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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

我們把積分時(shí)間這個(gè)術(shù)語(yǔ)定義為熱像儀內(nèi)部熱成像探測(cè)器生成一個(gè)單幀的曝光時(shí)間。以較長(zhǎng)的曝光時(shí)間來(lái)操作熱像儀能夠提高靈敏度,但與此同時(shí),這也限制了熱像儀的測(cè)溫范圍:高溫物體如此明亮,以至于它們超出了熱像儀的規(guī)定測(cè)溫范圍。如果一個(gè)場(chǎng)景或一組連續(xù)鏡頭包含需要同時(shí)測(cè)量的溫差,熱像儀的曝光時(shí)間應(yīng)大大縮短。但由于超出了規(guī)定的測(cè)溫范圍,這種縮短本身會(huì)造成場(chǎng)景較冷區(qū)域溫差測(cè)量的能力下降,導(dǎo)致這些區(qū)域在屏幕上顯示為黑色或噪點(diǎn),如至4所示。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。電池充放電過程中,電池容量越大,對(duì)應(yīng)電池開路電壓越高,電池內(nèi)阻越低;反之,當(dāng)容量下降,電池開路電壓隨之下降,內(nèi)阻隨之上升。電池容量、開路電壓與電池內(nèi)阻之間的關(guān)系可有下圖表示:測(cè)試實(shí)例IT6431(±15V,±1A,15W)的simulator功能,主要適用于模擬電池的電壓和容量,用IT6431來(lái)代替實(shí)體的電池,提供一個(gè)電壓信號(hào),同時(shí)也需要可以驅(qū)動(dòng)開機(jī)。這樣檢測(cè)到了電壓用適配器才能給充電。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

光纖的主要材料是石英玻璃,與金屬傳感器相比具有更大的耐久性,而且光纖本身也具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、質(zhì)量輕、耗能少等優(yōu)勢(shì);4)抗干擾:光纖是非金屬、絕緣材料,避免了電磁、雷電等干擾,況且電磁干擾噪聲的頻率與光頻相比很低,對(duì)光波無(wú)干擾。此外,光波易于,外界光的干擾也很難進(jìn)入光纖。分布式光纖應(yīng)變傳感技術(shù)根據(jù)探測(cè)光輸出方式、信號(hào)光檢測(cè)方法以及探測(cè)原理的不同分門別類形成了基于分布式光纖傳感的應(yīng)變探測(cè)技術(shù),在應(yīng)變測(cè)量精度、測(cè)量距離、空間分辨率以及數(shù)據(jù)刷新速度等方面各具優(yōu)勢(shì)。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。傳感器早已滲透到諸如工業(yè)生產(chǎn)、環(huán)境保護(hù)、醫(yī)學(xué)診斷、生物工程、等等極其之廣泛的領(lǐng)域??梢院敛豢鋸埖卣f(shuō),幾乎每一個(gè)現(xiàn)代化項(xiàng)目,都離不開各樣的傳感器。下面就用電阻應(yīng)變計(jì)測(cè)試方法測(cè)定加速度傳感器的電壓靈敏度。我們需要了解是加速度傳感器標(biāo)定的原理:它是基于牛頓運(yùn)動(dòng)定律,可以用重力法對(duì)加速度傳感器進(jìn)行標(biāo)定。測(cè)量系統(tǒng)由安裝在剛性基礎(chǔ)上帶有緩沖墊的力傳感器,裝有加速度傳感器的圓柱形鋼質(zhì)量塊,以及導(dǎo)軌。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 然而,盡管軟件看起來(lái)像示波器,但它沒有傳統(tǒng)示波器所具備的高性能工具,也就無(wú)法進(jìn)行故障診斷。在單個(gè)PXI插槽中提供真正的臺(tái)式示波器性能是德科技的M9241A(200MHz)、M9242A(500MHz)和M9243A(1GHz)InfiniiVisionPXIe模塊化示波器旨在為PXIe模塊化系統(tǒng)提供傳統(tǒng)臺(tái)式示波器的可用性和性能。是德科技在制造高性能示波器方面擁有60多年的經(jīng)驗(yàn),并且利用這些知識(shí)打造了PXIe示波器,這些示波器超越了數(shù)字化儀與示波器軟件的簡(jiǎn)單組合。sf6露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量


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