測(cè)量偏差,針對(duì)這種現(xiàn)象將如何改進(jìn)從而減少測(cè)量誤差??蛻粼谑褂檬静ㄆ鳒y(cè)量高頻信號(hào)、強(qiáng)電壓、微小信號(hào)或者電源紋波、噪聲等的幅值/峰值等垂直量時(shí),測(cè)量值出現(xiàn)偏差,垂直量測(cè)量值偏小或偏大等,導(dǎo)致用戶對(duì)示波器測(cè)量準(zhǔn)確性產(chǎn)生質(zhì)疑。示波器測(cè)量疑問(wèn)示波器垂直量測(cè)量出現(xiàn)偏差的原因歸結(jié)為以下四點(diǎn):低頻補(bǔ)償調(diào)節(jié)與否;示波器的底噪干擾對(duì)測(cè)量的影響;示波器的幅頻特性曲線差異;④示波器的垂直分辨率對(duì)測(cè)量的影響。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體定量檢漏儀 定制定做


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