HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 地鐵直流大電流發(fā)生器HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修
利用計算機控制技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用于直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，并自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。與此同時，一批光譜儀器也在寶石鑒定方面有著越來越廣泛的應(yīng)用。紅外光譜儀、拉曼光譜儀、電子探針儀、X光粉晶衍射儀也可以對翡翠進行無損和微區(qū)微量。比如，紅外光譜是鑒定翡翠“B貨”的常用方法；拉曼光譜可通過檢測翡翠內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和物質(zhì)，分辨“B貨”、“C貨”和“B+C貨”。幾類儀器的綜合使用，往往可以保證翡翠鑒定結(jié)果的準確、可靠。不過，由于上述科學儀器，尤其是顯微鏡和光譜儀器價格不菲，因此并非所有機構(gòu)、部門或者個人都可以配備。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用于對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。對動態(tài)測試要求比較高的，應(yīng)確認電流斜率是否滿足測試要求。一般而言滿量程電流爬升時間越小，動態(tài)性能越優(yōu)越。對測試環(huán)境比較惡劣的，應(yīng)當選擇環(huán)路帶寬比較高的負載，一般而言，滿量程電流爬升時間越小，環(huán)路帶寬越高，惡劣條件下的表現(xiàn)越優(yōu)越，可靠性也越高。對智能應(yīng)用及自動化測試要求比較高的用戶，應(yīng)當選擇高采樣率的負載，高采樣率才能保證輸入信號的還原、保證應(yīng)用的、為智能應(yīng)用的擴展提供條件。全天科技大功率直流電子負載系列采用5Khz同步采樣技術(shù)，可以測量顯示瞬態(tài)過沖Vp+、瞬態(tài)跌落Vp-、電源上升/下降時間等一般負載無法提供的功能。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機系統(tǒng)控制，輸出電流的波形、幅值可通過人機界面準確控制。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，并能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準確：按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差只有2%。更壞的情況是查不出確切的原因，使用戶誤認為是產(chǎn)品質(zhì)量問題而損壞企業(yè)信譽。一般情況下，對此類設(shè)備暴露在外面可能與接觸的端口都要求進行防靜電保護，如鍵盤、電源接口、數(shù)據(jù)口、I/O口等等?，F(xiàn)在比較通用的ESD標準是IEC61-4-2，應(yīng)用靜電模式，測試電壓的范圍為2kV～15kV(空氣放電)，峰值電流為2A/ns，整個脈沖持續(xù)時間不超過6ns。在這樣的脈沖下所產(chǎn)生的能量總共不超過幾百個微焦爾，但卻足以損壞敏感元器件。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量并以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特別是2號柜的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據(jù)用戶需要，可定制10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）諸如穩(wěn)定性、增益壓縮、功率效率和失真測量越來越引起工程師們的重視。基于3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)儀的大功率輸出（部分頻段典型值+17dBm）和豐富的先進校準技術(shù)（包括源和接收機功率校準，SOLT，TRL，非插入校準和Ecal等）開發(fā)的放大器增益壓縮測量選件，所采用的二維掃描技術(shù)克服了傳統(tǒng)測量方法只能點頻測量的缺陷，地提高了測量效率，通過功率校準和誤差修正，使測量結(jié)果更加準確。僅需一次設(shè)置，經(jīng)過向?qū)剩B接被測件，就可以得到放大器在所有設(shè)置頻點的增益壓縮參數(shù)和線性參數(shù)。