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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:地鐵專用直流開關試驗裝置HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。地鐵專用直流開關試驗裝置HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL20KA型直流開關試驗裝置 地鐵直流開關試驗裝置HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 5年保修
地鐵直流開關試驗裝置HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 5年保修利用計算機控制技術和現(xiàn)代電力電子技術研究設計的一種大電流低電壓直生裝置,主要用于直流開關的檢測試驗,如直流開關大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關動作時間測試等,并自動記錄測試的有關數(shù)據(jù)。電機直接啟動危害及避免方式目前在工礦企業(yè)中使用著大量的交流異步電機,大部分電機均采用直接啟動的方式,這種啟動方式非常簡單,但是會帶來很大的危害。電網(wǎng)沖擊:過大的啟動電流(空載啟動電流可達額定電流的4~7倍,帶載啟動時可達8~10倍或更大),會造成電網(wǎng)電壓下降,影響其它用電設備的正常運行,還可能使欠壓保護動作,造成設備的有害跳閘。同時過大的啟動電流會使電機繞組發(fā)熱,從而加速絕緣老化,影響電機壽命。

地鐵直流開關試驗裝置HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 5年保修

應用:

    HNDL20KA型直流開關試驗裝置是專門設計用于對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設備,通過模擬輸出故障電流或過負荷電流,測試直流開關的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性,測試隔離放大器特性和保護裝置特性。在該模式下,可有效觀察到偶爾發(fā)生的窄脈寬,在捕獲高頻率的毛刺方面非常實用,可獲取信號的包絡或可能丟失的窄脈沖,使用峰值捕獲模式會使波形顯示的噪聲比較明顯。峰值捕獲模式平均捕獲模式個就是平均捕獲模式了,這個名字也非常容易理解,就是采集N屏信號,將它們在觸發(fā)位置對其,然后做平均運算。使用平均捕獲模式,在減小噪聲同時保持了原有的帶寬,將噪聲濾除有利于對信號進行測量。適用于觀測周期性重復信號,其濾波效果提升了示波器的垂直分辨率。

特點:

智能化及圖形顯示:HNDL20KA型直流開關試驗裝置由嵌入式微機系統(tǒng)控制,輸出電流的波形、幅值可通過人機界面準確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示,可方便計算、顯示直流開關的動作時間,并能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇:理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線,該曲線的幅值、時間常數(shù)可設定。

輸出準確:按預先設定的波形參數(shù)輸出,綜合誤差只有2%。模擬傳感器輸出的一般都是小信號,都存在小信號放大、處理、整形以及抗干擾問題,也就是將傳感器的微弱信號地放大到所需要的統(tǒng)一標準信號(如1VDC~5VDC或4mADC~20mADC),并達到所需要的技術指標。這就要求設計制作者必須注意到模擬傳感器電路圖上未表示出來的某些問題,即抗干擾問題。只有搞清楚模擬傳感器的干擾源以及干擾作用方式,設計出消除干擾的電路或預防干擾的措施,才能達到應用模擬傳感器的狀態(tài)。

測量及計時精度高:輸出電流、開關接點動作狀態(tài)通過測量回路測量并以圖形方式在顯示器上顯示,準確計算有關參數(shù),電流測量精度為2%,時間測量精度為1mS

保護電路完善:HNDL20KA型直流開關試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便:HNDL20KA型直流開關試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關主觸頭端子相連,注意不得隨意采用其它電纜。地鐵直流開關試驗裝置HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 5年保修

模塊化設計:HNDL20KA型直流開關試驗裝置采用模塊化設計,特別是2號柜的降壓整流輸出單元,每一個模塊的輸出電流為5000A,方便維護和使用。根據(jù)用戶需要,可定制10000A、15000A、20000A30000A、40000A等規(guī)格的直流開關試驗裝置(HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA)復雜系統(tǒng)的調(diào)試和驗證面臨許多測試技術挑戰(zhàn),包括捕獲和可視化多個不頻繁或間斷出現(xiàn)的事件,如串行數(shù)據(jù)包、激光脈沖和故障信號。為了準確地測量和表征這些信號,必須在長時間內(nèi)以高采樣率捕獲它們。示波器的默認采集模式因為其有限的記錄長度會強制在采樣率和捕獲時間進行妥協(xié)。使用更高的采樣率可以更快地填充儀器的內(nèi)存,減少數(shù)據(jù)采集的時間窗口。相反,捕獲長時間的數(shù)據(jù)通常是以犧牲水平時間分辨率(采樣率)為代價的。Fastframe?分段存儲模式讓您不用再從定時分辨率與捕獲時間之間做選擇。地鐵直流開關試驗裝置HNDL 大電流沖擊試驗裝置 容量大 5年保修

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