HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流斷路器試驗設(shè)備HNDL 大電流溫升試驗裝置 容量大 5年保修
利用計算機控制技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用于直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，并自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。用2443A峰值功率儀的通道1，配接8172L功率，使用峰值功率儀的觸發(fā)釋抑功能，測量信號發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖調(diào)制序列。具體操作步驟如下：步驟1.將8172L校零、校準后，接到信號發(fā)生器輸出端；步驟2.設(shè)置測量模式為峰值模式，將波形顯示在屏幕上；步驟3.設(shè)置觸發(fā)源為內(nèi)部觸發(fā)1，觸發(fā)電平為7dBm，上升沿觸發(fā)；步驟4.設(shè)置通道垂直刻度為5dB/格，垂直中心為dBm，顯示方式為對數(shù)；步驟5.設(shè)置時基為1us/格，得到多個周期脈沖信號的自動測量波形；步驟6.設(shè)置觸發(fā)釋抑時間為29us，如下圖所示，脈沖序列波形穩(wěn)定顯示。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用于對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。如果出現(xiàn)上述情況，請使用Normal模式。如何捕獲不能確定條件的異常信號？可以使用模板觸發(fā)來捕獲。當模板觸發(fā)打開之后，模板其實是作為一個圖層來的，它會不斷地檢測是否有波形會碰觸到模板的區(qū)域，當有波形觸碰到模板時，就會檢測到一個信號，進而就會把它過濾，顯示出來。示波器的通道是否隔離？示波器的通道不是隔離的；示波器的地與大地相連，不能直接與零線相連；加了隔離變壓器確實可以直接測量22V市電，但不是的做法，**正確的做法應(yīng)是使用差分。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機系統(tǒng)控制，輸出電流的波形、幅值可通過人機界面準確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，并能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準確：按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差只有2%。一根長為的鋼弦，當前所受張力為T，則其固有頻率為：式中d表示單位長度鋼弦的質(zhì)量。鋼弦的張力在被測軸受到的扭矩作用下產(chǎn)生變化，進而引起鋼弦振動頻率的變化，頻率的變化量通過磁電式變換器轉(zhuǎn)換為電信號。鋼弦與磁鋼間的間隙在鋼弦發(fā)生振動的情況下發(fā)生變化，從而磁路的磁阻發(fā)生了改變，進而感應(yīng)電動勢在線圈中產(chǎn)生，其頻率即鋼弦振動頻率，經(jīng)放大器放大后電壓信號被輸出測量。鋼弦法工作穩(wěn)定、性能可靠、測量精度高，對于船舶主機等可以快速地進行高質(zhì)量的測試。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量并以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特別是2號柜的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據(jù)用戶需要，可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低于設(shè)計標準，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池，組件在負偏壓下都有PID的風(fēng)險。